多波长半导体激光器及其制造方法

    公开(公告)号:CN1278463C

    公开(公告)日:2006-10-04

    申请号:CN200410043091.3

    申请日:2004-04-24

    Inventor: 荒木田孝博

    CPC classification number: H01S5/4031 H01S5/028 H01S5/0287 H01S5/4087

    Abstract: 公开一种多波长半导体激光器。多波长半导体激光器具有通过分离区域设置在公共衬底上的第一侧边发射型谐振器结构和第二侧边发射型谐振器结构。第一侧边发射型谐振器结构具有650nm的振荡波长。第二侧边发射型谐振器结构具有780nm的振荡波长。低反射薄膜是由60nm的第一Al2O3薄膜、55nm的TiO2薄膜和140nm的第二Al2O3薄膜组成的三层介电薄膜,其中TiO2薄膜的折射率小于第一Al2O3薄膜的折射率和第二Al2O3薄膜的折射率。

    多波长半导体激光器及其制造方法

    公开(公告)号:CN1540821A

    公开(公告)日:2004-10-27

    申请号:CN200410043091.3

    申请日:2004-04-24

    Inventor: 荒木田孝博

    CPC classification number: H01S5/4031 H01S5/028 H01S5/0287 H01S5/4087

    Abstract: 公开一种多波长半导体激光器。多波长半导体激光器具有通过分离区域设置在公共衬底上的第一侧边发射型谐振器结构和第二侧边发射型谐振器结构。第一侧边发射型谐振器结构具有650nm的振荡波长。第二侧边发射型谐振器结构具有780nm的振荡波长。低反射薄膜是由60nm的第一Al2O3薄膜、55nm的TiO2薄膜和140nm的第二Al2O3薄膜组成的三层介电薄膜,其中TiO2薄膜的折射率小于第一Al2O3薄膜的折射率和第二Al2O3薄膜的折射率。

    发光元件及其制造方法以及发光元件组件及其制造方法

    公开(公告)号:CN101247023B

    公开(公告)日:2011-03-09

    申请号:CN200810004649.5

    申请日:2008-01-21

    CPC classification number: H01S5/18311 H01L33/145 H01S5/18338

    Abstract: 本发明公开了一种发光元件、发光元件的制造方法、发光元件组件和发光元件组件的制造方法。制造发光元件的方法包括如下步骤:(A)在衬底上依次形成具有第一导电类型的第一化合物半导体层、有源层和具有第二导电类型的第二化合物半导体层,(B)至少在位于将要提供有电流限制区域的区域外侧的第二化合物半导体层的区域中在厚度方向上形成多个点状孔部分,以及(C)通过将部分第二化合物半导体层从该孔部分的侧壁进行绝缘处理来形成绝缘区域,从而在第二化合物半导体层中制备由绝缘区域围绕的电流限制区域。

    光学装置
    5.
    发明公开

    公开(公告)号:CN101634734A

    公开(公告)日:2010-01-27

    申请号:CN200910160143.8

    申请日:2009-07-24

    CPC classification number: G02B6/4214 G02B6/4201 G02B6/428 H05K1/0274

    Abstract: 本发明涉及光学装置,该光学装置包括:多层结构基板,在该多层结构基板上堆叠多个绝缘层,并且在层之间形成配线图案;凹部,通过切除多层结构基板的一部分暴露层间的配线图案;光学元件,安装在凹部内并电导通到凹部暴露的配线图案;以及光波导构件,形成光学元件的光路,并且沿着多层结构基板的表面引导光。

    发光元件及其制造方法以及发光元件组件及其制造方法

    公开(公告)号:CN101247023A

    公开(公告)日:2008-08-20

    申请号:CN200810004649.5

    申请日:2008-01-21

    CPC classification number: H01S5/18311 H01L33/145 H01S5/18338

    Abstract: 本发明公开了一种发光元件、发光元件的制造方法、发光元件组件和发光元件组件的制造方法。制造发光元件的方法包括如下步骤:(A)在衬底上依次形成具有第一导电类型的第一化合物半导体层、有源层和具有第二导电类型的第二化合物半导体层,(B)至少在位于将要提供有电流限制区域的区域外侧的第二化合物半导体层的区域中在厚度方向上形成多个点状孔部分,以及(C)通过将部分第二化合物半导体层从该孔部分的侧壁进行绝缘处理来形成绝缘区域,从而在第二化合物半导体层中制备由绝缘区域围绕的电流限制区域。

Patent Agency Ranking