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公开(公告)号:KR101901525B1
公开(公告)日:2018-09-21
申请号:KR1020170115996
申请日:2017-09-11
Applicant: 국방과학연구소
IPC: G01R31/317 , G01R31/00 , B64F5/60
CPC classification number: G01R31/31723 , B64F5/60 , G01R31/008 , G01R31/31701 , G01R31/31704 , G01R31/31712 , G01R31/31718 , G01R31/31722
Abstract: 본발명은계층구조로설계된항공전자시스템용다중모드통합시험장치및 그방법에관한것으로, 본발명의일실시예에따른계층구조로설계된항공전자시스템용다중모드통합시험장치는, 각버스에계층구조로연결된항공전자시스템용시험대상장비각각에대한다중모드검증시험을실시하기위한다수의호스트 PC; 상기시험대상장비각각에대응되는모델 SW를구현하여관리하기위한모델부; 및상기호스트 PC 각각의제어에따라, 상기호스트 PC 각각에상기시험대상장비또는상기모델부의연결에따른실장비와모델 SW 간조합을통해다중모드검증시험환경을형성하기위한다중모드검증시험형성부;를포함한다.
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公开(公告)号:KR101987110B1
公开(公告)日:2019-06-10
申请号:KR1020160160432
申请日:2016-11-29
Applicant: 국방과학연구소
IPC: G06F11/263 , G06F11/36
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