半导体装置
    2.
    发明公开

    公开(公告)号:CN106486888A

    公开(公告)日:2017-03-08

    申请号:CN201610718812.9

    申请日:2016-08-24

    Inventor: 深谷一夫

    Abstract: 本发明提供一种能够提高半导体激光器的特性的半导体装置。在p型包覆层与p型导光层之间配置有电流阻挡层,且具有该电流阻挡层之间的区域即电流狭窄区域(CC)的半导体激光器如下构成。构成为,在从入射侧(HR侧)到出射侧(AR侧)之间依次配置有大宽度部(WP)、锥部(TP)、小宽度部(NP)、锥部(TP)以及大宽度部(WP)的电流狭窄区域(CC)的、大宽度部(WP)的上方,减小绝缘层的开口部(OA)的宽度(Wie),利用绝缘层(IL)覆盖大宽度部(WP)的两端。根据该结构,能够抑制大宽度部(WP)的超发光的产生,由此,能够谋求光束品质的提高和光束的高输出化。

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