公开(公告)号：CN112986291A

公开(公告)日：2021-06-18

申请号：CN202011435523.0

申请日：2020-12-10

Applicant: 株式会社理学

Inventor： 小林信太郎 ,  稻叶克彦 ,  小中尚

IPC: G01N23/20016 ,  G01N23/20025

Abstract: 本发明提供一种控制装置、系统、方法以及程序，有效利用衍射计的测角器所具备的轴，即便不具有特别的轴结构，也能够进行伴随轴的精密的入射角度的控制。控制装置对试样的姿势进行控制，其具备：输入部，接受表示试样相对于轴的倾斜的倾斜信息的输入；调整量决定部，使用倾斜信息，决定用于相对于变化的值来对试样面法线或者晶格面法线与散射矢量的偏离量进行修正的ω值以及χ值的调整量；和驱动指示部，在X射线衍射测定时，基于所决定的ω值以及χ值的调整量，与试样的轴旋转相应地驱动测角器。这样，能够将消除不受轴的旋转的影响的试样的倾斜角度的调整角度，变换为独立于轴旋转的ω值以及χ值的调整量。

公开(公告)号：CN116593509A

公开(公告)日：2023-08-15

申请号：CN202310104474.X

申请日：2023-02-13

Applicant: 株式会社理学

Inventor： 小中尚

IPC: G01N23/207 ,  G01N23/20008

Abstract: 根据本发明的一个方面，提供了一种X射线衍射装置。X射线衍射装置包括X射线源、试样台、检测器、狭缝部件。X射线源构成为对试样照射X射线。试样台构成为能够设置试样以使X射线衍射。检测器构成为利用检测带以一维方式检测作为衍射后的X射线的衍射X射线。狭缝部件设置在试样台和检测器之间，并且具有衍射X射线能够通过的狭缝。狭缝的长边方向的轴与检测带的长边方向的轴平行。

公开(公告)号：CN107543836B

公开(公告)日：2021-10-26

申请号：CN201710491214.7

申请日：2017-06-23

Applicant: 株式会社理学

Inventor： 小中尚 ,  姫田章宏 ,  光永彻 ,  长尾圭吾

IPC: G01N23/20

Abstract: 本发明提供处理方法、处理装置以及处理程序，能够通过较少次数的φ扫描以极像图的α无重复的方式连续地进行极图测定，从而能够进行高效的测定。在决定基于X射线衍射的极图测定的条件的处理方法中，包括如下步骤：接受衍射角2θ的输入的步骤；针对样本面内的旋转角φ决定各φ扫描中的入射X射线与x轴所成的角ω以及样本的摇摆倾斜角χ的步骤，以使得在所输入的2θ下的极图测定中，在二维的检测面230a中一次所能够检测到的散射矢量与样本面所成的角α的范围从α＝90°向α＝0°无重复地连续，反复进行ω以及χ的决定。

公开(公告)号：CN107543836A

公开(公告)日：2018-01-05

申请号：CN201710491214.7

申请日：2017-06-23

Applicant: 株式会社理学

Inventor： 小中尚 ,  姫田章宏 ,  光永彻 ,  长尾圭吾

IPC: G01N23/20

CPC classification number: G01N23/2055 ,  G01N23/205 ,  G01N23/207

Abstract: 本发明提供处理方法、处理装置以及处理程序，能够通过较少次数的φ扫描以极像图的α无重复的方式连续地进行极图测定，从而能够进行高效的测定。在决定基于X射线衍射的极图测定的条件的处理方法中，包括如下步骤：接受衍射角2θ的输入的步骤；针对样本面内的旋转角φ决定各φ扫描中的入射X射线与x轴所成的角ω以及样本的摇摆倾斜角χ的步骤，以使得在所输入的2θ下的极图测定中，在二维的检测面230a中一次所能够检测到的散射矢量与样本面所成的角α的范围从α＝90°向α＝0°无重复地连续，反复进行ω以及χ的决定。