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公开(公告)号：KR100148723B1
公开(公告)日：1998-12-01
申请号：KR1019950032456
申请日：1995-09-28
Applicant: 삼성전자주식회사
IPC: G01R31/28
Abstract: 전압/전류원을 여러개 내장한 단일 모듈 구조를 갖는 논리소자 검사장비에서 검사용 기판을 듀얼 검사 기판으로 변경하고 처리기의 측정부에서 2개의 논리소자가 통과할 수 있도록 변경하며, 쿼드 연산 증폭기를 측정할 수 있는 기판을 사용하여 4개의 싱글 연산 증폭기와 2개의 듀얼 연산 증폭기를 하나의 논리 집적회로에 대한 전원 및 검사 장비의 하드웨어 세팅 시간 동안에 세팅할 수 있도록 전압/전류 공급핀을 병렬로 접속하여 전원을 공급한다.
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公开(公告)号：KR1019970028582A
公开(公告)日：1997-06-24
申请号：KR1019950045745
申请日：1995-11-30
Applicant: 삼성전자주식회사
Abstract: 본 발명은 집적회로 소자를 검사하기 위한 제반 신호가 입출력되며 검사용 기판 또는 검사용 어댑터에 연결되어 있는 인터페이스 케이블이 항상 아래쪽을 향하도록 하기 위해서, 인터페이스 기판의 앞면과 뒷면의 핀 구성을 서로 반대가 되도록 하여 처리하기에 투입되는 소자의 핀 방향과 검사용 기판 또는 검사용 어댑터의 핀 방향이 반대일지라도 핀 구성이 반대로 설계된 양면 인터페이스 기판을 사용함으로써 인터페이스 케이블의 방향을 항상 아래쪽이 되도록 하는 것이 가능하다.
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公开(公告)号：KR1020040066260A
公开(公告)日：2004-07-27
申请号：KR1020030003261
申请日：2003-01-17
Applicant: 삼성전자주식회사
CPC classification number: G01R1/0466 , H01R12/85 , H01R2201/20
Abstract: PURPOSE: A socket assembly for testing an IC, an IC using the same, and a tester using the same are provided to enhance the test reliability by selecting a connecting state between a test board and the IC according to a characteristic of the IC. CONSTITUTION: A socket assembly for testing an IC includes a guide block, a guide part, and a press plate. The guide block(40) is installed on a test board including terminals. The IC is inserted into an upper part of the guide block. The guide part(44) is installed in the inside of the guide block. The guide part is used for guiding a falling position of the IC in order to connect each lead of the IC to the terminals. The press plate(50) is coupled to the guide block. A pressing projection(54) is formed on a bottom side of the press plate in order to press the leads of the IC.
Abstract translation: 目的：提供用于测试IC的插座组件，使用其的IC和使用其的测试仪，以通过根据IC的特性选择测试板和IC之间的连接状态来提高测试的可靠性。 构成：用于测试IC的插座组件包括引导块，引导部分和压板。 引导块（40）安装在包括端子的测试板上。 IC插入导块的上部。 引导部分（44）安装在引导块的内部。 引导部分用于引导IC的下降位置，以将IC的每个引线连接到端子。 压板（50）联接到引导块。 为了按压IC的引线，在压板的底侧形成按压突起（54）。
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公开(公告)号：KR1019970062713A
公开(公告)日：1997-09-12
申请号：KR1019960005282
申请日：1996-02-29
Applicant: 삼성전자주식회사
IPC: G01R31/319 , H05K1/02 , G01R31/26 , H01L21/66
Abstract: 본 발명은 싱글, 듀얼 및 쿼드 연산 증폭회로 소자를 하나의 검사용 기판을 사용하여 검사함으로써 여러 소자를 검사할 때 셋업 시간의 증가나 하나의 제품에 대한 하나의 검사기관 사용으로 검사용 기관의 관리상의 비효율성을 극복하기 위한 것으로서, 집적회로 소자이 전기적 특성을 검사하기 위해서 검사용 신호를 입출력하고 전원을 공급하기 위한 고정된 복수의 단자를 갖는 검사장비와 소정의 배선 패턴의 의해 전기적으로 연결되어 있으며, 상기 직접회로 소자가 장착되는 집적회로 소자 검사용 기판에 있어서, 상기 소정의 배선 패턴은 스위치 수단을 구비하고 있으며 상기 단자와 선택적으로 연결되어 있어서 복수개의 집적회로 소자를 검사할 수 있는 것을 특징으로 하는 검사용 기판이 개시되어 있다.
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公开(公告)号：KR1019970016622A
公开(公告)日：1997-04-28
申请号：KR1019950032456
申请日：1995-09-28
Applicant: 삼성전자주식회사
IPC: G01R31/28
Abstract: 전압/전류원을 여러개 내장한 단일 모듈 구조를 갖는 논리소자 검사장비에서 검사용 기판을 듀얼 검사 기판으로 변경하고 처리기의 측정부에서 2개의 논리소자가 통과할 수 있도록 변경하며, 쿼드 연산 증폭기를 측정할 수 있는 기판을 사용하여 4개의 싱글 연산 증폭기와 2개의 듀얼 연산 증폭기를 하나의 논리 집적회로에 대한 전원 및 검사 장비의 하드웨어 세팅 시간 동안에 세팅할 수 있도록 전압/전류 공급핀을 병렬로 접속하여 전원을 공급한다 .
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：KR100534208B1
公开(公告)日：2005-12-08
申请号：KR1020030003261
申请日：2003-01-17
Applicant: 삼성전자주식회사
CPC classification number: G01R1/0466 , H01R12/85 , H01R2201/20
Abstract: 본 발명은 테스트보드와 집적소자를 직접 접속에 의해 접속이 이루어지게 함으로써 리드와 단자 사이의 부하용량을 줄여 전기적 특성 검사의 신뢰도를 높이도록 하는 집적소자 테스터용 소켓 조립체와 이를 이용하는 테스터에 관한 것으로서, 그 특징적 구성은, 단자들이 형성된 주위의 테스트보드에 설치되어 상기 단자들에 대향하여 상부로부터 집적소자가 출입 가능하도록 그 영역범위를 형성하는 가이드블록과; 상기 영역범위에 대한 상기 가이드블록의 내측에 구비되어 집적소자의 각 리드가 상기 단자들에 각각 직접 접속되게 집적소자의 하강 위치를 안내하는 가이드부; 및 상기 가이드블록과의 결합에 의해 저면에 구비한 가압돌기로 하여금 집적소자의 리드들을 대응하는 각 단자에 접속되게 가압토록 하는 가압판으로 이루어진다. 위의 구성을 포함한 본 발명에 의하면, 테스트보드에 대하여 집적소자의 직·간접 접속을 선택할 수 있어 효율적이고, 직접 접속에 의해 부하용량을 줄임으로써 그 테스트의 신뢰도가 향상되며, 이를 통한 다양한 니들의 특성 테스트 및 비교를 통해 최적 구조를 갖는 니들 사양과 그 선정이 용이할 뿐 아니라 니들을 이용한 간접 접속 관계와 마찬가지로 다량의 집적소자를 연속하여 테스트할 수 있는 효과가 있다.
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公开(公告)号：KR100187725B1
公开(公告)日：1999-06-01
申请号：KR1019960005282
申请日：1996-02-29
Applicant: 삼성전자주식회사
IPC: G01R31/319 , H05K1/02 , G01R31/26 , H01L21/66
Abstract: 본 발명은 싱글, 듀얼 및 쿼드 연산 증폭회로 소자를 하나의 검사용 기판을 사용하여 검사함으로써 여러 소자를 검사할 때 셋업 시간의 증가나 하나의 제품에 대한 하나의 검사기판 사용으로 인한 검사용 기판의 관리상의 비효율성을 극복하기 위한 것으로서, 연산 증폭회로 소자를 실장하는 실장 부분과; 상기 실장 부분에 실장된 상기 연산 증폭회로 소자의 전기적 특성을 검사하기 위해서 검사용 신호를 입출력하고 전원을 공급하기 위한 고정된 복수의 단자를 갖는 검사장비와 전기적으로 연결된 소정의 배선 패턴; 및 상기 배선 패턴을 연결하거나 개방하는 복수개의 계전기;를 포함하며, 상기 배선 패턴은 서로 다른 연산 증폭회로 소자의 전기적 특성 검사에 필요한 상기 검사장비의 단자와 상기 서로 다른 연산 증폭회로 소자의 단자를 연결하는 배선 패턴을 포함하고 있으며, 상기 실장 부분에 실장된 특정의 연산 증폭회로 소자의 전기적 특성 검사에 필요한 상기 검사장비의 단자와 상기 특정의 연산 증폭회로 소자의 단자를 연결하는 상기 배선 패턴이 선택될 수 있도록 상기 계전기를 연결하거나 개방하여 상기 특정의 증폭회로 소자에 대한 전기적 특성을 검사하는 것을 특징으로 하는 연산 증폭회로 소자의 단일 검사 기판이 개시되어 있다.
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公开(公告)号：KR100180291B1
公开(公告)日：1999-04-01
申请号：KR1019950068169
申请日：1995-12-30
Applicant: 삼성전자주식회사
Abstract: 본 발명은 nA 수준의 직류 전류를 측정할 수 있는 기능을 갖고 있는 아날로그 검사 장치를 사용하여 집적회로 소자를 검사할 때 pA 수준의 매우 미세한 전류에 대해서도 그 측정이 가능하도록 하기 위해서 직류 전류를 입력하기 위한 입력단자와, 상기 직류 전류를 적분하여 전압신호로 변환하는 변환수단과, 상기 변환 수단에 의해 변환된 전압신호를 출력하는 출력단자를 구비하는 전류-전압 적분회로와, 상기 전압-전류 적분회로의 출력을 입력하기 위한 입력단자와, 상기 입력단자에 입력된 전압 신호를 추적하여 특정 순간의 전압을 샘플(sample)하여 일정 시간동안 상기 샘플된 전압값을 유지(hold)하는 전압 유지수단과, 상기 전압 유지수단에 의해 유지된 전압값을 출력하는 출력단자를 구비하는 샘플 홀드(sample-and-hold)회로 복수개를 구비하여, 상기 전 류-전압 적분회로에 입력되는 상기 직류 전류를 상기 복수개의 샘플 홀드 회로에서 출력되는 전압값의 시간에 따른 변화량으로 측정할 수 있는 전류 측정회로 및 이를 내장한 집적회로 소자 장치가 개시되어 있다.
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公开(公告)号：KR1019990052526A
公开(公告)日：1999-07-15
申请号：KR1019970072017
申请日：1997-12-22
Applicant: 삼성전자주식회사
Abstract: 집적회로의 잡음 테스트 장치 및 방법이 개시된다. 집적회로의 잡음을 테스트하는 이 장치는, 집적회로로부터 출력되는 잡음 신호의 최고 레벨을 검출하는 레벨 검출 수단 및 최고 레벨이 소정 레벨 이상인가를 비교하고, 비교된 결과를 집적회로의 양호/불량을 나타내는 신호로서 출력하는 레벨 비교 수단을 구비하는 것을 특징으로 한다.
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公开(公告)号：KR1019970048561A
公开(公告)日：1997-07-29
申请号：KR1019950068169
申请日：1995-12-30
Applicant: 삼성전자주식회사
Abstract: 본 발명은 nA 수준의 직류 전류를 측정할 수 있는 기능을 갖고 있는 아날로그 검사 장치를 사용하여 집적회로 소자를 검사할 때 pA 수준의 매우 미세한 전류에 대해서도 그 측정이 가능하도록 하기 위해서 직류 전류를 입력하기 위한 입력단자와, 상기 직류 전류를 적분하여 전압신호로 변환하는 변환수단과, 상기 변환 수단에 의해 변환된 전압신호를 출력하는 출력단자를 구비하는 전류-전압 적분회로와, 상기 전압-전류 적분회로의 출력을 입력하기 위한 입력단자와, 상기 입력단자에 입력된 전압 신호를 추적하여 특정 순간의 전압을 샘플(sample)하여 일정 시간동안 상기 샘플된 전압값을 유지(hold)하는 전압 유지수단과, 상기 전압 유지수단에 의해 유지된 전압값을 출력하는 출력단자를 구비하는 샘플 홀드(sample-and-hold)회로 복수개를 구비하여, 상기 전 류-전압 적분회로에 입력되는 상기 직류 전류를 상기 복수개의 샘플 홀드 회로에서 출력되는 전압값의 시간에 따른 변화량으로 측정할 수 있는 전류 측정회로 및 이를 내장한 집적회로 소자 장치가 개시되어 있다.
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