Abstract:
a latch amplifying portion for inputting a reference voltage and a data input signal and for latching and amplifying the inputted signals; a comparison sensing portion connected in parallel with the latch amplifying portion, for comparing output signals from the latch amplifying portion; and a driving portion for driving an output signal from the comparison sensing portion.
Abstract:
본 발명은 반도체 메모리 장치의 어드레스 변동 검출기에 있어서, 어드레스 발생수단과, 어드레스를 입력으로 하여 반전된 상태를 출력하는 제1반전수단과, 홀수개의 반전수단으로 이루어져 상기 어드레스를 소전시간 지연시킨 후 반전된 상태를 출력하는 제2반전수단과, 상기 제2반전수단의 출력측에 적어도 하나이상의 홀수개의 반전수단으로 이루어져 상기 어드레스를 소정시간 지연시키는지 연수단과, 상기 제1반전수단과 지연수단의 출력을 입력으로 하여 어드레스가 제1상태에서 제2상태로 변동될때 클록을 발생하는 제1클록 발생수단과, 상기 어드레스와 상기 제2반전수단의 출력을 입력으로 하여 어드레스가 제2상태에서 제1상태로 변동될때 클록을 발생하는 제2클록 발생수단과, 상기 각 클록발생수단의 출력을 입력으로하여 어느 한 입력에 록이 발생하였을 경우 상기 클록에 대응하는 클록을 발생하는 제3클록발생수단과, 상기 제3클록발생수단의 출력을 입력으로하고 소정노드와 접지사이에 채널이 연결된 트랜지스터와, 상기 소정노드의 전압상태를 입력으로 하여 각 어드레스 변동에 대응하는 클록을 발생하는 출력수단을 구비하여 어드레스를 변동상태에 관계없이 하나의 출력 단자에 클록을 발생 하는 어드레스 변동 검출기를 제공한다.
Abstract:
PURPOSE: An overlay observation apparatus and a method of estimating a distance on a Z-axis using a laser are provided to measure correctly a degree of overlay misalignment by obtaining rapidly and correctly an image of an overlay mark. CONSTITUTION: A photographing unit(600) includes a lens(61), which is installed at a predetermined position corresponding to a wafer(900) in order to photograph an overlay mark formed within the wafer. A laser distance measurement unit(700) is attached to the photographing unit in order to measure a distance between the lens of the photographing unit and a surface of the wafer.
Abstract:
본 발명은 반도체 메모리장치의 셀프리프레시방법 및 그 회로에 관한 것으로서, 다수개의 서브어레이를 가지며, 각 서브어레이는 미리 설정된 수의 메모리블럭들을 가지며, 각 메모리블럭은 다수개의 워드라인과 비트라인들로 이루어진 매트릭스상에 위치되는 다수개의 디램셀을 가지며, 상기 메모리블럭에는 일대일로 워드라인 선택수단이 제공되고, 각 워드라인 선택수단은 서브어레이에 일대일로 제공된 프리디코더에 동작제어되는 반도체 메모리장치에 있어서, 동작대기모드시 상기 각 서브어레이에 대응되는 프리디코더가 순차적으로 인에이블되도록 제어하여 각 서브어레이가 순차적으로 리프레시동작이 이루어지도록 제어하는 셀프리프레시 제어회로를 더 구비하여, 셀프리프레시동작시에 일시에 활성화되는 워드라인의 수를 감소시켜 동 전류의 피크치를 감소시킬 수 있는 반도체 메모리장치의 셀프리프레시방법 및 그 회로가 제공된다.