위상반전 포토마스크 형성방법
    2.
    发明授权
    위상반전 포토마스크 형성방법 失效
    PHASE SHIFT PHOTO MASK

    公开(公告)号:KR1019940000918B1

    公开(公告)日:1994-02-04

    申请号:KR1019910006834

    申请日:1991-04-27

    Abstract: A chroma layer (12) on a mask layer (11) is etched with the help of a photo resisting layer (13). A first phase shifting layer (14) is fabricated on the patterned chrome layer (12), a second phase shifting layer (15) on the first phase shifting layer. A second photo resist mask (15a) is built on the second phase shifting layer (15). The first phase shifting layer (14) is etched to form a first phase-shift mask (14a) and a second phase-shift mask (15a).

    Abstract translation: 借助于光阻层(13)蚀刻掩模层(11)上的色度层(12)。 在图案化铬层(12)上制造第一相移层(14),在第一移相层上制造第二相移层(15)。 在第二移相层(15)上构建第二光刻胶掩模(15a)。 蚀刻第一相移层(14)以形成第一相移掩模(14a)和第二相移掩模(15a)。

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