광 도파로 모듈
    1.
    发明公开
    광 도파로 모듈 无效
    光波模块

    公开(公告)号:KR1020030019067A

    公开(公告)日:2003-03-06

    申请号:KR1020020014746

    申请日:2002-03-19

    CPC classification number: G02B6/4246 G02B6/4214 G02B6/4249

    Abstract: PURPOSE: To provide an optical waveguide module in which the configuration of an optical circuit is simplified and which can surely monitor light intensity regardless of a polarized wave state of signal light. CONSTITUTION: In an optical plane waveguide type circuit 1, an oblique groove 3 on is formed at a tile angle θ to a normal axis so as to cross an optical waveguide 2n. A reflective filter 4 is installed inside the groove 3 so as to compensate the difference of reflectances between each cross polarization to signal light, reflected light from the reflective filter 4 is detected by a photodetector 6n to monitor the light intensity of the signal light. Thereby, the light intensity can correctly be monitored regardless of the polarized wave state of the signal light. The deterioration of a long-term operation stability caused by contamination is prevented because the inner side of the groove 3 including the reflective filter 4 is sealed by a filling resin 5.

    Abstract translation: 目的:提供一种简化光电路结构的光波导模块,无论信号光的偏振波状态如何,都可以可靠地监测光强度。 构成:在光学平面波导型电路1中,倾斜槽3形成为瓦片角度& 到正常轴线,以便穿过光波导2n。 反射滤光器4安装在凹槽3的内部,以补偿每个交叉极化与信号光之间的反射率的差异,由光电检测器6n检测来自反射滤光片4的反射光,以监测信号光的光强度。 由此,无论信号光的极化波状态如何,都可以正确地监视光强度。 由于包含反射过滤器4的槽3的内侧被填充树脂5密封,所以防止了由污染导致的长期运行稳定性的劣化。

    수광장치
    3.
    发明授权
    수광장치 失效
    光电探测器

    公开(公告)号:KR1019960001190B1

    公开(公告)日:1996-01-19

    申请号:KR1019930002536

    申请日:1993-02-24

    Abstract: This invention relates to a photodetector including a package having a window disposed in a light incident part, and a light detecting element installed in the package. The light detecting element comprises a first region (23) formed of second conduction-type semiconductor and embedded in a first conduction-type semiconductor crystal layer (22); a second region (24) formed of second conduction-type semiconductor and embedded so as to be spaced from and surround the first region (23); and a conductor layer (31) provided both on at least one part of top surface of the first conduction-type semiconductor layer (22) and on at least one part of top surface of the second region (24). The first region (23) is surrounded by the second conduction-type second region (24). On the surface of the semiconductor crystal layer (22), an electrode (25) is formed on the first region (23), and a reflection preventing layer (26) is formed on that part of the first region (23) inside the electrode (25), and a device protecting film (27) is formed on that part of the first region (23) outside the electrode (25). On the semiconductor crystal layer (22), a metal film (31) is formed in contact both with the semiconductor crystal layer (22) and with the second region (24). This structure enables the second region (24) to capture unnecessary charges and further to recombine and extinguish them.

    광반도체소자
    6.
    发明授权
    광반도체소자 失效
    光学半导体器件

    公开(公告)号:KR100265456B1

    公开(公告)日:2000-10-02

    申请号:KR1019970036435

    申请日:1997-07-31

    Abstract: 본 발명은 광통신이나 광계측에 사용되는 수광소자 등의 광반도체에 사용하는 저용량의 패키지와, 이 패키지와 조합한 광반도체모듈, 특히 포토다이오드모듈에 관한 것으로서, 광반도체소자의 패키지의 정전용량을 작게해서 고속응답성을 높이는 것을 목적으로 한 것이며, 그 구성에 있어서, 핀을 장착하기 위한 패키지의 구멍을 넓게하고 넓은 구멍에 있어서 핀을 절연물에 의해서 고정한다. 칩의 밑바닥 부전극과 접속해야할 핀을 연장하여 선단부를 절곡해서 수평면을 만들고 그 위에 반도체칩을 직접 장착한다. 칩장착부 바로 아래에는 패키지의 금속이 존재하지 않도록 하는 것을 특징으로 한 것이다.

    Abstract translation: 具有宽孔的低电容封装,L形引脚,其它线性引脚,填充在孔中的绝缘材料,用于固定L形引脚和另一个引脚在孔中。 从孔突出,L形销的水平部分与绝缘材料分离,并高于包装表面。 半导体器件芯片直接固定在L形引脚的水平部分上。

    광축조심방법, 광축조심장치, 광학소자의 검사방법, 광학소자의 검사장치, 광학모듈의 제조방법 및 광학모듈의 제조장치
    7.
    发明授权
    광축조심방법, 광축조심장치, 광학소자의 검사방법, 광학소자의 검사장치, 광학모듈의 제조방법 및 광학모듈의 제조장치 失效
    光轴对准方法,光轴对准装置,光学装置的检查方法,光学装置的检查装置,制造光学模块的方法和制造光学模块的装置

    公开(公告)号:KR100227259B1

    公开(公告)日:1999-11-01

    申请号:KR1019960033838

    申请日:1996-08-16

    Abstract: 본 발명은, 광통신이나 광계측에 사용되는 반도체레이저나 수광소자, 광도파로 등의 광학부품과 광파이버 또는 이들의 어레이를 조합할때에 불가결한 광축조심방법과 그 장치, 이 조심방법을 이용한 검사방법과 검사장치, 또 이 조심방법을 이용한 광학모듈의 제조방법, 제조장치에 관한 것으로서 반도체레이저의 광을 렌즈에 의해서 집광하고, 집광점을 찾아서 여기에 광파이버단부면을 합치시키는 조심조작의 개량을 가져다준다. 종래에는 파워미터에 연결된 광파이버의 단부면을 광이 존재하지 않는 점에서 주사를 시작하고, 반도체레이저의 광을 찾고, 광의 일부를 발견한 후에는 광량이 증가하는 방향으로 광파이버를 움직이고 있었다. 광을 발견할때까지 시간이 너무 걸려서 조심코스트가 높아진다. 반도체레이저의 광을 발견하는 시간을 단축하여 전체로서의 조심시간을 짧게하는 것을 목적으로 한것이며, 그 구성에 있어서, 반도체위치검출기와 광파이버를 1개의 지지대에 고정하고, 반도체 위치검출기를 처음에 반도체레이저, 렌즈계에 대향시켜서, 집광점의 위치검출기수광면에서의 위치를 결정한다. 집광점위치와 광파이버위치의 차를 계산할 수 있으므로, 그 만큼 반도체레이저와 광파이버를 상대이동시킨다. 이에 의해서 오차의 범위에서, 반도체레이저집광점과 광파이버단부면이 일치한다. 또 광파이버, 반도체레이저를 상대이동시켜서 광량최대점을 구하는 것을 특징으로 한 것이다.

    광축조심방법, 광축조심장치, 광학소자의 검사방법, 광학소자의 검사장치, 광학모듈의 제조방법 및 광학모듈의 제조장치
    9.
    发明公开
    광축조심방법, 광축조심장치, 광학소자의 검사방법, 광학소자의 검사장치, 광학모듈의 제조방법 및 광학모듈의 제조장치 失效
    光轴对齐方法,光轴对齐方法,光学元件检查方法,光学元件检查装置,光学模块制造方法以及光学模块制造装置

    公开(公告)号:KR1019970011916A

    公开(公告)日:1997-03-27

    申请号:KR1019960033838

    申请日:1996-08-16

    Abstract: 본 발명은 광통신이나 광계측에 사용되는 반도체레이저나 수광소자, 광도파로 등의 광학부품과 광파이버 또는 이들의 어레이를 조합할 때에 불가결한 광축조심방법과 그 장치, 이 조심방법을 이용한 검사방법과 검사 장치, 또 이 조심 방법을 이용한 광학모듈의 제조방법, 제조장치에 과한 것으로서 반도체레이저의 광을 렌즈에 의해서 집광하고, 집광점을 찾아서 여기에 광파이버 단부면을 합치시키는 조심조작의 개량을 가져다 준다. 종래에는 파워미터에 연결된 광파이버의 단부면을 광이 존재하지 않는 점에서 주사를 시작하고, 반도체레이저의 광을 찾고, 광의 일부를 발견한 후에는 광량이 증가하는 방향으로 광파이버를 움직이고 있었다. 광을 발견할 때까지 시간이 너무 걸려서 조심코스트가 높아진다. 반도체레이저의 광을 발견하는 시간을 단축하여 전체로서의 조심시간을 짧게하는 것을 목적으로 한 것이며, 그 구성에 있어서, 반도체위치검출기와 광파이버를 1개의 지지대에 고정하고, 반도체위치검출기를 처음에 반도체레이저, 렌즈계에 대향시켜서, 집광점의 위치검출기수광면에서의 위치를 결정한다. 집광점위치와 광파이버위치의 차를 계산할 수 있으며, 그 만큼 반도체레이저와 광파이버를 상대이동시킨다. 이에 의해서 오차의 범위에서, 반도체레이저집광점과 광파이버단부면이 일치한다. 또 광파이버, 반도체레이저를 상대이동시켜서 광??최대점을 구하는 것을 특징으로 한다.

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