公开(公告)号：CN101268378A

公开(公告)日：2008-09-17

申请号：CN200680034645.0

申请日：2006-08-03

Applicant: 爱德万测试株式会社

Inventor： 安夫尼·里 ,  葛岚·戈麦斯

IPC: G01R31/319

CPC classification number: G01R31/31725 ,  G01R31/31726

Abstract: 藉由经由PXI_LOCAL以提供数个控制信号，以在诸如PXI之类的标准化底盘中获得精确的定时控制。在每一最小公倍数(Least Common Multiple，LCM)边沿，最小公倍数信号使得所有时钟具有一致的时钟边沿。开始序列使得测试系统中的所有PXI扩展卡在相同的时间开始。MATCH线使得引脚卡模块检查预期的DUT输出，以及根据DUT输出检查以决定是继续执行其局部测试程序，还是环回并重复局部测试程序的一部份。测试结束(End Of Test，EOT)线使得如果引脚卡模块中的局部测试程序检测到错误，则任何一个引脚卡模块立即结束运行于其它引脚卡模块中的局部测试程序。

公开(公告)号：CN1761886A

公开(公告)日：2006-04-19

申请号：CN200480007062.X

申请日：2004-03-22

Applicant: 爱德万测试株式会社

Inventor： 道格拉斯·拉尔森 ,  安夫尼·里 ,  凯洛·奎欧·东 ,  若企特·雷吉苏曼

IPC: G01R31/319

CPC classification number: G01R31/3191 ,  G01R31/31922

Abstract: 本发明是有关于一种ATE校准方法和系统，不需要使用外部测试设备为单个功能插针进行校正，并且提供功能插针和插针之间均衡的时序错位(timing skew)。在测试系统中选取一个功能插针作为参考插针或“黄金”插针，并且另外选取一个功能插针作为精确测量单元(PMU)。外部测试设备和参考PMU被用来测量参考插针的AC和DC特性，任何偏差都表示参考PMU中的测量误差。测试系统中的所有功能插针都可以使用参考PMU相对于参考插针进行测量，将测量误差考虑在内，并且不需要外部测量设备。为了确保所有插针间的错位得到均衡，将参考插针的位置选择在尽量靠近功能插针范围内的中点。

公开(公告)号：CN101305289A

公开(公告)日：2008-11-12

申请号：CN200680034575.9

申请日：2006-08-03

Applicant: 爱德万测试株式会社

Inventor： 安夫尼·里 ,  葛岚·戈麦斯

IPC: G01R31/319

CPC classification number: G01R31/31716 ,  G01R31/31715 ,  G01R31/31726

Abstract: 通过在PXI_LOCAL上提供若干控制信号而获得例如PXI等标准化底盘内的精确定时控制。最小公倍数(Least Common Multiple，LCM)信号使得所有时钟能够具有在每个LCM边沿出现的一致的时钟边沿。启动序列允许测试系统中的所有PXI扩展卡同时启动。MATCH线路使得引脚卡模块能够检验预期的DUT输出，并根据所述DUT输出检验的结果继续执行它们的局部测试程序或环回并重复所述局部测试程序的一部分。测试结束(End Of Test，EOT)线路使得如果任一引脚卡模块中的局部测试程序检测到错误，则所述引脚卡模块便能够突然结束在所有其它引脚卡模块中运行的局部测试程序。

公开(公告)号：CN101278205A

公开(公告)日：2008-10-01

申请号：CN200680036314.0

申请日：2006-08-03

Applicant: 爱德万测试株式会社

Inventor： 安夫尼·里 ,  葛岚·戈麦斯

IPC: G01R31/319

CPC classification number: G01R31/31715 ,  G01R31/31716 ,  G01R31/31717 ,  G01R31/31726

Abstract: 通过在每个底盘内在PXI_LOCAL上提供若干控制信号，并将这些控制信号提供到其它底盘而获得多个例如PXI等标准化底盘上的精确定时控制。最小公倍数(Least Common Multiple，LCM)信号使得所有时钟能够具有在每个LCM边沿出现的一致的时钟边沿。启动序列允许测试系统中的所有PXI扩展卡同时启动。MATCH线路使得引脚卡模块能够检验预期的DUT输出，并根据所述DUT输出检验的结果继续执行它们的局部测试程序或环回并重复所述局部测试程序的一部分。测试结束(End Of Test，EOT)线路使得如果任一引脚卡模块中的局部测试程序检测到错误，则所述引脚卡模块便能够突然结束在所有其它引脚卡模块中运行的局部测试程序。

公开(公告)号：CN1701239A

公开(公告)日：2005-11-23

申请号：CN03825350.X

申请日：2003-09-25

Applicant: 爱德万测试株式会社

Inventor： 年尔斯·马可特 ,  安夫尼·里 ,  罗伯·萨乌尔 ,  若企特·雷吉苏曼 ,  矢元裕明

IPC: G01R31/316

CPC classification number: G01R31/2886

Abstract: 一种半导体组件测试装置中的锁定装置和负载板组件。该负载板组件包括一块装有测试中的组件的印刷电路板，和一块固定在此印刷电路板底部的接口板。该接口板具有两个之间具有空隙的部份。垫片连接此两个部分已形成开孔给测试头上的接触针。负载板组件被放置在固定于测试头顶面的锁定装置的顶部。通过使两个不同横截面的针延伸穿过负载板组件中接口板和印刷电路板上的两孔把负载板安放在锁定装置上。当负载板组件被安放在锁定装置上时，固定在接口板上的滚轮被锁定装置的凸轮件的凸轮槽孔所容纳。当凸轮件移动时，这些滚轮跟随凸轮槽孔运动。基于凸轮槽孔的轮廓，负载板组件可被逐渐降低，而建立印刷电路板和测试头接触针之间的电接触以锁定接口板。