公开(公告)号：CN1761886A

公开(公告)日：2006-04-19

申请号：CN200480007062.X

申请日：2004-03-22

Applicant: 爱德万测试株式会社

Inventor： 道格拉斯·拉尔森 ,  安夫尼·里 ,  凯洛·奎欧·东 ,  若企特·雷吉苏曼

IPC: G01R31/319

CPC classification number: G01R31/3191 ,  G01R31/31922

Abstract: 本发明是有关于一种ATE校准方法和系统，不需要使用外部测试设备为单个功能插针进行校正，并且提供功能插针和插针之间均衡的时序错位(timing skew)。在测试系统中选取一个功能插针作为参考插针或“黄金”插针，并且另外选取一个功能插针作为精确测量单元(PMU)。外部测试设备和参考PMU被用来测量参考插针的AC和DC特性，任何偏差都表示参考PMU中的测量误差。测试系统中的所有功能插针都可以使用参考PMU相对于参考插针进行测量，将测量误差考虑在内，并且不需要外部测量设备。为了确保所有插针间的错位得到均衡，将参考插针的位置选择在尽量靠近功能插针范围内的中点。

公开(公告)号：CN1701239A

公开(公告)日：2005-11-23

申请号：CN03825350.X

申请日：2003-09-25

Applicant: 爱德万测试株式会社

Inventor： 年尔斯·马可特 ,  安夫尼·里 ,  罗伯·萨乌尔 ,  若企特·雷吉苏曼 ,  矢元裕明

IPC: G01R31/316

CPC classification number: G01R31/2886

Abstract: 一种半导体组件测试装置中的锁定装置和负载板组件。该负载板组件包括一块装有测试中的组件的印刷电路板，和一块固定在此印刷电路板底部的接口板。该接口板具有两个之间具有空隙的部份。垫片连接此两个部分已形成开孔给测试头上的接触针。负载板组件被放置在固定于测试头顶面的锁定装置的顶部。通过使两个不同横截面的针延伸穿过负载板组件中接口板和印刷电路板上的两孔把负载板安放在锁定装置上。当负载板组件被安放在锁定装置上时，固定在接口板上的滚轮被锁定装置的凸轮件的凸轮槽孔所容纳。当凸轮件移动时，这些滚轮跟随凸轮槽孔运动。基于凸轮槽孔的轮廓，负载板组件可被逐渐降低，而建立印刷电路板和测试头接触针之间的电接触以锁定接口板。

公开(公告)号：CN1754154A

公开(公告)日：2006-03-29

申请号：CN200480005082.3

申请日：2004-01-09

Applicant: 爱德万测试株式会社

Inventor： 若企特·雷吉苏曼 ,  罗伯·萨乌尔 ,  裕明·矢元

IPC: G06F11/14 ,  G06F11/07

CPC classification number: G11C29/56 ,  G01R31/3191 ,  G01R31/31935 ,  G01R31/31937

Abstract: 一种在非易失性存储器中存储插针校准数据、命令和其他数据的半导体测试系统，该系统接受来自多个供货商的插针卡，每个插针卡都包括一能存储特定校准数据的本地非易失性存储器。测试系统中的每个插针卡都能对被测元件执行不同类型的测试。插针卡上的非易失性存储器被用来存储插针卡校准数据，且与负载板和插座相关的校准数据也可被本地存储于每个插针卡的非易失性存储器中。与插针卡插槽相关的校准数据可被存储于测试系统底板上的非易失性存储器中并被用于校准插针卡的槽对槽偏斜。本地非易失性存储器还可被用于存储在模块、现场控制器和系统控制器中生成的或在其之间传送的命令、数据和错误信息，这样如果发生系统错误，将不必重新生成这些信息。