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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：KR100662576B1
公开(公告)日：2006-12-28
申请号：KR1020050068555
申请日：2005-07-27
Applicant: 삼성전자주식회사
Inventor： 프로토포포브,블라디미르 , 조성훈 , 이석원 , 이문구 , 김광수
Abstract: An apparatus and a method for inspecting an optical device are provided to measure the deformation of the optical device. An apparatus for inspecting an optical device includes a heterodyne laser(10), a phase changing section(30), a polarization section(40), a light collecting section(50), an optical diode(60), and a signal processing section(70). The heterodyne laser irradiates light to the optical device. The phase changing section removes noise by changing the phase of the light irradiated from the heterodyne laser. The polarization section polarizes the light passed through the optical device to a predetermined direction. The light collecting section collects the polarized light. The optical diode converts the collected light to an electrical signal. The signal processing section processes the electrical signal.
Abstract translation: 提供了用于检查光学装置的设备和方法，以测量光学装置的变形。 一种用于检查光学装置的设备包括外差激光器（10），相位改变部分（30），偏振部分（40），光收集部分（50），光学二极管（60）和信号处理部分 （70）。 外差激光器将光照射到光学装置。 相变部分通过改变从外差激光器照射的光的相位来去除噪声。 偏振部分将通过光学装置的光线偏振到预定方向。 光收集部分收集偏振光。 光学二极管将收集的光转换为电信号。 信号处理部分处理电信号。
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公开(公告)号：KR100704668B1
公开(公告)日：2007-04-09
申请号：KR1020050106906
申请日：2005-11-09
Applicant: 삼성전자주식회사
Abstract: 본 발명은 광학디바이스의 제조장치 및 제조방법에 관한 것이다. 본 발명에 따른 복수의 프리즘을 갖는 광학디바이스의 제조장치는, 소정의 패턴의 빛을 출사하는 광원과; 상기 프리즘과 상기 광원 사이에 마련되어, 상기 광원에서 출사된 빛을 소정 파장 대역으로 추출하는 파장선택필터와; 상기 파장선택필터로부터 추출된 빛을 상기 프리즘으로 집광하는 집광렌즈와; 상기 프리즘으로부터 반사된 빛의 패턴을 표시하는 표시부와; 상기 표시부에 표시된 상기 패턴의 선명도가 소정의 범위에 있도록 상기 프리즘의 위치를 조절하는 스테이지를 포함한다. 이에 의해 용이하게 복수의 프리즘의 광로장을 일치시킬 수 있는 광학디바이스의 제조장치 및 제조방법이 제공된다.
Abstract translation: 用于制造光学装置的设备和方法 根据本发明的用于制造具有多个棱镜的光学装置的设备包括：发射预定图案的光的光源; 设置在棱镜和光源之间的波长选择滤波器，用于在预定波段中提取从光源发射的光; 一个会聚透镜，用于将从波长选择滤波器提取的光与棱镜会聚; 显示单元，用于显示从棱镜反射的光的图案; 还有一个调整棱镜位置的阶段，以便显示单元上显示的图案的清晰度在预定范围内。 由此，提供了一种能够容易地匹配多个棱镜的光路长度的光学装置的制造装置和方法。
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公开(公告)号：KR100588154B1
公开(公告)日：2006-06-09
申请号：KR1020050076102
申请日：2005-08-19
Applicant: 삼성전자주식회사
Abstract: 본 발명은 자기기록매체의 검사장치 및 그 검사방법에 관한 것이다. 본 발명에 따른 자기기록매체의 검사장치는, 상기 자기기록매체로 광을 출사시키는 헤테로다인레이저와; 상기 자기기록매체로부터 반사된 광을 특정 방향으로 편광시키는 편광부와; 편광된 광을 수광하는 수광부와; 수광된 광으로부터 자기컬신호를 검출하는 검출부와; 검출된 상기 자기컬신호를 표시하는 표시부를 포함한다. 이에 의해 정확하고 용이하게 자기기록매체의 자기컬신호를 검출할 수 있는 광학디바이스의 검사장치 및 그 검사방법이 제공된다.
Abstract translation: 检查磁记录介质的设备和方法 根据本发明的用于检查磁记录介质的设备包括：用于向磁记录介质发射光的外差激光器; 偏振器，用于使从磁记录介质反射的光沿特定方向偏振; 用于接收偏振光的光接收单元; 一种检测器，用于从接收到的光中检测磁卷曲信号; 以及用于显示检测到的磁卷曲信号的显示单元。 由此，提供了能够准确且容易地检测磁记录介质的磁卷曲信号的光学装置的检查装置和检查方法。
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公开(公告)号：KR100700986B1
公开(公告)日：2007-03-29
申请号：KR1020050073750
申请日：2005-08-11
Applicant: 삼성전자주식회사
Abstract: 본 발명은 광학디바이스의 제조장치 및 제조방법에 관한 것이다. 본 발명에 따른 복수의 프리즘을 갖는 광학디바이스의 제조장치는 백색 광원과; 상기 프리즘과 상기 백색 광원 사이에 마련되어, 상기 백색 광원에서 출사되는 빛으로부터 소정 파장 대역의 빛을 추출하는 파장선택필터와; 상기 파장선택필터로부터 추출된 빛을 상기 프리즘으로 집광하는 집광렌즈와; 상기 프리즘의 위치를 조절하는 스테이지와; 적어도 한 쌍의 상기 프리즘을 통과한 빛의 간섭현상을 표시하는 표시부를 포함한다. 이에 의해 용이하게 복수의 프리즘의 광로장을 일치시킬 수 있는 광학디바이스의 제조장치 및 제조방법이 제공된다.
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公开(公告)号：KR1020070019819A
公开(公告)日：2007-02-15
申请号：KR1020050073750
申请日：2005-08-11
Applicant: 삼성전자주식회사
CPC classification number: G02B5/04 , G02B27/0012 , G02B2006/12114 , H04N5/335
Abstract: 본 발명은 광학디바이스의 제조장치 및 제조방법에 관한 것이다. 본 발명에 따른 복수의 프리즘을 갖는 광학디바이스의 제조장치는 백색 광원과; 소정 파장 대역의 빛을 추출하는 파장선택필터와; 상기 파장선택필터로부터 선택된 빛을 집광하는 집광렌즈와; 상기 프리즘의 위치를 조절하는 스테이지와; 적어도 한 쌍의 상기 프리즘을 통과한 빛의 간섭현상을 표시하는 표시부를 포함한다. 이에 의해 용이하게 복수의 프리즘의 광로장을 일치시킬 수 있는 광학디바이스의 제조장치 및 제조방법이 제공된다.
Abstract translation: 用于制造光学装置的设备和方法 根据本发明的用于制造具有多个棱镜的光学装置的设备包括：白光源; 波长选择滤波器，用于提取预定波段的光; 聚光透镜，用于会聚从波长选择滤波器中选择的光; 调整棱镜位置的阶段; 以及显示单元，用于显示已经穿过至少一对棱镜的光的干涉现象。 由此，提供了一种能够容易地匹配多个棱镜的光路长度的光学装置的制造装置和方法。
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