Abstract:
다중 접합 반도체의 결함 검사 장치에 있어서, 광원, 슬릿 안테나 프로브, 평행광 조사부, 광 집속부, 광분배부, 제1 광검출부, 제2 광검출부, 영상 신호 생성부 및 영상 신호 분석부를 포함하며, 슬릿 안테나 프로브는, 광원으로부터 발생된 테라헤르츠 광을 가이딩하는 가이딩부; 및 가이딩부와 슬릿 안테나 프로브의 외부 공간 사이를 관통하는 슬릿을 포함하고, 슬릿에는, 가이딩부를 지나 슬릿을 통과하는 테라헤르츠 광의 반사 정도를 감소시키기 위한 반사 감소 구조가 형성된 것을 특징으로 하는 본 발명의 일 실시예에 따른 다중 접합 반도체의 결함 검사 장치가 개시된다.
Abstract:
표시 영역과 그 주변 영역을 가지는 절연 기판, 절연 기판 위에 형성되어 있는 복수의 게이트선, 게이트선과 절연되어 교차하여 표시 영역 내에 복수의 화소 영역을 정의하는 복수의 데이터선, 주변 영역에 형성되어 있으며 게이트선과 절연되어 교차하는 더미 데이터선, 화소 영역마다 형성되어 있는 복수의 화소 전극, 화소 영역마다 형성되어 있으며 게이트선, 데이터선 및 화소 전극과 3단자가 각각 연결되어 있는 복수의 박막 트랜지스터, 주변 영역에 형성되어 있는 더미 화소 전극, 주변 영역에 형성되어 있으며 게이트선, 더미 데이터선 및 더미 화소 전극과 3단자가 각각 연결되어 있는 복수의 더미 박막 트랜지스터를 포함하는 박막 트랜지스터 표시판. 더미데이터선, 커플링용량
Abstract:
A display substrate and a manufacturing method thereof are provided to enhance adhesive force of a data pad by forming a second active layer in a lower part of the data pad, thereby suppressing lifting faults of the data pad. A first metal pattern includes a gate line(GL), a gate pad and a gate electrode(G) protruded from the gate line. A gate insulating layer is formed on a substrate(110) where the first metal pattern is formed. A first active layer is overlapped with the gate electrode on the gate insulating layer. A second active layer(A2) is formed in the same layer as the first active layer in correspondence with a data pad(DP). A second metal pattern includes a data line(DL), the data pad, a source electrode(S) and a drain electrode(D). The data line is formed on the gate insulating layer where the first and second active layers are formed. The source electrode is protruded from the data line. The drain electrode is spaced from the source electrode as much as a predetermined width. A passivation layer(140) is formed on the substrate where the second metal pattern is formed.
Abstract:
A TFT substrate is provided to connect a pixel electrode with a drain electrode stably according as a profile of a contact hole is gently formed at a summit part. A TFT(Thin Film Transistor) substrate comprises a line(21,22,23), an insulating layer and a transparent electrode layer(61,62,63). The insulating layer is formed on the line. In the insulating layer, contact holes(71,72,73) for exposing the line are formed. The transparent electrode layer is electrically connected with the line through the contact hole. The contact holes face each other and have two sides where the angle of the sides is from 15 to 45 degrees.
Abstract:
표시특성을 향상시킬 수 있는 표시기판이 개시된다. 표시기판의 표시부에는 제1 금속물질로 이루어진 다수의 게이트 라인, 제2 금속물질로 이루어진 다수의 데이터 라인 및 제1 금속물질로 이루어진 다수의 보조전극라인이 구비된다. 공통전압라인은 제1 금속물질로 이루어져 표시부에 인접하는 주변영역에서 다수의 보조전극라인과 전기적으로 결합된다. 또한, 주변영역에는 공통전압라인과 절연되게 교차하고, 다수의 데이터 라인의 제1 및 제2 단부와 절연되게 교차하여 다수의 데이터 라인 중 오픈된 데이터 라인을 리페어하는 리페어부가 구비된다. 따라서, 표시기판에 형성된 라인들의 라인저항을 감소시킴으로써 표시특성을 향상시킬 수 있다.
Abstract:
PURPOSE: A semiconductor device manufacturing apparatus is provided to minimize variation of a shuttle when wafers are transferred, so that productivity can be improved. CONSTITUTION: The apparatus has a shaft(14) and a fixing plate(16) to support a shuttle(12). The shuttle(12) has an electrode plate(10) where wafers(W) are settled. The shaft(14) is installed to the fixing plate(16) by a screw formation of fixing means(30). Thereby, variation of a shuttle is minimized when the shuttle(12) is driven and wafers(W) are transferred, so that defects due to the variation are minimized. Also, the transferring can be precisely performed without deviation. Accordingly, productivity can be improved.
Abstract:
PURPOSE: A semiconductor wafer transferring equipment is provided to increase productivity of the semiconductor device manufacture by minimizing wafer damage when the wafer(W) is transferred. CONSTITUTION: The semiconductor wafer delivering equipment comprises: a sensing device(26) sensing if the wafer is delivered when the wafer is reached to a certain place; and a lifter(28) lifting the wafer up and dawn by sensing the wafer and inputting the signal of the sensing device at the same time.
Abstract:
본발명은 박막트랜지스터 기판의 제조방법에 관한 것으로, 기판소재 상에 쇼팅바를 형성하는 단계와, 상기 쇼팅바 상에 게이트 절연막을 형성하는 단계와, 상기 게이트 절연막 상에 상기 쇼팅바와 교차하는 데이터선을 형성하는 단계와, 상기 데이터선 상에 데이터 절연막과 유기 코팅층을 형성하는 단계와, 상기 유기 코팅층을 패터닝 및 큐어링하여 소정 영역에 브릿지 유기막홀을 가지며 상기 유기 코팅층과 실질적으로 같은 두께를 가지는 유기막을 형성하는 단계와, 상기 유기막을 마스크로 하여 상기 게이트 절연막과 상기 데이터 절연막을 식각하여 상기 쇼팅바와 상기 데이터선을 노출시키는 접촉구를 형성하는 단계와, 투명전도막을 증착하고 패터닝하여 상기 쇼팅바와 상기 데이터선을 전기적을 연결하는 것을 특징으로 한다. 이에 의하여 비표시영역에서 신호선이 손상되는 문제를 감소시킬 수 있다.
Abstract:
An array substrate and a display panel having the same are provided to increase an area of a pixel electrode contacted with LC at a boundary part between the pixel electrode and a data line by forming a first concavo-convex unit in an area adjacent to the data line, thereby increasing the number of LC which can be controlled among LC existing between the pixel electrode and the data line. A data line(DL) defines a pixel area as crossing a gate line(GL) to be insulated. A TFT(Thin Film Transistor)(T) is installed in one side of the pixel area, and respectively connected with the gate line and the data line. A pixel electrode(170) is formed in the pixel area and electrically connected with the TFT. The pixel electrode has a first concavo-convex unit(172) in an area adjacent to the data line. A second concavo-convex unit(222) is prolonged from a first black matrix(221) towards the first concavo-convex unit of the pixel electrode. According as the second concavo-convex unit is engaged with the first concavo-convex unit, light leakage generated in a peripheral part of the first concavo-convex unit is prevented.
Abstract:
본발명은 박막트랜지스터 기판의 제조방법에 관한 것으로, 기판소재 상에 쇼팅바를 형성하는 단계와, 상기 쇼팅바 상에 게이트 절연막을 형성하는 단계와, 상기 게이트 절연막 상에 상기 쇼팅바와 교차하는 데이터선을 형성하는 단계와, 상기 데이터선 상에 데이터 절연막과 유기 코팅층을 형성하는 단계와, 상기 유기 코팅층을 패터닝 및 큐어링하여 소정 영역에 브릿지 유기막홀을 가지며 상기 유기 코팅층과 실질적으로 같은 두께를 가지는 유기막을 형성하는 단계와, 상기 유기막을 마스크로 하여 상기 게이트 절연막과 상기 데이터 절연막을 식각하여 상기 쇼팅바와 상기 데이터선을 노출시키는 접촉구를 형성하는 단계와, 투명전도막을 증착하고 패터닝하여 상기 쇼팅바와 상기 데이터선을 전기적을 연결하는 것을 특징으로 한다. 이에 의하여 비표시영역에서 신호선이 손상되는 문제를 감소시킬 수 있다.