公开(公告)号：CN1109897C

公开(公告)日：2003-05-28

申请号：CN98100425.3

申请日：1998-02-17

Applicant: 株式会社鼎新

Inventor： 罗伯特·F·索尔 ,  福岛清 ,  矢元裕明

IPC: G01R31/26 ,  G06F9/455

CPC classification number: G06F11/261 ,  G01R31/31917

Abstract: 半导体测试系统中的仿真器，测试系统与参照周期同步地作用一测试信号在测试的半导体器件上及比较结果输出与期望数据来确定半导体器件工作是否正确。仿真器包括仿真测试系统各硬件单元的功能的仿真器单元、仿真待测试半导体器件的功能的器件仿真器、从仿真器单元取得执行测试程序必需的数据的数据采集部件、及根据取得的数据生成作用在器件仿真器上的测试信号及将结果信号与期望数据比较并将比较结果存储在其中的器件测试仿真器。

公开(公告)号：CN1195776A

公开(公告)日：1998-10-14

申请号：CN98100425.3

申请日：1998-02-17

Applicant: 株式会社鼎新

Inventor： 罗伯特·F·索尔 ,  福岛清 ,  矢元裕明

IPC: G01R31/26

CPC classification number: G06F11/261 ,  G01R31/31917

Abstract: 半导体测试系统中的仿真器,测试系统与参照周期同步地作用一测试信号在测试的半导体器件上及比较结果输出与期望数据来确定半导体器件工作是否正确。仿真器包括仿真测试系统各硬件单元的功能的仿真器单元、仿真待测试半导体器件的功能的器件仿真器、从仿真器单元取得执行测试程序必需的数据的数据采集部件、及根据取得的数据生成作用在器件仿真器上的测试信号及将结果信号与期望数据比较并将比较结果存储在其中的器件测试仿真器。