公开(公告)号：CN102246471A

公开(公告)日：2011-11-16

申请号：CN200980149135.1

申请日：2009-05-29

Applicant: 爱德万测试株式会社

Inventor： 石川慎一 ,  杉村一 ,  基石优 ,  中山浩康 ,  津藤胜

IPC: H04L12/56 ,  H04L12/26

CPC classification number: H04L43/50 ,  G01R31/2834

Abstract: 本发明提供一种测试装置，是测试被测试装置的测试装置，包括：取得部，从对被测试器件的动作进行模拟的模拟环境中取得与被测试器件之间进行通信的数据包列；数据包通信程序生成部，根据数据包列生成测试用的数据包通信程序，所述测试用的数据包通信程序由该测试装置执行，并进行与被测试器件之间的数据包列中所包含的数据包的通信，以及测试部，执行数据包通信程序，与被测试器件之间进行数据包通信的测试。

公开(公告)号：CN102239682A

公开(公告)日：2011-11-09

申请号：CN200980148900.8

申请日：2009-12-03

Applicant: 爱德万测试株式会社

Inventor： 基石优 ,  中山浩康 ,  津藤胜

IPC: H04L29/14

CPC classification number: H04L43/50 ,  G01R31/2834

Abstract: 本发明公开了一种测试装置，是测试被测试器件的测试装置，其包括：高位序列器，其执行用于测试所述被测试器件的测试程序，并依次指定与被测试器件之间进行通讯的各数据包；包数据列存储部，用于存储多种数据包中每个数据包里所包含的数据列；低位序列器，从包数据列存储部读出由高位序列器指定的数据包的数据列，生成与被测试器件之间的测试用的测试数据列。