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公开(公告)号：CN1376931A
公开(公告)日：2002-10-30
申请号：CN01110010.9
申请日：2001-03-22
Applicant: 株式会社鼎新
Inventor： 詹姆斯·艾伦·特恩奎斯特 , 菅森茂 , 罗斯特·赖什曼 , 矢元裕明
Abstract: 一种用于测试被测试电子装置(DUT)的基于事件的测试系统,该系统包括事件存储器,用来存储由基准时钟周期的整数倍数和分数倍数形成的每个事件的定时数据,其中,该定时数据表示一个当前事件和一个基准点之间的时间差;地址序列器,用来产生访问该事件存储器用的地址数据;用来产生一个事件启动信号的定时计数逻辑电路;事件产生单元,用于基于该事件启动信号和表示该基准时钟周期的分数倍数的数据来产生每个事件;和一主机。
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公开(公告)号：CN1293503C
公开(公告)日：2007-01-03
申请号：CN01115546.9
申请日：2001-04-27
Applicant: 株式会社鼎新
Abstract: 一种精确度高、速度快、费用低的校验SoC设计方法和装置。该装置允许使用一种方法，该方法包括步骤：校验SoC中的各集成核芯；使用各核芯的硅IC和核芯供应商提供的模拟测试台；通过使用SoC设计者研制的模拟测试台和附带逻辑的FPGA/仿真器来校验各核芯间的接口、核芯的片上总线和附带逻辑；校验核芯间的定时和SoC定时临界路线；以及通过使用整体SoC的模拟测试台和应用程序来执行整体设计校验。
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公开(公告)号：CN1195776A
公开(公告)日：1998-10-14
申请号：CN98100425.3
申请日：1998-02-17
Applicant: 株式会社鼎新
IPC: G01R31/26
CPC classification number: G06F11/261 , G01R31/31917
Abstract: 半导体测试系统中的仿真器,测试系统与参照周期同步地作用一测试信号在测试的半导体器件上及比较结果输出与期望数据来确定半导体器件工作是否正确。仿真器包括仿真测试系统各硬件单元的功能的仿真器单元、仿真待测试半导体器件的功能的器件仿真器、从仿真器单元取得执行测试程序必需的数据的数据采集部件、及根据取得的数据生成作用在器件仿真器上的测试信号及将结果信号与期望数据比较并将比较结果存储在其中的器件测试仿真器。
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公开(公告)号：CN1303668C
公开(公告)日：2007-03-07
申请号：CN01136071.2
申请日：2001-09-29
Applicant: 株式会社鼎新
CPC classification number: G01R31/318314 , G06F11/261 , G06F17/5022
Abstract: 本发明提供了一种利用电子设计自动化(EDA)工具和设计测试站的组合体、高速和低成本地验证复合集成电路的设计的方法。EDA工具和器件模拟器与基于事件的测试系统连接，以便执行原始设计模拟向量和测试台并对测试台和基于事件的测试向量进行修改，一直到得到满意的结果为止。由于EDA工具与基于事件的测试系统连接，因此这些修改被捕获，从而产生提供满意结果的最终测试台。
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公开(公告)号：CN1244820C
公开(公告)日：2006-03-08
申请号：CN01110010.9
申请日：2001-03-22
Applicant: 株式会社鼎新
Inventor： 詹姆斯·艾伦·特恩奎斯特 , 菅森茂 , 罗基特·赖什曼 , 矢元裕明
Abstract: 一种基于事件的测试系统，包括：事件存储器，用来存储由定时数据和事件类型数据构成的事件数据，其中定时数据是由作为整数部分数据的基准时钟周期的整数倍数和作为分数部分数据的该基准时钟周期的分数倍数形成，事件类型数据代表每个事件的类型，定时数据是当前事件和预先设定的基准点之间的时间差；地址序列器，用来产生访问事件存储器以从中读出定时数据的地址数据；定时计数逻辑电路，用来产生被延迟的事件启动信号，延迟的时间为该整数部分数据与该基准时钟周期相乘而得的时间；事件产生单元，其根据事件启动信号、事件类型数据和分数部分数据来产生每个事件；和主机，用于控制所述基于事件的测试系统的整个操作。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN1383200A
公开(公告)日：2002-12-04
申请号：CN01115546.9
申请日：2001-04-27
Applicant: 株式会社鼎新
Abstract: 一种精确度高、速度快、费用低的校验SoC设计方法和装置。该装置允许使用一种方法,该方法包括步骤:校验SoC中的各集成核芯;使用各核芯的硅IC和核芯供应商提供的模拟测试台;通过使用SoC设计者研制的模拟测试台和附带逻辑的FPGA/仿真器来校验各核芯间的接口、核芯的片上总线和附带逻辑;校验核芯间的定时和SoC定时临界路线;以及通过使用整体SoC的模拟测试台和应用程序来执行整体设计校验。
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公开(公告)号：CN1334466A
公开(公告)日：2002-02-06
申请号：CN01115729.1
申请日：2001-05-31
Applicant: 株式会社鼎新
CPC classification number: G01R31/31915
Abstract: 一种具有模块化结构的基于事件的测试系统,用于同时测试多个半导体器件,包括存储器和逻辑器件。该基于事件的测试系统检测被测存储器中的功能故障及物理故障。该基于事件的测试系统包括两个或多个测试器模块,每一模块具有多个引脚单元;一个用于容纳两个或多个测试器模块的主机;一个用于电连接测试器模块和被测器件的测试固定装置;一个用于控制该测试系统的整体运行的主计算机;及一个用于存储算法测试模式库与用于产生存储器测试模式的软件工具的数据存储器,该测试模式用于测试嵌入被测器件中的存储器或独立存储器。每一个测试器模块相互独立地工作。在测试存储器前,通过主计算机指定存储器测试算法和被测存储器的相关信息。
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公开(公告)号：CN1243251C
公开(公告)日：2006-02-22
申请号：CN01115729.1
申请日：2001-05-31
Applicant: 株式会社鼎新
CPC classification number: G01R31/31915
Abstract: 一种具有模块化结构的基于事件的测试系统，用于同时测试多个半导体器件，包括存储器和逻辑器件。该基于事件的测试系统检测被测存储器中的功能故障及物理故障。该基于事件的测试系统包括两个或多个测试器模块，每一模块具有多个引脚单元；一个用于容纳两个或多个测试器模块的主机；一个用于电连接测试器模块和被测器件的测试固定装置；一个用于控制该测试系统的整体运行的主计算机；及一个用于存储算法测试模式库与用于产生存储器测试模式的软件工具的数据存储器，该测试模式用于测试嵌入被测器件中的存储器或独立存储器。每一个测试器模块相互独立地工作。在测试存储器前，通过主计算机指定存储器测试算法和被测存储器的相关信息。
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公开(公告)号：CN1496527A
公开(公告)日：2004-05-12
申请号：CN02806636.7
申请日：2002-03-13
Applicant: 株式会社鼎新
IPC: G06F17/50
CPC classification number: G06F17/5027 , G01R31/318357 , G06F11/261
Abstract: 一种通过使用事件测试器和现场可编程门阵列(FPGA)或仿真器板的组合，用于对复杂IC的设计进行校验的方法和装置。该设计校验方法消除了在当今设计校验中成为瓶颈的逻辑模拟。因为从设计校验流程中消除了较慢的模拟，因此在设计出样用于制造之前能完成大范围设计校验，而且由于大范围设计校验变为可能，所以消除了批量生产前对原型的需要。
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公开(公告)号：CN1109897C
公开(公告)日：2003-05-28
申请号：CN98100425.3
申请日：1998-02-17
Applicant: 株式会社鼎新
CPC classification number: G06F11/261 , G01R31/31917
Abstract: 半导体测试系统中的仿真器，测试系统与参照周期同步地作用一测试信号在测试的半导体器件上及比较结果输出与期望数据来确定半导体器件工作是否正确。仿真器包括仿真测试系统各硬件单元的功能的仿真器单元、仿真待测试半导体器件的功能的器件仿真器、从仿真器单元取得执行测试程序必需的数据的数据采集部件、及根据取得的数据生成作用在器件仿真器上的测试信号及将结果信号与期望数据比较并将比较结果存储在其中的器件测试仿真器。
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