公开(公告)号：CN110312928B

公开(公告)日：2021-03-26

申请号：CN201880012059.9

申请日：2018-03-14

Applicant: 株式会社理学

Inventor： 片冈由行 ,  川久航介

IPC: G01N23/223 ,  G01N23/207

Abstract: 在基于FP法的荧光X射线分析方法中，在用于求出灵敏度常数的标准试样理论强度计算步骤以及反复计算之中的未知试样理论强度计算步骤中使用的预定的理论强度式方面，仅仅对于与X射线的吸收相关的吸收项，按照使得全部成分的浓度比的合计成为1的方式将各成分的浓度比进行标准化。

公开(公告)号：CN110312928A

公开(公告)日：2019-10-08

申请号：CN201880012059.9

申请日：2018-03-14

Applicant: 株式会社理学

Inventor： 片冈由行 ,  川久航介

IPC: G01N23/223 ,  G01N23/207

Abstract: 在基于FP法的荧光X射线分析方法中，在用于求出灵敏度常数的标准试样理论强度计算步骤以及反复计算之中的未知试样理论强度计算步骤中使用的预定的理论强度式方面，仅仅对于与X射线的吸收相关的吸收项，按照使得全部成分的浓度比的合计成为1的方式将各成分的浓度比进行标准化。

公开(公告)号：CN103415766B

公开(公告)日：2015-07-22

申请号：CN201280010736.6

申请日：2012-04-03

Applicant: 株式会社理学

Inventor： 片冈由行 ,  井上央 ,  川久航介

IPC: G01N23/223

CPC classification number: G01N23/223 ,  G01N23/2076 ,  G01N2223/076

Abstract: 本发明涉及一种波长色散型荧光X射线分析装置，其中，计数损失补偿机构(11)在根据检测器(7)的无感时间对通过计数机构(10)而求出的脉冲的计数率进行补偿时，预先存储通过波高分选器(9)而分选的规定的波高范围和无感时间的相关性，根据该已存储的相关性，按照与测定时的规定的波高范围相对应的方式确定上述无感时间。

公开(公告)号：CN104076050A

公开(公告)日：2014-10-01

申请号：CN201410109755.5

申请日：2014-03-24

Applicant: 株式会社理学

Inventor： 迫幸雄 ,  川久航介

IPC: G01N23/223

CPC classification number: G01T1/16 ,  G01T1/40 ,  G01T7/00

Abstract: 本发明涉及一种X射线分析装置，其包括：第1补偿机构(13A、13B)，该第1补偿机构(13A、13B)基于通过计数机构(10A、10B)所求得的计数率的总数，推测出通过计数机构(10A、10B)得到的能量谱中的波峰位置，并输出初始值，该初始值是用于将该推测出的波峰位置与基准位置一致化的增益值；第2补偿机构(14A、14B)，该第2补偿机构(14A、14B)在通过计数机构(10A、10B)得到的能量谱中，在包括基准位置的规定的能量范围内检测波峰位置，输出动态增益补偿值，该动态增益补偿值是用于将该检测出的波峰位置与基准位置一致化的增益值。

公开(公告)号：CN103415766A

公开(公告)日：2013-11-27

申请号：CN201280010736.6

申请日：2012-04-03

Applicant: 株式会社理学

Inventor： 片冈由行 ,  井上央 ,  川久航介

IPC: G01N23/223

CPC classification number: G01N23/223 ,  G01N23/2076 ,  G01N2223/076

Abstract: 本发明涉及一种波长色散型荧光X射线分析装置，其中，计数损失补偿机构(11)在根据检测器(7)的无感时间对通过计数机构(10)而求出的脉冲的计数率进行补偿时，预先存储通过波高分选器(9)而分选的规定的波高范围和无感时间的相关性，根据该已存储的相关性，按照与测定时的规定的波高范围相对应的方式确定上述无感时间。