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公开(公告)号：WO2020050687A1
公开(公告)日：2020-03-12
申请号：PCT/KR2019/011559
申请日：2019-09-06
Applicant: 주식회사 더웨이브톡 , 한국과학기술원
Abstract: 본 발명의 일 실시예는, 시료로부터 출사되는 출사파동을 시계열 순으로 촬영한 복수의 영상을 수신하는 수신부, 상기 시계열 순으로 촬영한 복수의 영상으로부터 시간에 따른 변화의 특징(feature)을 추출하는 검출부, 상기 추출된 특징을 기초로 분류기준을 기계학습하는 학습부 및 상기 분류기준을 기초로 시료에 포함된 미생물의 종류 또는 농도를 구분하는 판단부를 포함하고, 상기 복수의 영상 각각은 상기 시료로 입사되는 파동에 기인하여 상기 미생물에 의해 다중산란(multiple scattering)되어 발생되는 스펙클(speckle) 정보를 포함하는, 미생물 정보 제공 장치를 제공한다.
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公开(公告)号：WO2021172734A1
公开(公告)日：2021-09-02
申请号：PCT/KR2021/000157
申请日：2021-01-07
Abstract: 3차원 굴절률 텐서의 측정 방법 및 장치가 제시된다. 일 실시예에 따른 3차원 굴절률 텐서의 측정 방법은, 평면파의 입사광을 적어도 하나 이상의 각도와 편광으로 제어하는 단계; 및 적어도 하나 이상의 각도와 편광으로 입사된 상기 입사광에 대한 시편의 2차원 회절광을 편광 의존적으로 측정하는 단계를 포함하고, 복굴절이 포함된 상기 시편에서 복굴절률 값과 분자들의 정렬 방향의 3차원 구조를 측정할 수 있다.
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公开(公告)号：WO2017014373A1
公开(公告)日：2017-01-26
申请号：PCT/KR2015/013567
申请日：2015-12-11
Applicant: 한국과학기술원
CPC classification number: G01N21/45 , G01N21/453 , G01N2201/068
Abstract: 파면 제어기를 활용한 초고속 고정밀 3차원 굴절률 측정 방법 및 장치가 제시된다. 파면 제어기를 활용한 초고속 고정밀 3차원 굴절률 측정 방법은 파면 제어기(wavefront shaper)를 사용하여 입사광의 조사 각도 및 파면 패턴 중 적어도 하나를 변경하여 샘플에 입사시키는 단계; 상기 샘플을 통과한 2차원 광학장을 간섭계를 이용하여 적어도 하나 이상의 상기 입사광에 따라 측정하는 단계; 및 측정된 상기 2차원 광학장의 정보를 통해 3차원 굴절률 영상을 획득하는 단계를 포함할 수 있다.
Abstract translation: 公开了一种超高速，高精度三维折射率测量方法和使用波前整形器的装置。 使用波前整形器的超高速，高精度三维折射率测量方法可以包括以下步骤：改变入射光束的照射角度和/或波前图案，以使光束入射 通过使用波前整形器到样品; 根据至少一个入射光束，通过使用干涉仪测量通过样品的二维光场; 并通过所测量的二维光场的信息获取三维折射率图像。
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公开(公告)号：KR101865624B1
公开(公告)日：2018-06-11
申请号：KR1020160072304
申请日：2016-06-10
CPC classification number: G02B21/367 , G01N21/4133 , G01N21/45 , G01N21/6458 , G01N21/6486 , G01N2021/1787 , G01N2201/0635 , G02B21/16 , G02B26/0833 , G02B27/46 , G03H1/0005 , G03H2001/005
Abstract: 파면제어기를이용한초고속 3차원굴절률영상촬영및 형광구조화조도현미경시스템및 이를이용한방법이제시된다. 파면제어기를이용한초고속 3차원굴절률영상촬영및 형광구조화조도현미경시스템을이용한방법은, 파면제어기(Wavefront Shaper)를이용하여샘플에입사되는평면파의조사각도를조절하는단계; 상기평면파의조사각도에따른상기샘플을통과한 2차원광학장을측정하는단계; 및측정된상기 2차원광학장의정보를광회절단층촬영법(optical diffraction tomography) 또는여과된역투사알고리즘(filtered back projection algorithm)을이용하여 3차원굴절률영상을획득하는단계를포함할수 있다.
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：KR1020170140459A
公开(公告)日：2017-12-21
申请号：KR1020160072304
申请日：2016-06-10
CPC classification number: G02B21/367 , G01N21/4133 , G01N21/45 , G01N21/6458 , G01N21/6486 , G01N2021/1787 , G01N2201/0635 , G02B21/16 , G02B26/0833 , G02B27/46 , G03H1/0005 , G03H2001/005
Abstract: 파면제어기를이용한초고속 3차원굴절률영상촬영및 형광구조화조도현미경시스템및 이를이용한방법이제시된다. 파면제어기를이용한초고속 3차원굴절률영상촬영및 형광구조화조도현미경시스템을이용한방법은, 파면제어기(Wavefront Shaper)를이용하여샘플에입사되는평면파의조사각도를조절하는단계; 상기평면파의조사각도에따른상기샘플을통과한 2차원광학장을측정하는단계; 및측정된상기 2차원광학장의정보를광회절단층촬영법(optical diffraction tomography) 또는여과된역투사알고리즘(filtered back projection algorithm)을이용하여 3차원굴절률영상을획득하는단계를포함할수 있다.
Abstract translation: 介绍了使用波前控制器和荧光显微镜系统的超高速三维折射率成像及使用该系统的方法。 使用波前控制器的超高速三维折射率成像和使用显微镜系统的荧光构造方法包括以下步骤：使用波前成形器调整入射到样本上的平面波的照射角度; 根据平面波的角度测量穿过样本的二维光场; 并且获取使用光学衍射层析成像或经过滤的反投影算法测量的二维光学场的信息以获得三维折射率图像。
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公开(公告)号：KR101875515B1
公开(公告)日：2018-07-10
申请号：KR1020160153420
申请日：2016-11-17
Abstract: 디지털마이크로미러소자를활용한구조입사 3차원굴절률토모그래피장치및 방법이제시된다. 일실시예에따른디지털마이크로미러소자(Digital Micromirror Device, DMD)를활용한구조입사 3차원굴절률토모그래피장치는광원으로부터조사된빛을디지털마이크로미러소자를이용하여연속적인구조화된입사광으로만드는구조화된입사광생성부; 및상기구조화된입사광을샘플에통과시켜카메라를통해 3차원굴절률영상을획득하는 3차원굴절률영상부를포함하여이루어질수 있다.
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公开(公告)号：KR101832068B1
公开(公告)日：2018-02-23
申请号：KR1020160138955
申请日：2016-10-25
Applicant: 한국과학기술원
CPC classification number: G03H1/0866 , G02B26/06 , G03H1/22 , G03H2223/23
Abstract: 광위상공액을이용한단화소홀로그래픽이미징방법및 시스템이개시된다. 단화소홀로그래픽이미징시스템은기정의된파면을갖는광을방사하는광원, 상기광원에서방사된광을입사받아회절시키는시편, 상기시편에의해회절된광의파면을상기기정의된파면으로변환하는파면제어기, 및상기파면제어기로부터파면이제어된광을입력받아홀로그래픽이미징을구현하는단화소광 검출기(bucket detector)를포함할수 있다.
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