Abstract:
PURPOSE: A method is provided which manufactures a selectively patterned thin metal film not using dry etching process, and a method is provided which connects a multilayer metal wiring for memory elements and non-memory elements using the method. CONSTITUTION: The method for selectively depositing a thin metal film comprises a plasma treatment step of discharging 13.56 MHz nitrogen plasma having a certain power onto a substrate(6) which is patterned with a metal diffusion prevention film(7) and an oxide film(8) for a certain period of time under the conditions of certain temperature and pressure; a thin metal film(9) deposition step of depositing a metal material on the plasma treated substrate using an organic chemical deposition process, wherein the diffusion prevention film(7) is a thin titanium nitride(TiN) film, the oxide film(8) is silicon dioxide(SiO2) or borophosphosilicate glass(BPSG), and the plasma treatment is performed under the conditions of a plasma power of 30 W, a pressure of 0.1 to 1 torr, a temperature of an ordinary temperature to 200 deg.C and a treatment time of 30 minutes.
Abstract:
건식 식각공정을 이용하지 않고 선택적으로 패터닝된 금속박막을 제조하는 방법 및 그를 이용한 기억소자 및 비기억소자(이하 "소자")용 다층 금속 연결배선 방법을 제공한다. 확산방지막(TiN) 및 산화막(SiO 2 또는 BPSG)으로 패터닝된 반도체 기판상에 소정 온도, 압력, 주파수 및 전력 조건하에서 질소 플라즈마를 소정 시간동안 방전하여 기판을 플라즈마 처리하고, 그 위에 유기화학증착법을 사용하여 금속원료를 증착하는 금속박막 증착단계로 이루어진다. 본 발명에 의한 선택적 금속박막 증착방법은 종래의 건식 식각공정이나 다마신에 비하여 공정이 간단하고, 우수한 특성의 금속박막을 형성할 수 있으며, 현재 반도체소자의 주배선재료인 알루미늄보다 뛰어난 전기적, 물리적 특성을 갖고 있는 구리를 배선재료로 쓸 수 있게 됨으로써 우수한 특성의 반도체 소자를 제작할 수 있게 되었다.