Abstract:
상방 방식(Bottom-up approach)으로 제조된 바텀-업 그래핀 옥사이드(BGO)를 실란화 처리하여 수득되는 개질 바텀-업 그래핀 옥사이드(SBGO)를 양극 활물질에 코팅시킴으로써, 리튬 폴리설파이드의 용출을 막아 전지의 성능을 향상시킬 수 있는, 리튬 이차전지용 양극, 이의 제조방법 및 상기 양극을 포함하는 리튬 이차전지가 개시된다. 상기 리튬 이차전지용 양극은, 양극 활물질; 및 상기 양극 활물질의 표면에 코팅된 바텀-업 그래핀 옥사이드;를 포함하며, 상기 바텀-업 그래핀 옥사이드는 양이온성 작용기를 포함하는 탄화수소 화합물을 매개로 하여 상호 간 가교 결합된 것을 특징으로 한다.
Abstract:
본 발명은 항-코티닌 항체가 연결된 키메라 항체 수용체 및 이의 용도에 관한 것이다. 상기 키메라 항체 수용체를 표면에 제시하는 T 세포는 함께 첨가하는 코티닌이 표지된 접합물질의 표적분자 특이적으로 인터페론 감마를 분비하고 표적분자를 발현하는 세포의 세포사멸을 유도한다. 또한, 코티닌이 표지된 세포독성물질을 투여함으로써 상기 키메라 항원 수용체 T 세포의 세포사멸이 유도되고, 그에 따라 필요시 코티닌이 표지된 세포독성물질을 투여하여 기투여된 키메라 항원 수용체 T 세포를 제거함으로써 T 세포의 과활성에 의한 면역 부작용을 억제할 수 있다. 따라서, 상기 항-코티닌 항체가 연결된 키메라 항원 수용체는 암의 치료에 유용하게 사용될 수 있다.
Abstract:
그래핀 옥사이드의 표면에 양이온성 작용기를 가지는 고분자를 그래프팅시킨 것으로, 리튬 이차전지의 양극 코팅 물질로 적용되어 리튬 폴리설파이드의 용출을 방지함으로써 전지의 성능을 향상시킬 수 있는 리튬 이차전지용 양극 코팅재, 이의 제조방법, 상기 코팅재를 포함하는 양극 및 리튬 이차전지가 개시된다. 상기 리튬 이차전지용 양극 코팅재는, 양이온성 작용기로 표면 개질된 그래핀 옥사이드를 포함한다.
Abstract:
본 발명은 이중 특이성 항체를 이용한 항체 약물 복합체 및 이의 용도에 관한 것이다. 본 발명의 항체 약물 복합체는 2가 코티닌-펩타이드 및 약물의 접합체와 항-코티닌 단일쇄 가변 절편의 결합을 통해 다단계 합성 절차가 필요 없이 항체와 약물의 복합체를 용이하게 형성할 수 있다. 또한, 본 발명의 항체 약물 복합체는 항체가 특이적으로 결합하는 표적에 약물을 효과적으로 전달할 수 있으며, 체내 약물의 반감기를 증진시켜 치료 효과를 향상시킬 수 있다.
Abstract:
온전히 양이온성 단량체로만 구성되어, 전지의 충방전 시 발생하는 리튬 폴리설파이드를 포획함으로써 전지의 성능을 향상시킬 수 있는, 리튬 이차전지용 양극 바인더, 이를 포함하는 리튬 이차전지용 양극 및 리튬 이차전지가 개시된다. 상기 리튬 이차전지용 양극 바인더는, 양이온을 하나 이상 포함하는 양이온성 (메타)아크릴레이트계 단량체로부터 유도되는 구조단위를 포함한다.
Abstract:
본 발명은 리튬-황 전지용 양극 활물질, 이의 제조방법 및 이를 포함하는 리튬-황 전지에 관한 것으로, 보다 상세하게는 코어부 및 상기 코어부의 표면 전부 또는 적어도 일부를 피복하는 쉘부를 포함하는 코어-쉘 구조의 입자상 구조체를 포함하며, 상기 코어부는 황 화합물을 포함하고, 상기 쉘부는 폴리티오펜아세트산-폴리에틸렌글리콜 그래프트 공중합체를 포함하는 리튬-황 전지용 양극 활물질에 관한 것이다. 본 발명의 리튬-황 전지용 양극 활물질은 전기화학적 반응성이 우수하며, 리튬 폴리설파이드를 흡착하여 리튬-황 전지의 용량 및 수명 특성을 향상시킨다.
Abstract:
PURPOSE: An optimizing method capable of using an unused register of an advanced reduced instruction set computer (RISC) machine (ARM) in the environment which executes an x86 application binary in the ARM host by using QEMU is provided to match a part of the regional variables of the intermediate code with the register, which is unused when the QEMU generates the code, among the ARM, thereby reducing the x86 binary execution time which is executed in the ARM host. CONSTITUTION: An intermediate code is generated by reading an x86 application binary as a basic block (S100). A machine code generated/performed through the optimization of the intermediate code (S200). Previous steps are repeated for the next basic block (S300). A part of the values which have to be maintained between the machine codes are matched with the register which is unused when the QEMU generates the code. [Reference numerals] (S100) Step of generating an intermediate code by reading an x86 application binary as a basic block; (S200) Step of generating and performing a machine code through the optimization of the intermediate code; (S300) Step of repeating previous step 1 and 2 for the next basic block
Abstract:
PURPOSE: An extended null pointer test removal method using method specialization is provided to call a callee method where a null pointer test is removed if the argument of a callee method called during a compile process is not null, thereby removing unnecessary null pointer tests. CONSTITUTION: If a method is called during a compile process, the argument of a callee method is checked (S100). If the argument of the callee method is not null, the existence of a callee method where a null pointer test is removed is checked for the callee method (S200). If the callee method where a null pointer test is removed does exist, the callee method where a null pointer test is removed is called (S300). If the callee method where a null pointer test is removed does not exist yet, a new callee method where a null pointer test is removed is compiled, generated and called for the callee method. [Reference numerals] (S100) Step of checking if a factor of a callee method is in null value when the method is called during a compile process; (S200) Step of checking the existence of the callee method without a null pointer test when the factor is not in the null value; (S300) Step of calling the callee method without the null pointer test