公开(公告)号：CN107543836B

公开(公告)日：2021-10-26

申请号：CN201710491214.7

申请日：2017-06-23

Applicant: 株式会社理学

Inventor： 小中尚 ,  姫田章宏 ,  光永彻 ,  长尾圭吾

IPC: G01N23/20

Abstract: 本发明提供处理方法、处理装置以及处理程序，能够通过较少次数的φ扫描以极像图的α无重复的方式连续地进行极图测定，从而能够进行高效的测定。在决定基于X射线衍射的极图测定的条件的处理方法中，包括如下步骤：接受衍射角2θ的输入的步骤；针对样本面内的旋转角φ决定各φ扫描中的入射X射线与x轴所成的角ω以及样本的摇摆倾斜角χ的步骤，以使得在所输入的2θ下的极图测定中，在二维的检测面230a中一次所能够检测到的散射矢量与样本面所成的角α的范围从α＝90°向α＝0°无重复地连续，反复进行ω以及χ的决定。

公开(公告)号：CN107543836A

公开(公告)日：2018-01-05

申请号：CN201710491214.7

申请日：2017-06-23

Applicant: 株式会社理学

Inventor： 小中尚 ,  姫田章宏 ,  光永彻 ,  长尾圭吾

IPC: G01N23/20

CPC classification number: G01N23/2055 ,  G01N23/205 ,  G01N23/207

Abstract: 本发明提供处理方法、处理装置以及处理程序，能够通过较少次数的φ扫描以极像图的α无重复的方式连续地进行极图测定，从而能够进行高效的测定。在决定基于X射线衍射的极图测定的条件的处理方法中，包括如下步骤：接受衍射角2θ的输入的步骤；针对样本面内的旋转角φ决定各φ扫描中的入射X射线与x轴所成的角ω以及样本的摇摆倾斜角χ的步骤，以使得在所输入的2θ下的极图测定中，在二维的检测面230a中一次所能够检测到的散射矢量与样本面所成的角α的范围从α＝90°向α＝0°无重复地连续，反复进行ω以及χ的决定。