광축조심방법, 광축조심장치, 광학소자의 검사방법, 광학소자의 검사장치, 광학모듈의 제조방법 및 광학모듈의 제조장치
    1.
    发明授权
    광축조심방법, 광축조심장치, 광학소자의 검사방법, 광학소자의 검사장치, 광학모듈의 제조방법 및 광학모듈의 제조장치 失效
    光轴对准方法,光轴对准装置,光学装置的检查方法,光学装置的检查装置,制造光学模块的方法和制造光学模块的装置

    公开(公告)号:KR100227259B1

    公开(公告)日:1999-11-01

    申请号:KR1019960033838

    申请日:1996-08-16

    Abstract: 본 발명은, 광통신이나 광계측에 사용되는 반도체레이저나 수광소자, 광도파로 등의 광학부품과 광파이버 또는 이들의 어레이를 조합할때에 불가결한 광축조심방법과 그 장치, 이 조심방법을 이용한 검사방법과 검사장치, 또 이 조심방법을 이용한 광학모듈의 제조방법, 제조장치에 관한 것으로서 반도체레이저의 광을 렌즈에 의해서 집광하고, 집광점을 찾아서 여기에 광파이버단부면을 합치시키는 조심조작의 개량을 가져다준다. 종래에는 파워미터에 연결된 광파이버의 단부면을 광이 존재하지 않는 점에서 주사를 시작하고, 반도체레이저의 광을 찾고, 광의 일부를 발견한 후에는 광량이 증가하는 방향으로 광파이버를 움직이고 있었다. 광을 발견할때까지 시간이 너무 걸려서 조심코스트가 높아진다. 반도체레이저의 광을 발견하는 시간을 단축하여 전체로서의 조심시간을 짧게하는 것을 목적으로 한것이며, 그 구성에 있어서, 반도체위치검출기와 광파이버를 1개의 지지대에 고정하고, 반도체 위치검출기를 처음에 반도체레이저, 렌즈계에 대향시켜서, 집광점의 위치검출기수광면에서의 위치를 결정한다. 집광점위치와 광파이버위치의 차를 계산할 수 있으므로, 그 만큼 반도체레이저와 광파이버를 상대이동시킨다. 이에 의해서 오차의 범위에서, 반도체레이저집광점과 광파이버단부면이 일치한다. 또 광파이버, 반도체레이저를 상대이동시켜서 광량최대점을 구하는 것을 특징으로 한 것이다.

    광축조심방법, 광축조심장치, 광학소자의 검사방법, 광학소자의 검사장치, 광학모듈의 제조방법 및 광학모듈의 제조장치
    2.
    发明公开
    광축조심방법, 광축조심장치, 광학소자의 검사방법, 광학소자의 검사장치, 광학모듈의 제조방법 및 광학모듈의 제조장치 失效
    光轴对齐方法,光轴对齐方法,光学元件检查方法,光学元件检查装置,光学模块制造方法以及光学模块制造装置

    公开(公告)号:KR1019970011916A

    公开(公告)日:1997-03-27

    申请号:KR1019960033838

    申请日:1996-08-16

    Abstract: 본 발명은 광통신이나 광계측에 사용되는 반도체레이저나 수광소자, 광도파로 등의 광학부품과 광파이버 또는 이들의 어레이를 조합할 때에 불가결한 광축조심방법과 그 장치, 이 조심방법을 이용한 검사방법과 검사 장치, 또 이 조심 방법을 이용한 광학모듈의 제조방법, 제조장치에 과한 것으로서 반도체레이저의 광을 렌즈에 의해서 집광하고, 집광점을 찾아서 여기에 광파이버 단부면을 합치시키는 조심조작의 개량을 가져다 준다. 종래에는 파워미터에 연결된 광파이버의 단부면을 광이 존재하지 않는 점에서 주사를 시작하고, 반도체레이저의 광을 찾고, 광의 일부를 발견한 후에는 광량이 증가하는 방향으로 광파이버를 움직이고 있었다. 광을 발견할 때까지 시간이 너무 걸려서 조심코스트가 높아진다. 반도체레이저의 광을 발견하는 시간을 단축하여 전체로서의 조심시간을 짧게하는 것을 목적으로 한 것이며, 그 구성에 있어서, 반도체위치검출기와 광파이버를 1개의 지지대에 고정하고, 반도체위치검출기를 처음에 반도체레이저, 렌즈계에 대향시켜서, 집광점의 위치검출기수광면에서의 위치를 결정한다. 집광점위치와 광파이버위치의 차를 계산할 수 있으며, 그 만큼 반도체레이저와 광파이버를 상대이동시킨다. 이에 의해서 오차의 범위에서, 반도체레이저집광점과 광파이버단부면이 일치한다. 또 광파이버, 반도체레이저를 상대이동시켜서 광??최대점을 구하는 것을 특징으로 한다.

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