Abstract:
본 발명은 레이저 플라즈마 스펙트럼을 이용한 시료 내 측정 대상 원소의 정량 분석 방법에 관한 것으로, 더욱 상세하게는, 분광 스펙트럼에서 피크가 서로 겹쳐 있는 경우 피크 강도를 계산하여 측정 대상 원소의 조성 비율을 분석할 수 있는 방법과 측정 대상 원소의 정량분석 시 내부표준법(internal standard method)을 적용할 때 피크 강도의 상관관계 플롯의 선형성과 검량 곡선 데이터(피크 강도 비)의 표준편차를 기울기로 나눈 값을 통하여 가장 정밀도와 재현성이 높은 파장의 피크를 선택하는 방법에 관한 것이다.
Abstract:
본 발명의 일 실시예에 따른 CIGS 박막의 정량분석 방법은, 성분 조성이 다른 복수의 CIGS 박막에 레이저를 조사하여 분광선을 얻는 단계, 상기 분석 대상 원소의 분광선들 중 제1 분광선과 제2 분광선을 선택하고 상기 제1 분광선의 측정된 강도와 상기 제2 분광선의 측정된 강도의 상관 관계 플롯을 얻는 단계, 상기 상관 관계 플롯을 곡선 근사한 결과를 이용하여 상기 제1 분광선의 측정된 강도와 상기 제2 분광선의 측정된 강도를 보정하는 단계, 상기 제1 분광선의 보정된 강도와 상기 제2 분광선의 보정된 강도를 이용하여 선형 검량 곡선을 얻는 단계, 및 분석 대상인 시료를 LIBS 분석하여 상기 선형 검량 곡선과 대비하는 단계를 포함할 수 있다.
Abstract:
The present invention relates to a quantitative analysis method for an element to be measured inside a sample using a laser plasma spectrum and, more specifically, to a method to analyze the composition ratio of an element to be measured by calculating a peak intensity when peaks are overlapped with each other in a spectrum. In addition, the present invention relates to a method to select a wavelength with the highest accuracy and reproducibility through a linear correlation plot for a peak intensity and a value resulted from dividing the standard deviation of the calibration-curve data (peak intensity ratio) by a gradient when applying an internal standard method during quantitative analysis on the element to be measured.
Abstract:
본 발명의 제1 실시예에 따른 CIGS 박막의 깊이에 따른 성분 정량분석 방법은, CIGS 박막에 레이저 빔을 조사하여 플라즈마를 발생시키고, 상기 플라즈마로부터 발생하는 분광선을 얻는 단계, 상기 CIGS 박막의 특정 원소의 분광선들 중 특성이 유사한 분광선들을 선택하는 단계, 및 상기 선택된 분광선들의 강도를 합한 값을 이용하여 성분 조성을 측정하는 단계를 포함할 수 있다.