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公开(公告)号:KR1020060079958A
公开(公告)日:2006-07-07
申请号:KR1020050000381
申请日:2005-01-04
Applicant: 삼성전자주식회사
IPC: H01L29/786
CPC classification number: H01L29/66757 , H01L29/4908
Abstract: 개시된 실리콘 박막트랜지스터는: 기판에 형성되는 실리콘 채널과; 상기 실리콘 채널 위에 형성되는 게이트 절연층과; 상기 게이트 절연층 위에 마련되는 게이트를; 구비하고, 상기 게이트 절연층은 HfOx
박막을 포함하는 구조를 가진다. 이러한 박막트랜지스터는 낮은 전류누설특성을 가진다.
다결정, 실리콘, 게이트 절연층, HfOx, HfO2