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公开(公告)号：WO2018074646A1
公开(公告)日：2018-04-26
申请号：PCT/KR2016/012116
申请日：2016-10-27
Applicant: 한국표준과학연구원
Abstract: 본 발명은 전자파 임피던스 측정 장치를 제공한다. 이 전자파 임피던스 측정 장치는 제1 포트 및 제2 포트를 포함하는 주파수에 따라 산란 파라미터를 측정하는 네트워크 분석기; 및 상기 제1 포트 및 제2 포트에 동축 케이블로 연결되고, 도전층 사이를 연결하는 비아를 포함하고, 적어도 최상부층 및 최하부층, 중간층을 포함하는 3층 이상의 도전층을 포함하는 다층 기판을 포함한다. 상기 다층 기판은, 상기 최상부층과 상기 최하부층 사이에 배치된 테스트 시료; 상기 최상부층과 상기 최하부층 사이에 배치된 쓰루(Through) 교정 시료; 상기 최상부층과 상기 최하부층 사이에 배치된 반사(Reflect) 교정 시료; 및 상기 최상부층과 상기 최하부층 사이에 배치된 라인(Line) 교정 시료;를 포함한다. 상기 테스트 시료, 쓰루 교정 시료, 반사 교정 시료, 및 라인 교정 시료 각각은 동일한 구조의 상기 비아를 포함하는 제1 에러 박스 및 제2 에러 박스에 의하여 연결된다.
Abstract translation: 本发明提供了一种电磁阻抗测量装置。 该电磁阻抗测量装置包括：网络分析仪，用于根据包括第一端口和第二端口的频率测量散射参数; 它包括包括包括同轴电缆和所述端口和第二端口的第一连接导电层的三层或更多层的多层基板，并包括通过所述导电层电连接，至少一个顶层和底层，中间层 的。 该多层基板包括：设置在顶层和底层之间的测试样品; 设置在顶层和底层之间的通过校准样品; 位于顶层和底层之间的反射校准样品; 并且在顶层和底层之间布置线校准样本。 测试样品中的每一个，通过反射校准样品，校准和采样线的校准样品被第一错误和经由具有相同的结构包含第二错误盒箱连接。
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公开(公告)号：WO2023074981A1
公开(公告)日：2023-05-04
申请号：PCT/KR2021/016146
申请日：2021-11-08
Applicant: 한국표준과학연구원
Abstract: 본 발명은 증기셀 및 증기셀 온도 제어 시스템에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 레이저를 이용하여 전자기장의 왜곡 없이 증기셀의 온도를 제어하는 증기셀 및 증기셀 온도 제어 시스템에 관한 것이다. 본 발명의 일 실시예에 따른 증기셀은, 반응성 물질이 수용되는 공간인 관통부를 구비하는 몸체 및 상기 몸체의 외부 표면의 일부에 구비되는 검은 물질을 포함할 수 있다. 본 발명의 일 실시예에 따르면, 원자계를 이용한 전자기장 측정 시 왜곡을 최소화하고 온도 제어 장치에 의한 노이즈를 제거함으로써 미세 자기장 및 밀리미터파 대역의 전자파의 세기 및 위상을 측정할 수 있다는 이점이 있다.
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公开(公告)号：WO2021230628A1
公开(公告)日：2021-11-18
申请号：PCT/KR2021/005895
申请日：2021-05-11
Applicant: 한국표준과학연구원
Abstract: 본 실시예에 의한 주파수 선택 표면(FSS, frequency selective surface) 필터 설계 방법은 목표로 하는 주파수 응답 특성에 매우 근접한 주파수 응답 특성을 주는 주파수 선택 표면 필터의 형상을 직접 찾아낸다. 필터의 형상은 단위 셀들의 전체적인 형상으로 결정된다. 즉, 픽셀들이 금속으로 채워지거나 비워진 상태들의 조합으로 표현된다. 해당 조합 최적화 문제를 광역 최적화 방법으로 풀어서 얻어내는 것이다. 본 실시예는 유전 알고리즘, 국소 최적화, 풀림시늉(simulated annealing) 방법들을 동원하여 후보 해들의 다양성을 확보하는 주파수 선택 표면 필터의 광역 최적화 기반 설계 방법이다.
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：WO2018043941A1
公开(公告)日：2018-03-08
申请号：PCT/KR2017/008593
申请日：2017-08-09
Applicant: 한국표준과학연구원
Abstract: 본 발명은 거리 측정 장치에 관한 것이다. 본 발명의 거리 측정 장치는 이미지 센서 및 이미지 센서 구동부를 포함한다. 이미지 센서는 포토다이오드, 제1 커패시터 및 제2 커패시터, 그리고 포토다이오드의 출력을 제1 커패시터 및 제2 커패시터로 각각 전달하는 제1 전송 게이트 및 제2 전송 게이트를 포함한다. 이미지 센서 구동부는 제1 전송 게이트 및 제2 전송 게이트를 상보적으로 구동한다.
Abstract translation: 距离测量装置技术领域本发明涉及一种距离测量装置。 本发明的距离测量装置包括图像传感器和图像传感器驱动器。 图像传感器包括光电二极管，第一电容器和第二电容器以及用于将光电二极管的输出分别转移到第一电容器和第二电容器的第一传输门和第二传输门。 图像传感器驱动单元补充地驱动第一传输门和第二传输门。
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公开(公告)号：KR1020180042044A
公开(公告)日：2018-04-25
申请号：KR1020160134613
申请日：2016-10-17
Applicant: 한국표준과학연구원
IPC: G01R27/28 , G01R29/08 , G01R35/00 , G01R31/319 , H01L23/538
CPC classification number: G01R27/28 , G01R29/08 , G01R31/319 , G01R35/00 , H01L23/538 , G01R29/0892 , G01R31/3191 , G01R35/005 , H01L23/5383 , H01L23/5384
Abstract: 본발명은전자파임피던스측정장치를제공한다. 이전자파임피던스측정장치는제1 포트및 제2 포트를포함하는주파수에따라산란파라미터를측정하는네트워크분석기; 및상기제1 포트및 제2 포트에동축케이블로연결되고, 도전층사이를연결하는비아를포함하고, 적어도최상부층및 최하부층, 중간층을포함하는 3층이상의도전층을포함하는다층기판을포함한다. 상기다층기판은, 상기최상부층과상기최하부층사이에배치된테스트시료; 상기최상부층과상기최하부층사이에배치된쓰루(Through) 교정시료; 상기최상부층과상기최하부층사이에배치된반사(Reflect) 교정시료; 및상기최상부층과상기최하부층사이에배치된라인(Line) 교정시료;를포함한다. 상기테스트시료, 쓰루교정시료, 반사교정시료, 및라인교정시료각각은동일한구조의상기비아를포함하는제1 에러박스및 제2 에러박스에의하여연결된다.
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公开(公告)号：KR101774779B1
公开(公告)日：2017-09-06
申请号：KR1020160114037
申请日：2016-09-05
Applicant: 한국표준과학연구원
CPC classification number: G01C11/06 , G06T7/55 , G06T7/70 , H04N5/232 , H04N5/23212
Abstract: 본발명은거리측정장치에관한것이다. 본발명의거리측정장치는이미지센서및 이미지센서구동부를포함한다. 이미지센서는포토다이오드, 제1 커패시터및 제2 커패시터, 그리고포토다이오드의출력을제1 커패시터및 제2 커패시터로각각전달하는제1 전송게이트및 제2 전송게이트를포함한다. 이미지센서구동부는제1 전송게이트및 제2 전송게이트를상보적으로구동한다.
Abstract translation: 距离测量装置本发明涉及一种距离测量装置。 本发明的距离测量装置包括图像传感器和图像传感器驱动器。 图像传感器包括光电二极管，第一电容器和第二电容器以及用于将光电二极管的输出分别转移到第一电容器和第二电容器的第一传输门和第二传输门。 图像传感器驱动单元互补地驱动第一传输门和第二传输门。
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公开(公告)号：KR101852484B1
公开(公告)日：2018-04-26
申请号：KR1020160134613
申请日：2016-10-17
Applicant: 한국표준과학연구원
IPC: G01R27/28 , G01R29/08 , G01R35/00 , G01R31/319 , H01L23/538
CPC classification number: G01R27/28 , G01R29/08 , G01R31/319 , G01R35/00 , H01L23/538
Abstract: 본발명은전자파임피던스측정장치를제공한다. 이전자파임피던스측정장치는제1 포트및 제2 포트를포함하는주파수에따라산란파라미터를측정하는네트워크분석기; 및상기제1 포트및 제2 포트에동축케이블로연결되고, 도전층사이를연결하는비아를포함하고, 적어도최상부층및 최하부층, 중간층을포함하는 3층이상의도전층을포함하는다층기판을포함한다. 상기다층기판은, 상기최상부층과상기최하부층사이에배치된테스트시료; 상기최상부층과상기최하부층사이에배치된쓰루(Through) 교정시료; 상기최상부층과상기최하부층사이에배치된반사(Reflect) 교정시료; 및상기최상부층과상기최하부층사이에배치된라인(Line) 교정시료;를포함한다. 상기테스트시료, 쓰루교정시료, 반사교정시료, 및라인교정시료각각은동일한구조의상기비아를포함하는제1 에러박스및 제2 에러박스에의하여연결된다.
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