레이저 가공표면 결함 검출 장치 및 그 방법
    2.
    发明授权
    레이저 가공표면 결함 검출 장치 및 그 방법 有权
    激光加工表面缺陷检测装置及其方法

    公开(公告)号:KR101427742B1

    公开(公告)日:2014-08-06

    申请号:KR1020120139459

    申请日:2012-12-04

    Abstract: 본 발명의 레이저 가공표면 결함 검출 장치가 재료(T)에 레이저 가공목적과 동시에 산란광 발생에 이용되는 레이저를 입사시켜주는 레이저발생기(20)와, 재료(T)에서 레이저 가공중 발생한 결함에 의해 산란되는 레이저의 산란각도에 맞춰 산란레이저를 수광하는 레이저 검출기(30)와, 산란레이저의 데이터로부터 산란 레이저의 파워가 증가하기 시작하는 시점과 산란 레이저의 파워가 급격히 증가하기 시작하는 시점을 파악해 재료(T)의 레이저 가공표면 결함을 검출하는 처리기(40)가 포함됨으로써, 별도의 광원을 사용하지 않고서도 레이저 입사 시점과 레이저 가공에 의한 재료(T)의 표면 손상 여부 및 손상 시점을 실시간으로 측정하는 특징을 갖는다.

    시델리코프 수열을 이용한 도약 패턴의 생성 및 변환 방법
    5.
    发明公开
    시델리코프 수열을 이용한 도약 패턴의 생성 및 변환 방법 有权
    一种用于生成和修改跳频图案FROM西德尔尼科夫序列

    公开(公告)号:KR20180012489A

    公开(公告)日:2018-02-06

    申请号:KR20160095381

    申请日:2016-07-27

    CPC classification number: H04B1/7143 H04B2001/71362 H04B2001/71367

    Abstract: 본발명은주기(는소수의거듭제곱,)인진시델니코프수열을행렬로변환하고, 행렬의열들중 일부를선택하여도약패턴집합를생성하는, 도약패턴의생성방법으로서, 본발명은가변적인주파수슬롯수를가짐으로써주파수슬롯수의변경이가능한도약패턴을생성및 변환가능하게한다.

    Abstract translation: 本发明提供了当DELNI,跳频模式公司在矩阵变换该随机数序列,来生成由选择某些所述矩阵法的柱的跳频图案jiphapreul在INJIN产生一个周期(一个素数的幂),本发明是可变 通过具有频率槽的数量,以使能生成并转化为的可变跳频图案槽位号。

    듀티 사이클 보정 회로
    6.
    发明授权
    듀티 사이클 보정 회로 有权
    占空比修正电路

    公开(公告)号:KR101570064B1

    公开(公告)日:2015-11-19

    申请号:KR1020140025742

    申请日:2014-03-04

    Abstract: 본발명은듀티사이클을보정하기위한회로에관한것이다. 본발명의일 실시예에따른듀티사이클보정회로는, 보정대상인제1 클럭신호와, 상기제1 클럭신호와위상차를갖는제2클럭신호를입력받고, 상기입력된제1 및제2 클럭신호에대해 XOR연산을수행하여차동클럭신호를생성하는차동클럭신호생성부및 상기차동클럭신호의상승에지시점에대응되는시점에서레벨이전환되는보정된클럭신호를생성하는듀티사이클보정부를포함한다.

    듀티 사이클 보정 회로
    7.
    发明公开
    듀티 사이클 보정 회로 有权
    占空比修正电路

    公开(公告)号:KR1020150103985A

    公开(公告)日:2015-09-14

    申请号:KR1020140025742

    申请日:2014-03-04

    CPC classification number: H03K5/1565 H03K3/017

    Abstract: 본 발명은 듀티 사이클을 보정하기 위한 회로에 관한 것이다. 본 발명의 일 실시 예에 따른 듀티 사이클 보정 회로는, 보정대상인 제1 클럭신호와, 상기 제1 클럭신호와 위상차를 갖는 제2클럭신호를 입력받고, 상기 입력된 제1 및 제2 클럭신호에 대해 XOR연산을 수행하여 차동클럭신호를 생성하는 차동클럭신호 생성부 및 상기 차동클럭신호의 상승에지시점에 대응되는 시점에서 레벨이 전환되는 보정된 클럭신호를 생성하는 듀티 사이클 보정부를 포함한다.

    Abstract translation: 本发明涉及一种用于校正占空比的电路。 根据本发明的实施例的占空比校正电路包括:接收作为校正对象的第一时钟信号的差分时钟信号生成部和与第一时钟信号相位差的第二时钟信号,执行XOR计算 在输入的第一和第二时钟信号上产生差分时钟信号; 以及占空比校正部分,其生成在与差分时钟信号的增加边缘点相对应的点改变的校正时钟信号。

    확산 부호 생성 장치 및 그 확산 부호 생성 방법

    公开(公告)号:KR101794760B1

    公开(公告)日:2017-11-07

    申请号:KR1020150188938

    申请日:2015-12-29

    Abstract: 본발명에따른확산부호생성장치는, 부호도약패턴생성키에기반하여, 미리정의된확산부호군에서데이터심볼전송을위해사용할확산부호를선택하는부호선택수열생성기; 및상기확산부호를순환천이(cyclic shift)하여지연제어수열을생성하는지연제어수열생성기를포함함에따라, 부호도약부호분할다중접속통신에서각 가입자가사용하는확산부호를생성할수 있다.

    확산 부호 생성 장치 및 그 확산 부호 생성 방법
    9.
    发明公开
    확산 부호 생성 장치 및 그 확산 부호 생성 방법 有权
    扩频码生成装置及其扩频码生成方法

    公开(公告)号:KR1020170078428A

    公开(公告)日:2017-07-07

    申请号:KR1020150188938

    申请日:2015-12-29

    Abstract: 본발명에따른확산부호생성장치는, 부호도약패턴생성키에기반하여, 미리정의된확산부호군에서데이터심볼전송을위해사용할확산부호를선택하는부호선택수열생성기; 및상기확산부호를순환천이(cyclic shift)하여지연제어수열을생성하는지연제어수열생성기를포함함에따라, 부호도약부호분할다중접속통신에서각 가입자가사용하는확산부호를생성할수 있다.

    Abstract translation: 根据本发明的扩展码产生设备包括:码选择序列产生器,用于基于符号跳变模式产生密钥来选择用于在预定扩展码组中传输数据符号的扩展码; 以及延迟控制序列发生器,用于通过循环移位扩展码来产生延迟控制序列,由此产生由跳码码分多址通信中的每个用户使用的扩展码。

    레이저 가공표면 결함 검출 장치 및 그 방법
    10.
    发明公开
    레이저 가공표면 결함 검출 장치 및 그 방법 有权
    激光加工表面缺陷检测装置及其方法

    公开(公告)号:KR1020140071647A

    公开(公告)日:2014-06-12

    申请号:KR1020120139459

    申请日:2012-12-04

    Abstract: A device for defect detection of a laser-processed surface of the present invention comprises a laser generating device (20) irradiating laser to a material (T); a laser detection device (30) receiving scattering laser in accordance with a laser scattering angle of the material (T); and a processing device (40) which figures out a starting point which power of the scattering laser increases and a point which power of the scattering laser rapidly increases from the scattering laser data thereby measuring a laser incident point and surface damage of the material (T) by laser processing and a damage point in real-time without using additional light sources.

    Abstract translation: 本发明的激光加工用表面的缺陷检测装置包括激光发生装置(20),将激光照射到材料(T)上; 激光检测装置(30),其根据所述材料(T)的激光散射角接收散射激光; 以及处理装置(40),其计算散射激光器的功率的起始点和散射激光器的功率从散射激光数据快速增加的点,从而测量激光入射点和材料的表面损伤(T )通过激光处理和损伤点实时而不使用额外的光源。

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