公开(公告)号：KR1020080027654A

公开(公告)日：2008-03-28

申请号：KR1020060093059

申请日：2006-09-25

Applicant: 재단법인서울대학교산학협력재단

Inventor： 김명수 ,  윤소희 ,  문정희

IPC: G01N27/62

Abstract: A mass spectrometer is provided to improve the resolving power of each spectrum by installing four pairs of deflectors outside ionization source so that the amount of PSD ions at a location where PD laser is irradiated is maximally removed. A mass spectrometer comprises an ionization source(10) subject to a delayed extraction. Ions passing through an ionization source tube reach an ion gate(30). A deflection system(20), including four bipolar deflectors, is interposed between the tube and the ion gate to remove PSD ions. A PD laser(40) is installed next to the ion gate to irradiate laser onto ions that have passed through the ion gate. A detector(60) detects the ions according to the mass thereof.

Abstract translation: 提供质谱仪以通过在电离源外部安装四对偏转器来提高每个光谱的分辨能力，从而最大限度地去除PD激光器照射位置处的PSD离子的量。 质谱仪包括经过延迟提取的电离源（10）。 通过电离源管的离子到达离子门（30）。 包括四个双极偏转器的偏转系统（20）被插入在管和离子门之间以去除PSD离子。 PD激光器（40）安装在离子门旁边以将激光照射到已经通过离子浇口的离子上。 检测器（60）根据其质量检测离子。

公开(公告)号：KR100602958B1

公开(公告)日：2006-07-20

申请号：KR1020040008011

申请日：2004-02-06

Applicant: 재단법인서울대학교산학협력재단

Inventor： 김명수 ,  문정희 ,  오주연

IPC: G01N27/62

Abstract: 본 발명은 이단계 질량 분석 장치 및 방법에 관한 것으로서, 상기 고분자 시료를 이온화시키는 이온화원과; 상기 이온화된 고분자 시료가 비행한 시간을 바탕으로 동일 질량 클러스터별로 분류하고, 상기 고분자 시료의 딸이온을 생성하는 제1 비행시간형 분석관과; 상기 딸이온의 비행경로를 변경시켜 질량별로 검출하는 제2 비행시간형 분석관;을 포함한다.
본 발명에 의하면, 하나의 어미이온으로부터 분해되어 생성되는 딸이온을 검출, 기록하여 어미이온의 구조적인 정보를 모을 수 있는 효과가 있다.
고분자 시료, 질량분석, 어미이온, 딸이온, 리플렉트론, 광분해

公开(公告)号：KR100842867B1

公开(公告)日：2008-07-02

申请号：KR1020060093059

申请日：2006-09-25

Applicant: 재단법인서울대학교산학협력재단

Inventor： 김명수 ,  윤소희 ,  문정희

IPC: G01N27/62

Abstract: 본 발명은 질량분석장치에 관한 것으로, 보다 상세하게는 지연추출(DE)되는 이온화원과; 상기 이온화원튜브를 통과한 이온들이 비행하여 도달하는 이온게이트와; 상기 튜브와 상기 이온게이트 사이에 개재되어 PSD이온을 제거하는 디플렉션 시스템과; 상기 이온게이트 다음에 설치되어 상기 이온게이트를 통과한 이온에 레이저를 조사하는 PD레이저와; 상기 PD레이저를 거친 이온들을 질량별로 검출하는 검출기;를 갖는 질량분석장치에 관한 것이다.
이상과 같이 본 발명에 의하면, 네 쌍의 동일한 디플렉터를 이온화원 밖에 설치하여 PD 레이저가 조사되는 지점에서 PSD 이온의 양을 최대한으로 제거할 수 있으므로, 각 스펙트럼에서 분해능을 향상시키는 결과를 얻었고, 분자 이온의 PD 생성물만의 정보를 얻을 수 있는 효과가 있으며, PSD 이온의 PD 생성물은 스펙트럼에서 마이너 피크로 나타나지만, 질량분석장치를 사용하는 경우 이러한 피크의 기여를 없앨 수 있는 효과가 있다.

公开(公告)号：KR1020050079525A

公开(公告)日：2005-08-10

申请号：KR1020040008011

申请日：2004-02-06

Applicant: 재단법인서울대학교산학협력재단

Inventor： 김명수 ,  문정희 ,  오주연

IPC: G01N27/62

CPC classification number: G01N27/628 ,  G01N21/631 ,  H01J49/061 ,  H01J49/405

Abstract: 본 발명은 이단계 질량 분석 장치 및 방법에 관한 것으로서, 상기 고분자 시료를 이온화시키는 이온화원과; 상기 이온화된 고분자 시료가 비행한 시간을 바탕으로 동일 질량 클러스터별로 분류하고, 상기 고분자 시료의 딸이온을 생성하는 제1 비행시간형 분석관과; 상기 딸이온의 비행경로를 변경시켜 질량별로 검출하는 제2 비행시간형 분석관;을 포함한다.
본 발명에 의하면, 하나의 어미이온으로부터 분해되어 생성되는 딸이온을 검출, 기록하여 어미이온의 구조적인 정보를 모을 수 있는 효과가 있다.