Patent search ap:("한국과학기술원") AND inv:"정칠성" Page 1

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发明授权
실리콘 드리프트 디텍터를 이용한 엑스선 검출용 방사선 검출기 有权

公开(公告)号：KR101749920B1

公开(公告)日：2017-06-22

申请号：KR1020160024859

申请日：2016-03-02

Applicant: 한국과학기술원

Inventor： 김경태 , 양준모 , 유정호 , 송명호 , 현문섭 , 정칠성

IPC: G01T1/24 , G01T1/17 , G01T1/36

Abstract: 본발명에따른실시예들은특성 X 선이입사되는 SDD에서불필요하게발생되는암전류성분을스키밍(skimming)할수 있을뿐만아니라특성 X 선이입사되는 SDD의애노드전압을안정화시킬수 있는구성을가짐으로써, 기존에제시된 X 선검출기들에비하여보다향상된 X선검출성능을제공할수 있다.

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