公开(公告)号：KR1020050079525A

公开(公告)日：2005-08-10

申请号：KR1020040008011

申请日：2004-02-06

Applicant: 재단법인서울대학교산학협력재단

Inventor： 김명수 ,  문정희 ,  오주연

IPC: G01N27/62

CPC classification number: G01N27/628 ,  G01N21/631 ,  H01J49/061 ,  H01J49/405

Abstract: 본 발명은 이단계 질량 분석 장치 및 방법에 관한 것으로서, 상기 고분자 시료를 이온화시키는 이온화원과; 상기 이온화된 고분자 시료가 비행한 시간을 바탕으로 동일 질량 클러스터별로 분류하고, 상기 고분자 시료의 딸이온을 생성하는 제1 비행시간형 분석관과; 상기 딸이온의 비행경로를 변경시켜 질량별로 검출하는 제2 비행시간형 분석관;을 포함한다.
본 발명에 의하면, 하나의 어미이온으로부터 분해되어 생성되는 딸이온을 검출, 기록하여 어미이온의 구조적인 정보를 모을 수 있는 효과가 있다.

公开(公告)号：KR100602958B1

公开(公告)日：2006-07-20

申请号：KR1020040008011

申请日：2004-02-06

Applicant: 재단법인서울대학교산학협력재단

Inventor： 김명수 ,  문정희 ,  오주연

IPC: G01N27/62

Abstract: 본 발명은 이단계 질량 분석 장치 및 방법에 관한 것으로서, 상기 고분자 시료를 이온화시키는 이온화원과; 상기 이온화된 고분자 시료가 비행한 시간을 바탕으로 동일 질량 클러스터별로 분류하고, 상기 고분자 시료의 딸이온을 생성하는 제1 비행시간형 분석관과; 상기 딸이온의 비행경로를 변경시켜 질량별로 검출하는 제2 비행시간형 분석관;을 포함한다.
본 발명에 의하면, 하나의 어미이온으로부터 분해되어 생성되는 딸이온을 검출, 기록하여 어미이온의 구조적인 정보를 모을 수 있는 효과가 있다.
고분자 시료, 질량분석, 어미이온, 딸이온, 리플렉트론, 광분해