公开(公告)号：CN101290805A

公开(公告)日：2008-10-22

申请号：CN200810091075.X

申请日：2008-04-16

Applicant: 株式会社瑞萨科技

Inventor： 斋藤达也 ,  山崎枢 ,  铃木岩 ,  备后武士 ,  堀江启一

IPC: G11C29/12 ,  G11C29/18

CPC classification number: G11C29/16 ,  G11C29/1201 ,  G11C2029/3602

Abstract: 降低了能够访问外部存储器的电路的测试设计成本。包括内置自测电路，用于响应于对能够连接到存储器接口的外部存储器的访问请求，独立于用于执行存储器控制的存储器控制器，测试外部存储器，以及TAP控制器用于控制内置自测电路并参考测试结果。采用多路复用器来根据通过TAP控制器从外部输入的控制信息可切换地选择存储器控制器或内置自测电路作为用于连接到存储器接口的电路。内置自测电路根据通过TAP控制器输入的指令可编程地生成和输出用于存储器测试的图案，并将从外部存储器读取的数据与预期值进行比较。