광위상 측정용 근접장 주사 광학 현미경
    1.
    发明授权
    광위상 측정용 근접장 주사 광학 현미경 有权
    近场扫描光学显微镜用于测量光学相位

    公开(公告)号:KR100549215B1

    公开(公告)日:2006-02-02

    申请号:KR1020040024445

    申请日:2004-04-09

    Abstract: 광위상 측정용 근접장 주사 광학 현미경이 개시되어 있다.
    이 개시된 광위상 측정용 근접장 주사 광학 현미경은, 피검물질에 광을 조사하는 광원; 상기 광원으로부터 조사된 광을 분할하는 빔스프리터; 상기 광원에서 조사된 후 상기 피검물질을 통과한 광을 반사시키는 광학 탐침; 상기 피검물질로부터 나오는 광을 검출하는 광검출기;를 포함하는 것을 특징으로 한다.
    상기 구성에 의해, 본 발명에서는 반사형 광학 탐침을 구비하여 피검 물질에서 반사된 광과 광학 탐침에서 반사된 광의 간섭광을 얻고, 이 간섭광을 검출하여 피검 물질의 내부 구조와 광위상을 측정할 수 있다.

    나노 탐침 반사를 이용한 근접장 파면 측정 간섭계
    2.
    发明授权
    나노 탐침 반사를 이용한 근접장 파면 측정 간섭계 失效
    使用纳米探针反射测量波前的近场干涉仪

    公开(公告)号:KR100648406B1

    公开(公告)日:2006-11-24

    申请号:KR1020040024446

    申请日:2004-04-09

    Abstract: 나노 탐침 반사를 이용한 근접장 파면 측정 간섭계가 개시되어 있다.
    이 개시된 나노 탐침 반사를 이용한 근접장 파면 측정 간섭계는, 피검 물질에 광을 조사하는 광원; 상기 광원으로부터 조사된 광을 분할하는 빔스프리터; 상기 광원에서 조사된 후 상기 피검 물질을 통과한 광을 반사시키는 광학 탐침; 상기 피검 물질로부터 반사된 광과 상기 광학 탐침에서 반사된 광을 간섭시켜 간섭 무늬를 촬영하고, 위상 천이된 간섭 무늬를 촬영하는 고체촬상소자;를 포함하는 것을 특징으로 한다.
    상기 구성에 의해, 본 발명에서는 반사형 광학 탐침을 구비하여 피검 물질에서 반사된 광과 광학 탐침에서 반사된 광의 간섭 무늬를 얻고, 이 간섭 무늬를 위상 천이시켜 피검 물질의 광학적 특성을 측정할 수 있다.

    나노 탐침 반사를 이용한 근접장 파면 측정 간섭계
    3.
    发明公开
    나노 탐침 반사를 이용한 근접장 파면 측정 간섭계 失效
    使用相位移动的光学测量装置

    公开(公告)号:KR1020050099218A

    公开(公告)日:2005-10-13

    申请号:KR1020040024446

    申请日:2004-04-09

    CPC classification number: G01N21/45 G01B9/02007 G01B2290/30 G02B21/002

    Abstract: 위상 천이를 이용한 광학 측정 장치가 개시되어 있다.
    이 개시된 광학 측정 장치는, 피검 물질에 광을 조사하는 광원; 상기 광원으로부터 조사된 광을 분할하는 빔스프리터; 상기 광원에서 조사된 후 상기 피검 물질을 통과한 광을 반사시키는 광학 탐침; 상기 피검 물질로부터 반사된 광과 상기 광학 탐침에서 반사된 광을 간섭시켜 간섭 무늬를 촬영하고, 위상 천이된 간섭 무늬를 촬영하는 고체촬상소자;를 포함하는 것을 특징으로 한다.
    상기 구성에 의해, 본 발명에서는 반사형 광학 탐침을 구비하여 피검 물질에서 반사된 광과 광학 탐침에서 반사된 광의 간섭 무늬를 얻고, 이 간섭 무늬를 위상 천이시켜 피검 물질의 광학적 특성을 측정할 수 있다.

    광위상 측정용 근접장 주사 광학 현미경
    4.
    发明公开
    광위상 측정용 근접장 주사 광학 현미경 有权
    扫描光学测量装置

    公开(公告)号:KR1020050099217A

    公开(公告)日:2005-10-13

    申请号:KR1020040024445

    申请日:2004-04-09

    CPC classification number: G02B21/002 G01N2021/1742 G02B21/04 G02B21/06

    Abstract: 주사 광학 측정 장치가 개시되어 있다.
    이 개시된 주사 광학 측정 장치는, 피검물질에 광을 조사하는 광원; 상기 광원으로부터 조사된 광을 분할하는 빔스프리터; 상기 광원에서 조사된 후 상기 피검물질을 통과한 광을 반사시키는 광학 탐침; 상기 피검물질로부터 나오는 광을 검출하는 광검출기;를 포함하는 것을 특징으로 한다.
    상기 구성에 의해, 본 발명에서는 반사형 광학 탐침을 구비하여 피검 물질에서 반사된 광과 광학 탐침에서 반사된 광의 간섭광을 얻고, 이 간섭광을 검출하여 피검 물질의 내부 구조와 광학적 특성을 측정할 수 있다.

    마이크로 채널이 결합된 나노 탐침 장치
    5.
    发明授权
    마이크로 채널이 결합된 나노 탐침 장치 有权
    微通道集成纳米探针仪器

    公开(公告)号:KR100542655B1

    公开(公告)日:2006-01-11

    申请号:KR1020030030359

    申请日:2003-05-13

    Inventor: 박승한 임상엽

    Abstract: 마이크로 채널이 결합된 나노 탐침 장치가 개시되어 있다.
    이 개시된 나노 탐침 장치는, 베이스에 형성된 적어도 하나의 관통홀의 상부에 구비된 나노미터 단위의 너비를 갖는 적어도 하나의 개구; 상기 적어도 하나의 개구를 덮도록 상기 베이스 위에 결합된 광학적으로 투명한 나노미터 단위의 두께를 갖는 슬라이드; 상기 슬라이드 상부에 결합되어 내부에 시료가 포함된 유체가 흐르도록 된 마이크로 채널;을 포함하고, 상기 적어도 하나의 개구를 통해 순차적으로 또는 동시에 상기 시료의 근접장 광검출을 할 수 있도록 된 것을 특징으로 한다.
    상기 마이크로 채널을 이용하여 유동적인 시료의 광학적 특성을 관측할 수 있고, 특히 생체 시료에 대한 특성을 관측할 수 있다.

    나노 슬라이드가 결합된 나노 탐침 어레이
    6.
    发明授权
    나노 슬라이드가 결합된 나노 탐침 어레이 有权
    纳米滑块集成纳米探针阵列

    公开(公告)号:KR100542654B1

    公开(公告)日:2006-01-11

    申请号:KR1020030030357

    申请日:2003-05-13

    Inventor: 박승한 임상엽

    Abstract: 나노 슬라이드가 결합된 나노 탐침 어레이가 개시되어 있다.
    이 개시된 나노 탐침 어레이는, 베이스에 형성된 복수개의 관통홀의 상부에 마련된 나노미터 너비를 갖는 복수개의 개구; 상기 복수개의 개구들을 덮도록 상기 베이스 위에 결합된 광학적으로 투명한 나노미터 단위의 두께를 갖는 제1 슬라이드;를 포함하여, 상기 각 개구들을 통해 순차적으로 또는 동시에 근접장 광검출을 할 수 있도록 된 것을 특징으로 한다.
    상기 구성에 의해 제작이 용이하고 구조가 간단한 나노 탐침 어레이를 제공할 수 있고, 이 나노 탐침 어레이를 이용하여 대면적 주사가 가능하며, 이층 구조의 나노 탐침 어레이를 이용하여 분해능을 향상시킬 수 있다.

    마이크로 채널이 결합된 나노 탐침 장치
    7.
    发明公开
    마이크로 채널이 결합된 나노 탐침 장치 有权
    微通道一体化纳米探针系统,包括一个或多个开口,幻灯片遮盖和微通道耦合在幻灯片上

    公开(公告)号:KR1020040098154A

    公开(公告)日:2004-11-20

    申请号:KR1020030030359

    申请日:2003-05-13

    Inventor: 박승한 임상엽

    Abstract: PURPOSE: A micro-channel integrated nano-probe system is provided to easily measure optical characteristics of specimens having fluidities by coupling a slide and a micro-channel on openings such that specimens existent in a fluid flow through the micro-channel. CONSTITUTION: A micro-channel integrated nano-probe system comprises one or more openings(13a,15a) arranged on one or more through holes(13,15) formed at a base(10), wherein the openings have nano-meter widths; a slide coupled onto the base in such a manner that the slide covers the openings, wherein the slide is optically transparent and has a nano-meter thickness; and a micro channel(12) coupled onto the slide in such a manner that a fluid(21) containing specimens(T) flows through the micro-channel. The micro-channel integrated nano-probe system sequentially or simultaneously detects near field optical characteristics of specimens through one or more openings.

    Abstract translation: 目的:提供微通道集成纳米探针系统,以通过将滑块和微通道连接在开口上,使样本存在于通过微通道的流体流中,以轻松测量具有流动性的样品的光学特性。 构成:微通道集成纳米探针系统包括布置在形成在基底(10)上的一个或多个通孔(13,15)上的一个或多个开口(13a,15a),其中开口具有纳米宽度; 以滑动件覆盖开口的方式联接到基座上的滑块,其中滑块是光学透明的并且具有纳米厚度; 以及以包含试样(T)的流体(21)流过微通道的方式联接到载玻片上的微通道(12)。 微通道集成纳米探针系统通过一个或多个开口顺序地或同时地检测样品的近场光学特性。

    나노 슬라이드가 결합된 나노 탐침 어레이
    8.
    发明公开
    나노 슬라이드가 결합된 나노 탐침 어레이 有权
    NANO-SLIDE综合纳米探针阵列,包括大量的开放和幻灯片开放

    公开(公告)号:KR1020040098153A

    公开(公告)日:2004-11-20

    申请号:KR1020030030357

    申请日:2003-05-13

    Inventor: 박승한 임상엽

    Abstract: PURPOSE: A nano-slide integrated nano-probe array is provided to sequentially or simultaneously measure near field optical characteristics of nano-structure specimens disposed on a slide arranged to cover openings having nano-meter widths. CONSTITUTION: A nano-slide integrated nano-probe array comprises a plurality of openings(13a,15a) arranged on a plurality of through holes(13,15) formed at a base(10), wherein the openings have nano-meter widths; and a slide(17) coupled onto the base in such a manner that the slide covers the openings, wherein the slide is optically transparent and has a nano-meter thickness. The nano-probe array sequentially or simultaneously measures near field optical characteristics of specimens(T) disposed on the slide, through the openings.

    Abstract translation: 目的:提供纳米滑块集成纳米探针阵列,以顺序或同时测量设置在覆盖具有纳米宽度的开口的载玻片上的纳米结构样品的近场光学特性。 构成:纳米滑片集成纳米探针阵列包括布置在形成在基底(10)上的多个通孔(13,15)上的多个开口(13a,15a),其中开口具有纳米宽度; 以及以滑动件覆盖开口的方式联接到基座上的滑块(17),其中滑块是光学透明的并且具有纳米厚度。 纳米探针阵列依次或同时测量通过开口设置在载玻片上的试样(T)的近场光学特性。

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