峰鉴别分析程序及X射线荧光分析装置

    公开(公告)号:CN118043652A

    公开(公告)日:2024-05-14

    申请号:CN202280065516.7

    申请日:2022-07-08

    Abstract: 本发明的目的在于容易进行X射线荧光光谱的鉴别分析和分析结果的验证。一种峰鉴别分析程序使用于X射线荧光分析装置的计算机执行:光谱取得步骤;指定信息取得步骤;第一列表显示步骤,其将基于所指定的角度或能量而确定的一个或多个元素及线型的一览表显示为表示X射线荧光光谱所包含的峰的X射线荧光的候选的第一列表;第一列表接受步骤,其从用户接受第一列表中包含的一个或多个元素及线型中的至少一部分的指定;以及显示更新步骤,其在显示了第一列表的状态下,显示在第一列表中指定的元素及线型是指定的状态,并将所指定的元素及线型和该元素的其他线型出现的角度或能量的一览表显示为第二列表。

    X射线荧光分析装置用的试样夹持器、试样夹持器制作夹具和X射线荧光分析装置用的试样制作方法

    公开(公告)号:CN109642881B

    公开(公告)日:2021-03-05

    申请号:CN201880003006.0

    申请日:2018-03-09

    Inventor: 松田涉 井上稔

    Abstract: 本发明提供一种X射线荧光分析装置用的试样夹持器,其当利用上照射型的X射线荧光分析装置进行测定时能够对少量且无法滴干的液体状试样进行测定。X射线荧光分析装置用的试样夹持器具有第一基板和第二基板,其中,所述第一基板具有:支持基板,其具有配置液体状试样的孔;第一树脂薄膜,其粘结在该支持基板的X射线入射侧的表面上以覆盖该孔;以及粘结层,其设置在该支持基板的粘结有该第一树脂薄膜的表面的背面,所述第二基板具有:固定基板,其在与所述支持基板所具有的孔的对应位置上具有孔;以及第二树脂薄膜,其粘结在该固定基板的所述X射线入射侧的表面上,并且所述第二基板通过所述粘结层与所述第一基板粘结。

    荧光X射线分析装置
    3.
    发明授权

    公开(公告)号:CN117460950B

    公开(公告)日:2024-12-27

    申请号:CN202280040950.X

    申请日:2022-03-14

    Abstract: 本发明的X射线荧光分析装置包括使用FP方法的定量机构(13),该定量机构(13)进行:强度比装置灵敏度曲线制作步骤,其中,制作强度比装置灵敏度曲线,该强度比装置灵敏度曲线为作为对比主成分的测定强度与基准主成分的测定强度之比的测定强度比、与作为对比主成分的理论强度与基准主成分的理论强度之比的理论强度比之间的相关性;强度比换算步骤,其中,基于上述强度比装置灵敏度曲线,将上述测定强度比换算为理论强度标度,作为换算测定强度比;含有率比更新步骤,其中,基于换算测定强度比来更新含有率比,上述含有率比是对比主成分的含有率与基准主成分的含有率之比;以及含有率更新步骤,其中,基于最新的含有率比来更新各成分的含有率。

    X射线荧光分析装置用的试样夹持器、试样夹持器制作夹具和X射线荧光分析装置用的试样制作方法

    公开(公告)号:CN109642881A

    公开(公告)日:2019-04-16

    申请号:CN201880003006.0

    申请日:2018-03-09

    Inventor: 松田涉 井上稔

    Abstract: 本发明提供一种X射线荧光分析装置用的试样夹持器,其当利用上照射型的X射线荧光分析装置进行测定时能够对少量且无法滴干的液体状试样进行测定。X射线荧光分析装置用的试样夹持器具有第一基板和第二基板,其中,所述第一基板具有:支持基板,其具有配置液体状试样的孔;第一树脂薄膜,其粘结在该支持基板的X射线入射侧的表面上以覆盖该孔;以及粘结层,其设置在该支持基板的粘结有该第一树脂薄膜的表面的背面,所述第二基板具有:固定基板,其在与所述支持基板所具有的孔的对应位置上具有孔;以及第二树脂薄膜,其粘结在该固定基板的所述X射线入射侧的表面上,并且所述第二基板通过所述粘结层与所述第一基板粘结。

    荧光X射线分析装置
    5.
    发明公开

    公开(公告)号:CN117460950A

    公开(公告)日:2024-01-26

    申请号:CN202280040950.X

    申请日:2022-03-14

    Abstract: 本发明的X射线荧光分析装置包括使用FP方法的定量机构(13),该定量机构(13)进行:强度比装置灵敏度曲线制作步骤,其中,制作强度比装置灵敏度曲线,该强度比装置灵敏度曲线为作为对比主成分的测定强度与基准主成分的测定强度之比的测定强度比、与作为对比主成分的理论强度与基准主成分的理论强度之比的理论强度比之间的相关性;强度比换算步骤,其中,基于上述强度比装置灵敏度曲线,将上述测定强度比换算为理论强度标度,作为换算测定强度比;含有率比更新步骤,其中,基于换算测定强度比来更新含有率比,上述含有率比是对比主成分的含有率与基准主成分的含有率之比;以及含有率更新步骤,其中,基于最新的含有率比来更新各成分的含有率。

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