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公开(公告)号：CN1376931A
公开(公告)日：2002-10-30
申请号：CN01110010.9
申请日：2001-03-22
Applicant: 株式会社鼎新
Inventor： 詹姆斯·艾伦·特恩奎斯特 , 菅森茂 , 罗斯特·赖什曼 , 矢元裕明
Abstract: 一种用于测试被测试电子装置(DUT)的基于事件的测试系统,该系统包括事件存储器,用来存储由基准时钟周期的整数倍数和分数倍数形成的每个事件的定时数据,其中,该定时数据表示一个当前事件和一个基准点之间的时间差;地址序列器,用来产生访问该事件存储器用的地址数据;用来产生一个事件启动信号的定时计数逻辑电路;事件产生单元,用于基于该事件启动信号和表示该基准时钟周期的分数倍数的数据来产生每个事件;和一主机。
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