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公开(公告)号：KR101184417B1
公开(公告)日：2012-09-20
申请号：KR1020100015887
申请日：2010-02-22
Applicant: 서강대학교산학협력단 , 연세대학교 산학협력단
Abstract: 마이크로웨이브(microwave)가 DNA칩상의 DNA 프로브에 조사되어 변형된 마이크로웨이브로부터 DNA 프로브를 검출하는 장치를 개시한다. 상기 DNA 프로브 검출장치는 마이크로웨이브를 발생시켜 인가하는 마이크로파 소스부, 상기 인가된 마이크로웨이브가 진행하여 공진을 발생시키는 마이크로파 공진기, 상기 마이크로파 공진기의 공진 주파수에서 최대값을 갖는 분포 형태를 하는 스펙트럼을 상기 DNA 프로브에 조사하기 위한 탐침, 상기 탐침과 상기 DNA 프로브 사이의 상호작용에 의해 변형된 마이크로웨이브로부터 공진주파수, 위상 및 반사율의 변화량 중 적어도 하나를 검출하는 검출부, 상기 마이크로파 소스부로부터 인가된 마이크로웨이브와 상기 변형된 마이크로웨이브의 공진주파수, 위상 및 반사율의 변화량 중 적어도 하나로부터 상기 DNA 프로브의 이미지 데이터를 생성하는 중앙 처리부, 및 상기 이미지 데이터로부터 상기 DNA 프로브의 형상에 대한 이미지를 출력하는 화상출력부를 포함한다. DNA칩상의 DNA 프로브 결함을 검출할 수 있다.
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公开(公告)号：KR1020110096444A
公开(公告)日：2011-08-30
申请号：KR1020100015887
申请日：2010-02-22
Applicant: 서강대학교산학협력단 , 연세대학교 산학협력단
CPC classification number: G01N22/00 , C12Q1/6816 , C12Q1/6876
Abstract: 마이크로웨이브(microwave)가 DNA칩상의 DNA 프로브에 조사되어 변형된 마이크로웨이브로부터 DNA 프로브를 검출하는 장치를 개시한다. 상기 DNA 프로브 검출장치는 마이크로웨이브를 발생시켜 인가하는 마이크로파 소스부, 상기 인가된 마이크로웨이브가 진행하여 공진을 발생시키는 마이크로파 공진기, 상기 마이크로파 공진기의 공진 주파수에서 최대값을 갖는 분포 형태를 하는 스펙트럼을 상기 DNA 프로브에 조사하기 위한 탐침, 상기 탐침과 상기 DNA 프로브 사이의 상호작용에 의해 변형된 마이크로웨이브로부터 공진주파수, 위상 및 반사율의 변화량 중 적어도 하나를 검출하는 검출부, 상기 마이크로파 소스부로부터 인가된 마이크로웨이브와 상기 변형된 마이크로웨이브의 공진주파수, 위상 및 반사율의 변화량 중 적어도 하나로부터 상기 DNA 프로브의 이미지 데이터를 생성하는 중앙 처리부, 및 상기 이미지 데이터로부터 상기 DNA 프로브의 형상에 대한 이미지를 출력하는 화상출력부를 포함한다. DNA칩상의 DNA 프로브 결함을 검출할 수 있다.
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公开(公告)号：KR102241716B1
公开(公告)日：2021-04-19
申请号：KR1020180140647
申请日：2018-11-15
Applicant: 가천대학교 산학협력단 , 연세대학교 산학협력단
IPC: C07D213/78 , A61K31/4402 , A23L29/00 , A23L33/10 , A61P3/10
Abstract: 본발명은신규피코리니미다마이드화합물및 이를포함하는당뇨의예방또는치료용조성물에관한것이다.
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：KR101692869B1
公开(公告)日：2017-01-05
申请号：KR1020150031504
申请日：2015-03-06
Applicant: 서강대학교산학협력단
Abstract: 본발명은광학현미경에관한것으로, 빛을원편광시켜조사대상에입사하고, 반사된빛을분석하여열 분포를영상화하는현미경부, 및조사대상상부에위치하고, 열에의한열응력이발생하는인디케이터를포함하고, 상기조사대상에입사된빛은, 상기조사대상에서발생하는열에의한상기인디케이터의열응력에의해복굴절이발생하는것을특징으로함으로써, 인디케이터를이용하여광학적으로열의분포를영상화할수 있다.
Abstract translation: 光学显微镜技术领域本发明涉及一种光学显微镜，包括：显微镜单元，其对光进行圆偏振并将光照射到目标物体中，并分析反射光以成像热分布; 以及指示器，其位于目标物体的上部，并通过热产生热应力，其中，如果由于在目标物体中产生的热引起的指示器，则通过热应力而进入目标物体的照射光发生双重折射， 从而使用指示器光学地成像热分布。
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公开(公告)号：KR1020160107924A
公开(公告)日：2016-09-19
申请号：KR1020150031507
申请日：2015-03-06
Applicant: 서강대학교산학협력단
Abstract: 본발명은마이크로파근접장영상화현미경에관한것으로, 빛을원편광시켜조사대상에입사하고, 반사된빛을분석하여열 분포를영상화하는현미경부, 및조사대상상부에위치하고, 열에의한열응력이발생하는인디케이터를포함하고, 상기조사대상에입사된빛은, 상기조사대상에서발생하는열에의한상기인디케이터의열응력에의해복굴절이발생하는것을특징으로함으로써, 인디케이터를이용하여광학적으로열의분포를영상화할수 있다.
Abstract translation: 本发明涉及通过加热微波近场的显微镜成像近场，包括：显微镜单元，其将光圆偏振并将光照射到目标物体中，并分析反射光以图像热分布; 以及位于目标物体的上部的指示器，通过热量产生热应力，其中当由于在目标物体中产生的热引起的指示器时，入射到目标物体中的照射光发生双重折射， 使用指示剂光学分布。
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公开(公告)号：KR101715044B1
公开(公告)日：2017-03-22
申请号：KR1020150031507
申请日：2015-03-06
Applicant: 서강대학교산학협력단
Abstract: 본발명은마이크로파근접장영상화현미경에관한것으로, 빛을원편광시켜조사대상에입사하고, 반사된빛을분석하여열 분포를영상화하는현미경부, 및조사대상상부에위치하고, 열에의한열응력이발생하는인디케이터를포함하고, 상기조사대상에입사된빛은, 상기조사대상에서발생하는열에의한상기인디케이터의열응력에의해복굴절이발생하는것을특징으로함으로써, 인디케이터를이용하여광학적으로열의분포를영상화할수 있다.
Abstract translation: 微波近场成像显微镜技术领域本发明涉及一种微波近场成像显微镜，其包括用于圆偏振光并入射在待照射的物体上的显微镜部件，用于分析反射光以成像热分布， 并且，通过由被照射物体中产生的热量引起的指示体的热应力产生双折射，从而可以通过使用指示体对光的热分布进行光学成像 。
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公开(公告)号：KR101804781B1
公开(公告)日：2018-01-10
申请号：KR1020160123887
申请日：2016-09-27
Applicant: 현대자동차주식회사 , 서강대학교산학협력단
CPC classification number: G02B27/286 , G01L1/241 , G02F1/009 , G02F1/0131 , G02F1/0136 , G01R29/10 , G01N21/1702 , G01R29/0871 , G01R29/0892 , G02B5/30 , G02B27/141
Abstract: 영상시스템은안테나모듈주변에마련되어, 상기안테나모듈에의하여형성되는전자기장에의하여광학적특성이변화하는인디케이터, 상기인디케이터의광학적특성의변화를영상화하는영상장치, 상기안테나모듈로전파를방사하는송신기및 상기안테나모듈로부터신호를수신하는수신기를포함할수 있다.
Abstract translation: 该成像系统包括所述模块的周围设置的天线，由电磁场的天线由模块指示器，光学特性发生变化而形成，用于发射在所述成像装置中的无线电波，一个发射机，其中用于成像的指示符和的光学特性的改变的天线模块 以及用于从天线模块接收信号的接收器。
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公开(公告)号：KR1020160107921A
公开(公告)日：2016-09-19
申请号：KR1020150031504
申请日：2015-03-06
Applicant: 서강대학교산학협력단
CPC classification number: G02B21/361 , G01N21/31 , G02B21/0068
Abstract: 본발명은광학현미경에관한것으로, 빛을원편광시켜조사대상에입사하고, 반사된빛을분석하여열 분포를영상화하는현미경부, 및조사대상상부에위치하고, 열에의한열응력이발생하는인디케이터를포함하고, 상기조사대상에입사된빛은, 상기조사대상에서발생하는열에의한상기인디케이터의열응력에의해복굴절이발생하는것을특징으로함으로써, 인디케이터를이용하여광학적으로열의분포를영상화할수 있다.
Abstract translation: 光学显微镜技术领域本发明涉及一种光学显微镜，包括：显微镜单元，其对光进行圆偏振并将光照射到目标物体中，并分析反射光以成像热分布; 以及指示器，其位于目标物体的上部，并通过热产生热应力，其中，如果由于在目标物体中产生的热引起的指示器，则通过热应力而进入目标物体的照射光发生双重折射， 从而使用指示器光学地成像热分布。
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