公开(公告)号：CN209570528U

公开(公告)日：2019-11-01

申请号：CN201822128961.7

申请日：2018-12-18

Applicant: 株式会社理学

Inventor： 井上稔

IPC: G01N23/223

Abstract: 本实用新型提供一种无需在试料架与用于荧光X射线分析装置的夹具之间转移试料的用于荧光X射线分析装置的夹具。用于荧光X射线分析装置的夹具，为与荧光X射线分析装置共用在中央处具有供试料配置的凹部或者孔的X射线衍射装置的试料架的夹具，具备：基座部件，其具有与所述试料架的下表面抵接的第一上表面、和以在与所述第一上表面之间具有高低差的方式而形成的第二上表面；以及环，其具有所述试料架的外侧侧面以及设置有所述高低差的区域的外侧侧面与内侧侧面抵接的圆筒部、和被设置在所述圆筒部的下端部并与所述第二上表面抵接的法兰，并且在与所述试料架以及所述基座部件之间夹入对所述试料的表面进行覆盖的薄膜。

公开(公告)号：CN109642881B

公开(公告)日：2021-03-05

申请号：CN201880003006.0

申请日：2018-03-09

Applicant: 株式会社理学

Inventor： 松田涉 ,  井上稔

IPC: G01N23/223 ,  G01N1/28

Abstract: 本发明提供一种X射线荧光分析装置用的试样夹持器，其当利用上照射型的X射线荧光分析装置进行测定时能够对少量且无法滴干的液体状试样进行测定。X射线荧光分析装置用的试样夹持器具有第一基板和第二基板，其中，所述第一基板具有：支持基板，其具有配置液体状试样的孔；第一树脂薄膜，其粘结在该支持基板的X射线入射侧的表面上以覆盖该孔；以及粘结层，其设置在该支持基板的粘结有该第一树脂薄膜的表面的背面，所述第二基板具有：固定基板，其在与所述支持基板所具有的孔的对应位置上具有孔；以及第二树脂薄膜，其粘结在该固定基板的所述X射线入射侧的表面上，并且所述第二基板通过所述粘结层与所述第一基板粘结。

公开(公告)号：CN114166879A

公开(公告)日：2022-03-11

申请号：CN202110952996.6

申请日：2021-08-19

Applicant: 株式会社理学

Inventor： 井上稔

IPC: G01N23/223

Abstract: 本发明提供一种制作荧光X射线分析装置用玻璃珠的方法。在本发明中，使用硼酸锂系助熔剂来制作经时劣化小的玻璃珠。在该制作荧光X射线分析装置用玻璃珠的方法中，将测定对象的材料与碱土类金属的氧化物一起熔解于硼酸锂系助熔剂来制作玻璃珠。

公开(公告)号：CN109642881A

公开(公告)日：2019-04-16

申请号：CN201880003006.0

申请日：2018-03-09

Applicant: 株式会社理学

Inventor： 松田涉 ,  井上稔

IPC: G01N23/223 ,  G01N1/28

Abstract: 本发明提供一种X射线荧光分析装置用的试样夹持器，其当利用上照射型的X射线荧光分析装置进行测定时能够对少量且无法滴干的液体状试样进行测定。X射线荧光分析装置用的试样夹持器具有第一基板和第二基板，其中，所述第一基板具有：支持基板，其具有配置液体状试样的孔；第一树脂薄膜，其粘结在该支持基板的X射线入射侧的表面上以覆盖该孔；以及粘结层，其设置在该支持基板的粘结有该第一树脂薄膜的表面的背面，所述第二基板具有：固定基板，其在与所述支持基板所具有的孔的对应位置上具有孔；以及第二树脂薄膜，其粘结在该固定基板的所述X射线入射侧的表面上，并且所述第二基板通过所述粘结层与所述第一基板粘结。

公开(公告)号：CN114166879B

公开(公告)日：2023-09-26

申请号：CN202110952996.6

申请日：2021-08-19

Applicant: 株式会社理学

Inventor： 井上稔

IPC: G01N23/223

Abstract: 本发明提供一种制作荧光X射线分析装置用玻璃珠的方法。在本发明中，使用硼酸锂系助熔剂来制作经时劣化小的玻璃珠。在该制作荧光X射线分析装置用玻璃珠的方法中，将测定对象的材料与碱土类金属的氧化物一起熔解于硼酸锂系助熔剂来制作玻璃珠。