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1.发明专利
公开(公告)号：KR20210026614A
公开(公告)日：2021-03-10
申请号：KR1020190107637A
申请日：2019-08-30
Applicant: 삼성전자주식회사
CPC classification number: C09K11/88 , C09K11/883 , C01B19/04 , C09K11/02 , H01L33/06 , H01L33/20 , H01L33/26 , H01L33/28
Abstract: 아연과 셀레늄, 그리고 선택적으로 황 및/또는 텔루리움을 포함하는 제1 반도체 나노결정을 포함하는 코어와, 아연, 그리고 황 및 셀레늄 중 하나 이상을 포함하는 제2 반도체 나노결정을 포함하는 쉘을 포함하는 비카듐계 양자점으로서, 상기 양자점은 13 nm 이상의 평균 입자 직경을 가지고, 440 nm 내지 470 nm 범위에서 발광 피크 파장을 가지며, 발광 파장의 반치폭은 25 nm 미만인 양자점, 이 양자점의 제조 방법, 이 양자점을 포함하는 양자점-폴리머 복합체, 및 이 양자점을 포함하는 전자 소자에 관한 것이다.
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2.发明专利
公开(公告)号：KR20210034953A
公开(公告)日：2021-03-31
申请号：KR1020190116948A
申请日：2019-09-23
Applicant: 삼성전자주식회사
CPC classification number: H01L51/502 , H01L33/06 , H01L27/156 , H01L33/005 , H01L33/38 , H01L33/44 , H01L51/0005 , H01L51/56
Abstract: 제1 전극과 제2 전극, 상기 제1 전극과 상기 제2 전극 사이에 위치하는 양자점 층, 그리고 상기 양자점 층과 상기 제1 전극 사이에 위치하는 제1 보조층을 포함하고, 상기 제1 보조층은 평균입경 10nm 이하의 니켈 산화물 나노입자와 유기 리간드를 포함하는 발광소자, 상기 발광 소자의 제조방법 및 이를 포함하는 표시 장치에 관한 것이다.
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公开(公告)号：KR20210027210A
公开(公告)日：2021-03-10
申请号：KR1020200110630A
申请日：2020-08-31
Applicant: 삼성전자주식회사
IPC: H01L51/50
CPC classification number: H01L33/14 , H01L51/5076 , H01L51/502 , H01L33/18 , H01L33/26 , H01L51/5072 , H01L51/5092 , H01L2251/301 , H01L2251/303
Abstract: 복수개의 양자점을 포함하는 발광층, 그리고 상기 발광층 상에 배치되고 상기 발광층에 전자를 수송 및 주입하는 전자 보조층을 포함하고, 상기 전자 보조층은, 복수개의 금속 산화물 나노입자들을 포함하고, 상기 금속 산화물 나노입자는 아연 및 도펀트 금속을 포함하고, 상기 도펀트 금속은 Mg, Mn, Ni, Sn, Al, Y, Ga, Zr, Ni, Co, 또는 이들의 조합을 포함하는 발광 소자를 제공한다. 상기 금속 산화물 나노입자 중 적어도 하나에서, 상기 도펀트 금속은, 농도 구배를 가지도록 상기 금속 산화물 나노입자에 포함되어 있다.
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公开(公告)号：KR20210027211A
公开(公告)日：2021-03-10
申请号：KR1020200110631A
申请日：2020-08-31
Applicant: 삼성전자주식회사
CPC classification number: C09K11/025 , C09K11/883 , C09K11/02 , C09K11/565 , H01L33/04 , H01L33/18 , H01L51/502 , H05B33/10 , H05B33/14 , B82Y20/00 , B82Y30/00 , B82Y40/00 , H01L2251/301 , H01L2251/50
Abstract: 카드뮴을 포함하지 않고, 청색광을 방출하도록 구성되며, 아연 칼코겐화물을 포함하는 제1 반도체 나노결정을 포함하는 코어 및 상기 코어 위에 배치되고 아연, 셀레늄, 및 황을 포함하는 반도체 나노결정 쉘을 가지고 X선 회절 스펙트럼에서 징크 블랜드 결정 구조의 피크 면적에 대한 결함 피크 면적의 비율이 0.8 미만인 양자점들 및 이를 포함하는 전계 발광 소자를 제공한다. 상기 양자점은, 고분해능 투과 전자 현미경 (HR-TEM) 이미지의 고속 푸리에 변환 (Fast Fourier Transform)에 의해 얻어지는 회절 패턴(digital diffraction pattern)이 징크 블랜드 구조의 (100) facet 을 포함할 수 있다.
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