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公开(公告)号：KR101458633B1
公开(公告)日：2014-11-11
申请号：KR1020130014315
申请日：2013-02-08
Applicant: 조선대학교산학협력단
Abstract: 본 발명은 용접용 지그에 관한 것으로서, 더욱 상세하게는 평판 형상의 모재를 맞대기 용접하는 경우 모재에 발생하는 변형력을 측정할 수 있는 용접용 지그에 관한 것이다.
본 발명의 용접용 지그는 베이스테이블과, 베이스테이블의 일측에 설치되어 제 1모재를 상기 베이스테이블에 고정시키는 제 1클램프와, 제 1클램프와 마주하도록 상기 베이스테이블의 타측에 설치되어 상기 제 1모재와 용접되는 제 2모재를 상기 베이스테이블에 고정시키는 제 2클램프와, 제 1 또는 제 2클램프에 설치되어 용접시 제 1모재 또는 제 2모재에서 발생하는 응력을 측정하기 위한 응력측정부를 구비한다.-
公开(公告)号：KR101551486B1
公开(公告)日：2015-09-08
申请号：KR1020140005281
申请日：2014-01-15
Applicant: 조선대학교산학협력단
Abstract: 본발명은전단간섭법을이용한변형측정장치에관한것으로서, 측정대상체를지지할수 있도록지지부와, 지지부에지지된측정대상체에광을조사하는메인광원부와, 측정대상체에조사된후 반사된광을제1경로와제1경로와직교되는방향인제2경로로분할하여출력하는빔스플릿터와, 빔스플릿터에서제1경로로진행되는광을반사시켜빔스플릿터로재입사되게설치된기준미러와, 빔스플릿터에서제2경로로진행되는광을반사시켜빔스플릿터로재입사되게설치된가변미러와, 가변미러를제2경로를중심으로좌우방향및 상하방향에대해틸팅시킬수 있도록된 틸팅부와, 기준미러와가변미러로부터빔스플릿터에재입사되어제3경로로출력되는광을촬상하는촬상부와, 틸팅부를제어하여가변미러의틸팅각도를조정하면서촬상부에의해촬상된간섭무늬를수신하여표시부를통해표시되게처리하는처리유니트를구비한다. 이러한전단간섭법을이용한변형측정장치에의하면, 가변미러가두 축방향에대해기울임이가능하여결함측정정밀도를높일수 있다.
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公开(公告)号：KR1020140101113A
公开(公告)日：2014-08-19
申请号：KR1020130014315
申请日：2013-02-08
Applicant: 조선대학교산학협력단
Abstract: The present invention relates to a jig for welding. In particular, the jig can measure deforming force imposed on a base material when a butt welding process is performed on the planar base materials. The jig for welding of the present invention includes a base table; a first clamp which is installed on one side of the base table to fix a first base material on the base table; a second clamp which is installed on the other side of the base table to face the first clamp and fixes a second base material to be welded with the first base material on the base table; and a stress measuring part which is installed on the first clamp or the second clamp to measure stress generated on the first base material or the second base material.
Abstract translation: 本发明涉及一种焊接用夹具。 特别地，当在平面基材上进行对接焊接工艺时，夹具可以测量施加在基材上的变形力。 本发明的焊接用夹具包括：基台; 第一夹具，其安装在基座的一侧，以将第一基材固定在基台上; 第二夹具，其安装在所述基台的另一侧以面对所述第一夹具，并将与所述第一基材的待焊接的第二基材固定在所述基台上; 以及应力测量部件，其安装在所述第一夹具或所述第二夹具上，以测量在所述第一基材或所述第二基材上产生的应力。
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公开(公告)号：KR1020150085424A
公开(公告)日：2015-07-23
申请号：KR1020140005281
申请日：2014-01-15
Applicant: 조선대학교산학협력단
Abstract: 본발명은전단간섭법을이용한변형측정장치에관한것으로서, 측정대상체를지지할수 있도록지지부와, 지지부에지지된측정대상체에광을조사하는메인광원부와, 측정대상체에조사된후 반사된광을제1경로와제1경로와직교되는방향인제2경로로분할하여출력하는빔스플릿터와, 빔스플릿터에서제1경로로진행되는광을반사시켜빔스플릿터로재입사되게설치된기준미러와, 빔스플릿터에서제2경로로진행되는광을반사시켜빔스플릿터로재입사되게설치된가변미러와, 가변미러를제2경로를중심으로좌우방향및 상하방향에대해틸팅시킬수 있도록된 틸팅부와, 기준미러와가변미러로부터빔스플릿터에재입사되어제3경로로출력되는광을촬상하는촬상부와, 틸팅부를제어하여가변미러의틸팅각도를조정하면서촬상부에의해촬상된간섭무늬를수신하여표시부를통해표시되게처리하는처리유니트를구비한다. 이러한전단간섭법을이용한변형측정장치에의하면, 가변미러가두 축방향에대해기울임이가능하여결함측정정밀도를높일수 있다.
Abstract translation: 本发明涉及一种使用剪切方法的变形测量装置，包括：支撑单元，用于支撑被测量物体; 用于将光照射到由支撑单元支撑的被测量物体的主光源; 分束器，其将被照射到待测量物体上的反射的光分成与第一路径垂直的方向的第一路径和第二路径，并输出光; 基础反射镜，其安装成允许光通过反射从分束器到达第一路径的光线重新进入分束器; 安装的可变镜，以通过反射从分束器到达第二路径的光来允许光重新进入分束器; 倾斜单元，用于基于所述第二路径相对于水平和垂直方向倾斜所述可变镜; 成像单元，用于对从基镜和可变镜重新进入分束器的光进行成像并输出到第三路径; 以及处理单元，通过接收由成像单元成像的干涉条纹，通过控制倾斜单元来调节可变反射镜的倾斜角度，通过显示单元显示干涉条纹。 本发明通过使可变反射镜相对于两轴方向倾斜来提高缺陷测量精度的效果。
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