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公开(公告)号：CN1761886A
公开(公告)日：2006-04-19
申请号：CN200480007062.X
申请日：2004-03-22
Applicant: 爱德万测试株式会社
IPC: G01R31/319
CPC classification number: G01R31/3191 , G01R31/31922
Abstract: 本发明是有关于一种ATE校准方法和系统，不需要使用外部测试设备为单个功能插针进行校正，并且提供功能插针和插针之间均衡的时序错位(timing skew)。在测试系统中选取一个功能插针作为参考插针或“黄金”插针，并且另外选取一个功能插针作为精确测量单元(PMU)。外部测试设备和参考PMU被用来测量参考插针的AC和DC特性，任何偏差都表示参考PMU中的测量误差。测试系统中的所有功能插针都可以使用参考PMU相对于参考插针进行测量，将测量误差考虑在内，并且不需要外部测量设备。为了确保所有插针间的错位得到均衡，将参考插针的位置选择在尽量靠近功能插针范围内的中点。
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