公开(公告)号：CN103415766B

公开(公告)日：2015-07-22

申请号：CN201280010736.6

申请日：2012-04-03

Applicant: 株式会社理学

Inventor： 片冈由行 ,  井上央 ,  川久航介

IPC: G01N23/223

CPC classification number: G01N23/223 ,  G01N23/2076 ,  G01N2223/076

Abstract: 本发明涉及一种波长色散型荧光X射线分析装置，其中，计数损失补偿机构(11)在根据检测器(7)的无感时间对通过计数机构(10)而求出的脉冲的计数率进行补偿时，预先存储通过波高分选器(9)而分选的规定的波高范围和无感时间的相关性，根据该已存储的相关性，按照与测定时的规定的波高范围相对应的方式确定上述无感时间。

公开(公告)号：CN103415766A

公开(公告)日：2013-11-27

申请号：CN201280010736.6

申请日：2012-04-03

Applicant: 株式会社理学

Inventor： 片冈由行 ,  井上央 ,  川久航介

IPC: G01N23/223

CPC classification number: G01N23/223 ,  G01N23/2076 ,  G01N2223/076

Abstract: 本发明涉及一种波长色散型荧光X射线分析装置，其中，计数损失补偿机构(11)在根据检测器(7)的无感时间对通过计数机构(10)而求出的脉冲的计数率进行补偿时，预先存储通过波高分选器(9)而分选的规定的波高范围和无感时间的相关性，根据该已存储的相关性，按照与测定时的规定的波高范围相对应的方式确定上述无感时间。