경사 이온 주입을 이용한 실리콘 카바이드 쇼트키 다이오드 및 그의 제조 방법
    1.
    发明授权
    경사 이온 주입을 이용한 실리콘 카바이드 쇼트키 다이오드 및 그의 제조 방법 有权
    使用倾斜离子注入的SiC肖特基势垒二极管及其制造方法

    公开(公告)号:KR101590477B1

    公开(公告)日:2016-02-01

    申请号:KR1020140049999

    申请日:2014-04-25

    Inventor: 김광수 송길용

    Abstract: 본발명은실리콘카바이드쇼트키다이오드및 그의제조방법에관한것으로, 실리콘카바이드쇼트키다이오드의제조방법은, N형 SiC 기판위에 N형에피층(epilayer)을성장시킨후 식각(etching)함으로써트렌치(trench) 구조를형성하고, 트렌치구조의일측벽면에 N+ 도핑층을형성하고트렌치구조내의나머지부분을부도체로절연하며, N형에피층및 트렌치구조를통해노출된부도체의상단영역에금속박막을이용한전계판(field plate)을증착한다.

    경사 이온 주입을 이용한 실리콘 카바이드 쇼트키 다이오드 및 그의 제조 방법
    2.
    发明公开
    경사 이온 주입을 이용한 실리콘 카바이드 쇼트키 다이오드 및 그의 제조 방법 有权
    SIC肖特基二极管使用倾斜离子植入及其制造方法

    公开(公告)号:KR1020150123526A

    公开(公告)日:2015-11-04

    申请号:KR1020140049999

    申请日:2014-04-25

    Inventor: 김광수 송길용

    CPC classification number: H01L29/872 H01L21/265 H01L29/78

    Abstract: 본발명은실리콘카바이드쇼트키다이오드및 그의제조방법에관한것으로, 실리콘카바이드쇼트키다이오드의제조방법은, N형 SiC 기판위에 N형에피층(epilayer)을성장시킨후 식각(etching)함으로써트렌치(trench) 구조를형성하고, 트렌치구조의일측벽면에 N+ 도핑층을형성하고트렌치구조내의나머지부분을부도체로절연하며, N형에피층및 트렌치구조를통해노출된부도체의상단영역에금속박막을이용한전계판(field plate)을증착한다.

    Abstract translation: 本发明涉及使用倾斜离子注入的碳化硅肖特基势垒二极管及其制造方法。 制造碳化硅肖特基势垒二极管的方法包括以下步骤:在N型外延层在N型SiC衬底上生长之后,通过蚀刻N型外延层来形成沟槽结构; 在沟槽结构一侧的壁上形成N +掺杂层; 用非导体绝缘沟槽结构的剩余部分; 以及在通过沟槽结构和N型外延层暴露的非导体的上部区域上使用金属薄膜沉积场板。

    전자 축적을 이용한 4H-실리콘 카바이드 SBR 및 그의 제조방법
    3.
    发明授权
    전자 축적을 이용한 4H-실리콘 카바이드 SBR 및 그의 제조방법 有权
    4H-SBR 4H-碳化硅超级势垒整流器使用堆积N层及其制造方法

    公开(公告)号:KR101661551B1

    公开(公告)日:2016-09-30

    申请号:KR1020140175604

    申请日:2014-12-09

    Abstract: 본발명은트렌치구조의전자축적을이용한 4H-실리콘카바이드 SBR(Super Barrier Rectifier) 소자및 그의제조방법에관한것으로, 기저에실리콘카바이드(Silicon Carbide; SiC)층을먼저형성하고, 그위에 N 형에피층(epi region)과 P-base층을순차로형성한후, P-base층의일측부분을에피층과맞닿을만큼식각하여트렌치(trench) 구조를형성하고, P-base층과상기트렌치구조와맞닿은일측벽면에경사각이온주입(tilt-implantation) 공정을이용하여축적 N 층(accumulation N layer)을형성한다. 다음에축적 N 층과에피층과맞닿은트렌치구조를따라산화물및 그위에폴리실리콘(Poly Si)을증착하고 P-base층부터폴리실리콘영역에이르는최상단을금속으로증착함으로써 4H-SiC SBR을제조한다.

    전자 축적을 이용한 4H-실리콘 카바이드 SBR 및 그의 제조방법
    4.
    发明公开
    전자 축적을 이용한 4H-실리콘 카바이드 SBR 및 그의 제조방법 有权
    使用累积N层的4H-碳化硅超级障碍整流器及其制造方法

    公开(公告)号:KR1020160069701A

    公开(公告)日:2016-06-17

    申请号:KR1020140175604

    申请日:2014-12-09

    CPC classification number: H01L29/16 H01L21/8258 H01L29/06 H01L29/1602

    Abstract: 본발명은트렌치구조의전자축적을이용한 4H-실리콘카바이드 SBR(Super Barrier Rectifier) 소자및 그의제조방법에관한것으로, 기저에실리콘카바이드(Silicon Carbide; SiC)층을먼저형성하고, 그위에 N 형에피층(epi region)과 P-base층을순차로형성한후, P-base층의일측부분을에피층과맞닿을만큼식각하여트렌치(trench) 구조를형성하고, P-base층과상기트렌치구조와맞닿은일측벽면에경사각이온주입(tilt-implantation) 공정을이용하여축적 N 층(accumulation N layer)을형성한다. 다음에축적 N 층과에피층과맞닿은트렌치구조를따라산화물및 그위에폴리실리콘(Poly Si)을증착하고 P-base층부터폴리실리콘영역에이르는최상단을금속으로증착함으로써 4H-SiC SBR을제조한다.

    Abstract translation: 本发明涉及通过使用沟槽结构的电子积累的4H-碳化硅(SiC)超级势垒整流器(SBR)器件及其制造方法。 制造4H SiC SBR的方法包括以下步骤:预先在衬底上形成SiC层,然后在其上依次形成N型外延区域和P基极层; 通过蚀刻P基层的一面与外延区域接触来形成沟槽结构; 通过在与P基层和沟槽结构接触的一侧的壁面上使用倾斜注入工艺形成堆积N层; 沿着与堆积N层和外延区接触的沟槽结构在氧化物上沉积氧化物,然后沉积氧化物; 以及在从P基层到多晶硅区域的最上部分上沉积金属。

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