Abstract:
가. 청구범위에 기재된 발명이 속한 기술분야: 하드 디스크 드라이브에 있어서 리드채널최적화 나. 발명이 해결하려고 하는 기술적 과제: 리드채널최적화 수행시간을 단축하는 방법을 제공한다. 다. 그 발명의 해결방법의 요지: 본 발명은 존/헤드별로 테스트가 끝났을 때마다 하나의 HDD에 대한 테스트 제한시간을 초과했는가를 체크한다. 따라서 각 드라이브마다 테스트 시간의 편차가 존재하던 것을 막을 수 있다. 그리고 테스트를 마지막 존에서 첫번째 존의 방향으로 테스트를 진행하기 때문에 테스트가 중간에서 종료하더라도 에러율이 높은 존들이 테스트가 수행되도록 할 수 있다. 또한 본 발명에서 테스트할 트랙을 선택하는 과정과, 테스트할 오프-트랙값을 구하는 과정에서 에러율이 높은가를 판단한다. 에러율이 높다고 판단될 경우 테스트를 위해 리드해야할 총 섹터의 수를 조정함으로써 높은 에러율에 의한 테스트 시간지연을 줄일 수 있다. 라. 발명의 중요한 용도: 리드채널 최적화
Abstract:
가. 청구범위에 기재된 발명이 속한 기술분야:디스크 구동 기록장치의 디펙섹터 관리방법에 관한 것으로, 특히 디펙섹터가 포함되는 임의 데이타구간상에 데이타를 리드/라이트 제어하기 위한 방법에 관한 것이다. 나. 발명이 해결하려고 하는 기술적 과제:디펙섹터로 인한 데이타 액세스시간의 지연을 방지할 수 있는 데이타 리드/라이트 제어방법을 제공함에 있다. 다. 그 발명의 해결방법의 요지:디펙섹터 대용의 재할당 예비섹터들이 구비되어 있는 디스크 구동 기록장치의 데이타 리드/라이트 제어방법에 있어서, 구동전원 입력시 상기 예비섹터들에 라이트되어 있는 데이타를 리드하여 저장하고, 디펙섹터가 포함되는 임의 데이타구간 액세스시 트랜듀서의 이동없이 상기 디펙섹터 전위 섹터로부터 독출된 데이타 후위에 상기 디펙섹터 대용의 재할당 예비섹터로부터 리드 저장된 데이타를 복사하여 전송함을 특징으로 한다. 라. 발명의 중요한 용도:디스크 구동 기록장치 디펙섹터 관리에 사용할 수 있다.
Abstract:
가. 청구범위에 기재된 발명이 속한 기술분야:디스크 구동 기록장치의 디펙섹터 관리방법에 관한 것으로, 특히 디펙섹터가 포함되는 임의 데이타구간상에 데이타를 리드/라이트 제어하기 위한 방법에 관한 것이다. 나. 발명이 해결하려고 하는 기술적 과제:디펙섹터로 인한 데이타 액세스시간의 지연을 방지할 수 있는 데이타 리드/라이트 제어방법을 제공함에 있다. 다. 그 발명의 해결방법의 요지:디펙섹터 대용의 재할당 예비섹터들이 구비되어 있는 디스크 구동 기록장치의 데이타 리드/라이트 제어방법에 있어서, 구동전원 입력시 상기 예비섹터들에 라이트되어 있는 데이타를 리드하여 저장하고, 디펙섹터가 포함되는 임의 데이타구간 액세스시 트랜듀서의 이동없이 상기 디펙섹터 전위 섹터로부터 독출된 데이타 후위에 상기 디펙섹터 대용의 재할당 예비섹터로부터 리드 저장된 데이타를 복사하여 전송함을 특징으로 한다. 라. 발명의 중요한 용도:디스크 구동 기록장치 디펙섹터 관리에 사용할 수 있다.
Abstract:
트랜지스터및 그제조방법에관해개시되어있다. 개시된트랜지스터는그래핀및 그래핀으로부터변환된물질을포함할수 있다. 상기트랜지스터는그래핀을포함하는채널층및 그래핀으로부터변환된물질을포함하는게이트절연층을구비할수 있다. 상기그래핀으로부터변환된물질은플루오르화그래핀(fluorinated graphene)일수 있다. 상기채널층은패턴화된그래핀영역(patterned graphene region)을포함할수 있다. 상기패턴화된그래핀영역은그래핀으로부터변환된영역에의해정의될수 있다. 상기패턴화된그래핀영역은나노리본(nanoribbon) 또는나노메쉬(nanomesh) 구조를가질수 있다. 상기트랜지스터의게이트는그래핀을포함할수 있다.
Abstract:
Disclosed are a transistor and a manufacturing method thereof. The disclosed transistor may include graphene and a material converted from the graphene. The transistor may have a channel layer including the graphene and a gate insulation layer including the material converted from the graphene. The material converted from the graphene may be fluorinated graphene. The channel layer may include a patterned graphene region. The patterned graphene region may be defined by a region converted from the graphene. The patterned graphene region may have a nanoribbon or nanomesh structure. The gate of the transistor may include the graphene.
Abstract:
PURPOSE: A fine transistor and a method for manufacturing the same are provided to make a manufacturing process simple by forming a space through a round etching and forming a SONOS cell using a charge trap layer. CONSTITUTION: In a fine transistor and a method for manufacturing the same, a tunnel oxide film is formed on a semiconductor substrate(100). A nitride film and a passivation are formed on the tunnel oxide film(110), and the passivation is pattern and is used as a mask to etch the nitride film, and charge trapping layers(123) which are separated from each other. A blocking insulation film(124) is formed on a formed nitride film, and an electrode is formed on the blocking oxide film and the tunnel oxide film.
Abstract:
PURPOSE: A method of processing a defect of a hard disk is provided to have spare sectors per cylinder instead of per track, to reduce the size occupied by the spare sectors, and to replace reassigned sectors with a spare sector of the nearest cylinder, so as to decrease a seek time for reading/writing the reassigned sectors. CONSTITUTION: Spare sectors are set on the last track of a cylinder, without putting one spare sector per track. If inferior sectors are more than the set spare sectors, inferior sectors which are not processed by a present cylinder are reassigned to an unused spare sector of the nearest neighboring cylinder.