公开(公告)号：WO2019022295A1

公开(公告)日：2019-01-31

申请号：PCT/KR2017/010611

申请日：2017-09-26

Applicant: 전북대학교산학협력단

Inventor： 서연호 ,  조성익

IPC: G01D18/00 ,  G01D3/032 ,  G01D5/22

Abstract: 본 발명은 각도변위 측정장치(RVDT)의 입력신호와 출력신호의 디지털신호를 XOR 위상 검출기를 통해 비교하여 위상차만큼 시간딜레이를 주어 위상오차를 보정할 수 있는 각도 변위 측정용 저면적 위상 보정 회로에 관한 것이다. 본 발명은 각도변위 측정장치(RVDT)의 입력신호와 출력신호의 디지털신호를 XOR 위상 검출기를 통해 비교하여 위상차만큼 입력신호에 시간딜레이를 주어 위상오차를 보정함으로써, 칩 면적을 감소시킬 수 있는 효과가 있다.

公开(公告)号：KR101902119B1

公开(公告)日：2018-11-07

申请号：KR1020170077183

申请日：2017-06-19

Applicant: 전북대학교산학협력단

Inventor： 조성익 ,  진유린 ,  김성미 ,  이민웅 ,  서연호

IPC: H03M1/46 ,  H03M1/00

Abstract: 본발명은 A/D변환기의해상도에따라구비되는커패시터어레이로이루어지는 D/A변환기를스위치드-커패시터로대체하여전력소모와칩 면적을감소시킬수 있는축자비교형 A/D변환기에관한것이다. 본발명은위와같은문제점을해결하기위해커패시터어레이루구성되는 D/A 변환기를스위치드-커패시터 D/A 변환기로대체하여커패시턴스를줄임으로써, 전력소모와칩 면적을감소시킬수 있는효과가있다.

公开(公告)号：KR101931440B1

公开(公告)日：2018-12-20

申请号：KR1020170094259

申请日：2017-07-25

Applicant: 전북대학교산학협력단

Inventor： 서연호 ,  조성익 ,  김성미 ,  이민웅 ,  진유린

IPC: G01D18/00 ,  G01D3/032

Abstract: 본 발명은 각도변위 측정장치(RVDT)의 입력신호와 출력신호의 디지털신호를 XOR 위상 검출기를 통해 비교하여 위상차만큼 시간딜레이를 주어 위상오차를 보정할 수 있는 각도 변위 측정용 저면적 위상 보정 회로에 관한 것이다. 본 발명은 각도변위 측정장치(RVDT)의 입력신호와 출력신호의 디지털신호를 XOR 위상 검출기를 통해 비교하여 위상차만큼 입력신호에 시간딜레이를 주어 위상오차를 보정함으로써, 칩 면적을 감소시킬 수 있는 효과가 있다.