公开(公告)号：CN102239682A

公开(公告)日：2011-11-09

申请号：CN200980148900.8

申请日：2009-12-03

Applicant: 爱德万测试株式会社

Inventor： 基石优 ,  中山浩康 ,  津藤胜

IPC: H04L29/14

CPC classification number: H04L43/50 ,  G01R31/2834

Abstract: 本发明公开了一种测试装置，是测试被测试器件的测试装置，其包括：高位序列器，其执行用于测试所述被测试器件的测试程序，并依次指定与被测试器件之间进行通讯的各数据包；包数据列存储部，用于存储多种数据包中每个数据包里所包含的数据列；低位序列器，从包数据列存储部读出由高位序列器指定的数据包的数据列，生成与被测试器件之间的测试用的测试数据列。

公开(公告)号：CN102150056B

公开(公告)日：2013-08-14

申请号：CN200980135447.7

申请日：2009-09-10

Applicant: 爱德万测试株式会社

Inventor： 基石优 ,  秋田德则

IPC: G06F11/22 ,  G01R31/3183

CPC classification number: G01R31/318385 ,  G01R31/31813 ,  G01R31/31919

Abstract: 本发明提供测试模块，包括产生伪随机数图案的随机数产生部，随机数产生部，包括，控制部，按照存储于命令存储器的控制命令生成寄存器选择信号；多项式设定寄存器，是根据寄存器选择信号选择的多个寄存器，分别存储多项式数据；初始值设定寄存器，是根据寄存器选择信号选择的多个寄存器，分别存储初始值；随机数生成移位寄存器，从被选择的初始值设定寄存器装载初始值，根据所选择的多项式设定寄存器中存储的多项式数据，依次生成伪随机数图案。

公开(公告)号：CN102246471A

公开(公告)日：2011-11-16

申请号：CN200980149135.1

申请日：2009-05-29

Applicant: 爱德万测试株式会社

Inventor： 石川慎一 ,  杉村一 ,  基石优 ,  中山浩康 ,  津藤胜

IPC: H04L12/56 ,  H04L12/26

CPC classification number: H04L43/50 ,  G01R31/2834

Abstract: 本发明提供一种测试装置，是测试被测试装置的测试装置，包括：取得部，从对被测试器件的动作进行模拟的模拟环境中取得与被测试器件之间进行通信的数据包列；数据包通信程序生成部，根据数据包列生成测试用的数据包通信程序，所述测试用的数据包通信程序由该测试装置执行，并进行与被测试器件之间的数据包列中所包含的数据包的通信，以及测试部，执行数据包通信程序，与被测试器件之间进行数据包通信的测试。

公开(公告)号：CN102150056A

公开(公告)日：2011-08-10

申请号：CN200980135447.7

申请日：2009-09-10

Applicant: 爱德万测试株式会社

Inventor： 基石优 ,  秋田德则

IPC: G01R31/3183 ,  G06F11/22

CPC classification number: G01R31/318385 ,  G01R31/31813 ,  G01R31/31919

Abstract: 本发明提供测试模块，包括产生伪随机数图案的随机数产生部，随机数产生部，包括，控制部，按照存储于命令存储器的控制命令生成寄存器选择信号；多项式设定寄存器，是根据寄存器选择信号选择的多个寄存器，分别存储多项式数据；初始值设定寄存器，是根据寄存器选择信号选择的多个寄存器，分别存储初始值；随机数生成移位寄存器，从被选择的初始值设定寄存器装载初始值，根据所选择的多项式设定寄存器中存储的多项式数据，依次生成伪随机数图案。