반도체 칩 패키지 테스트용 테스트 소켓 및 이의 제조 방법
    1.
    发明公开
    반도체 칩 패키지 테스트용 테스트 소켓 및 이의 제조 방법 审中-实审
    用于测试半导体芯片封装的测试插座及其制造方法

    公开(公告)号:KR1020160046621A

    公开(公告)日:2016-04-29

    申请号:KR1020140142778

    申请日:2014-10-21

    Abstract: 테스트소켓은, 절연성탄성물질을포함하는베이스물질(base material); 및상기베이스물질내에서상기베이스물질의두께방향으로연장하는도전부;를포함하며, 상기도전부는상기베이스물질의두께방향을따라배열된복수의도전성입자구조체들을포함하며, 상기복수의도전성입자구조체들각각은도전성입자및 상기도전성입자표면으로부터연장하는적어도하나의절연와이어를포함한다.

    Abstract translation: 用于防止导电颗粒分离的测试插座包括:包括绝缘弹性材料的基材; 以及在基材的基材的厚度方向上延伸的导电部。 导电部包括在基材的厚度方向上配置的多个导电性粒子结构体。 每个导电颗粒结构包括导电颗粒和从导电颗粒表面延伸的至少一个绝缘线。

Patent Agency Ranking