검사 및 메트롤로지를 위한 장치 및 방법
    1.
    发明公开
    검사 및 메트롤로지를 위한 장치 및 방법 审中-公开
    用于检查和计量的设备和方法

    公开(公告)号:KR20180030197A

    公开(公告)日:2018-03-21

    申请号:KR20187004719

    申请日:2016-07-05

    CPC classification number: G03F7/70633 G03F7/705 G03F7/70625

    Abstract: 타겟으로부터의갭에서광학구성요소를이용하여측정되는타겟에대한방사선세기분포를수반하는방법이개시되며, 상기방법은: 측정된방사선세기분포및 타겟을설명하는수학적모델을이용하여관심파라미터의값을결정하는단계를포함하고, 상기모델은광학구성요소의표면또는그 일부분의거칠기에대한유효매질근사를포함한다.

    Abstract translation: 公开了一种方法,该方法涉及使用在距目标的间隙中的光学部件测量的目标的辐射强度分布,该方法包括:使用描述测量的辐射强度分布和目标的数学模型, 其中该模型包括对光学部件或其一部分的表面的粗糙度的有效介质近似。

    METHOD AND APPARATUS FOR INSPECTION AND METROLOGY
    3.
    发明申请
    METHOD AND APPARATUS FOR INSPECTION AND METROLOGY 审中-公开
    检验和计量方法与装置

    公开(公告)号:WO2016142214A3

    公开(公告)日:2017-04-06

    申请号:PCT/EP2016054310

    申请日:2016-03-01

    Abstract: A method of position control of an optical component relative to a surface is disclosed. The method may include: obtaining a first signal by a first position measurement process; controlling relative movement between the optical component and the surface for a first range of motion using the first signal; obtaining a second signal by a second position measurement process different than the first position measurement process; and controlling relative movement between the optical component and the surface for a second range of motion using the second signal, the second range of motion being nearer the surface than the first range of motion.

    Abstract translation: 公开了一种光学部件相对于表面的位置控制的方法。 该方法可以包括:通过第一位置测量处理获得第一信号; 使用所述第一信号来控制所述光学部件和所述表面之间的第一运动范围的相对运动; 通过与第一位置测量处理不同的第二位置测量处理获得第二信号; 以及使用所述第二信号来控制所述光学部件和所述表面之间的相对运动的第二运动范围,所述第二运动范围比所述第一运动范围更靠近所述表面。

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