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公开(公告)号：CN100538570C
公开(公告)日：2009-09-09
申请号：CN200510104149.5
申请日：2005-09-14
Applicant: C.R.F.阿西安尼顾问公司
CPC classification number: B23K26/032
Abstract: 本发明涉及一种监控工业过程的系统，它包括：传感器装置(7；17)，用于检测至少一个加工站(20)中的一个或多个过程参数；捕获和处理装置(8，9；32)，它对所述传感器装置(7；17)产生的信号(R)起作用以便获得过程质量信息(Q)；以及制造流程管理装置(9；19)，它根据所述过程质量信息(Q)进行工作。所述捕获和处理装置(32)就地设置在所述至少一个加工站(20)中，所述制造流程管理装置(19)设置在相对于所述捕获和处理装置(32)的远程位置，还配备有无线收发信机装置(42，43)，用于在所述捕获和处理装置(32)和所述制造流程管理装置(19)之间交换所述过程质量信息(Q)。
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公开(公告)号：CN101267910A
公开(公告)日：2008-09-17
申请号：CN200680034726.0
申请日：2006-09-19
Applicant: C.R.F.阿西安尼顾问公司
IPC: B23K26/03
Abstract: 这里描述了一种控制激光焊接过程的质量的方法，例如由不同厚度和/或性质的金属薄片(“裁剪坯料”)元件构成的半成品的激光焊接，所述方法为包括下面步骤的类型：检测在焊接区域(2，3)中产生的辐射(E*)并且发出指示所述辐射的信号(E*)；获取并且处理指示所述辐射的所述信号(E*)；将指示所述辐射的所述信号(E*)分成块；计算(205)每个块的块平均值(u)和块标准偏差(o)的数值；以及在于提供包括块平均值(u)和标准偏差数值(o)的输入数值用于识别缺陷和/或孔隙以及缺少穿透性。
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公开(公告)号：CN1797250A
公开(公告)日：2006-07-05
申请号：CN200510118825.4
申请日：2005-10-28
Applicant: C.R.F.阿西安尼顾问公司
IPC: G05B19/401 , G08C17/02 , B23K15/00
CPC classification number: G05B19/41875 , G05B2219/25186 , G05B2219/37494 , Y02P90/04 , Y02P90/18 , Y02P90/22
Abstract: 本发明的监控生产过程的系统包括：在至少一个工作站(20)检测一个或多个工序质量的传感部件(7、17)；获得传感部件(7、17)发射的测量信号(R)的捕获部件(8、32、32′32″)；按获取工序信息的捕获部件(8)生成的信号(T、T1)工作的处理部件(9、19)；以及按关于工序质量的信息工作的管理制造流程的部件(9、19)。捕获部件(32)本地地设置在至少一个工作站(20)，包含将传感部件(17)生成的测量信号(R)编码为编码信号的部件(33)；管理制造流程的部件(19)设在捕获部件(32)的远程位置，有与捕获部件(32)连接的无线收发部件(42)，无线收发部件(42)将捕获部件(32)生成的编码信号(T、T1)发送给管理制造流程的部件(19)。
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公开(公告)号：CN100464270C
公开(公告)日：2009-02-25
申请号：CN200510063745.3
申请日：2005-03-24
Applicant: C.R.F.阿西安尼顾问公司
Abstract: 一种控制生产过程质量的方法，包含下列步骤：获取一个或多个与生产过程相关的参考信号(xref)；获取一个或多个表示所述生产过程质量的真实信号(xreal)；将所述一个或多个参考信号(xref)与所述一个或多个真实信号(xreal)比较，确认所述生产过程中的缺陷。所述比较操作包括：比较所述参考变换信号(Xref_inv_norm)和所述真实变换信号(Xreal_inv_norm)所对应的能量(Eref、Ereal)，为选定的频率值(f_e)提取相应的时间频率分布(Tfdref、Tfdreal)；计算所述时间频率分布(Tfdref、Tfdreal)的能量(Etref、Etreal)；将所述时间频率分布(Tfdref、Tfdreal)的能量(Etref、Etreal)与临界值(max_Tfdref)比较，以确定与缺陷相关联的能量值。
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公开(公告)号：CN1763673A
公开(公告)日：2006-04-26
申请号：CN200510104149.5
申请日：2005-09-14
Applicant: C.R.F.阿西安尼顾问公司
CPC classification number: B23K26/032
Abstract: 本发明涉及一种监控工业过程的系统，它包括：传感器装置(7；17)，用于检测至少一个加工站(20)中的一个或多个过程参数；捕获和处理装置(8，9；32)，它对所述传感器装置(7；17)产生的信号(R)起作用以便获得过程质量信息(Q)；以及制造流程管理装置(9；19)，它根据所述过程质量信息(Q)进行工作。所述捕获和处理装置(32)就地设置在所述至少一个加工站(20)中，所述制造流程管理装置(19)设置在相对于所述捕获和处理装置(32)的远程位置，还配备有无线收发信机装置(42，43)，用于在所述捕获和处理装置(32)和所述制造流程管理装置(19)之间交换所述过程质量信息(Q)。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN1670648A
公开(公告)日：2005-09-21
申请号：CN200510055816.5
申请日：2005-03-16
Applicant: C.R.F.阿西安尼顾问公司
CPC classification number: G05B19/41875 , B23K26/032 , B23K31/125 , G05B23/0221 , G05B2219/32186 , G05B2219/45138 , Y02P90/22
Abstract: 用于控制工业过程的质量的方法，包含：获得与该工业过程相关的一个或多个参考信号，获取指示工业过程质量的一个或多个实际信号，比较所述一个或多个参考信号与所述一个或多个实际信号，识别工业过程中的缺陷。该方法还包含：根据所述参考信号获得实部和虚部；根据所述实际信号获得实部和虚部；计算根据所述参考信号获得的所述实部和虚部之间的第一比较量；计算根据所述实际信号获得的所述实部和虚部之间的第二比较量；比较第一比较量和第二比较量，获得与缺陷的存在相关的时间位置信息。
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公开(公告)号：CN101267910B
公开(公告)日：2012-10-31
申请号：CN200680034726.0
申请日：2006-09-19
Applicant: C.R.F.阿西安尼顾问公司
IPC: B23K26/03
Abstract: 这里描述了一种控制激光焊接过程的质量的方法，例如由不同厚度和/或性质的金属薄片(“裁剪坯料”)元件构成的半成品的激光焊接，所述方法为包括下面步骤的类型：检测在焊接区域(2，3)中产生的辐射(E*)并且发出指示所述辐射的信号(E*)；获取并且处理指示所述辐射的所述信号(E*)；将指示所述辐射的所述信号(E*)分成块；计算(205)每个块的块平均值(u)和块标准偏差(o)的数值；以及在于提供包括块平均值(u)和标准偏差数值(o)的输入数值用于识别缺陷和/或孔隙以及缺少穿透性。
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公开(公告)号：CN1797250B
公开(公告)日：2010-12-08
申请号：CN200510118825.4
申请日：2005-10-28
Applicant: C.R.F.阿西安尼顾问公司
IPC: G05B19/401 , G08C17/02 , B23K15/00
CPC classification number: G05B19/41875 , G05B2219/25186 , G05B2219/37494 , Y02P90/04 , Y02P90/18 , Y02P90/22
Abstract: 本发明的监控生产过程的系统包括：在至少一个工作站(20)检测一个或多个工序质量的传感部件(7、17)；获得传感部件(7、17)发射的测量信号(R)的捕获部件(8、32、32′、32″)；按获取工序信息的捕获部件(8)生成的信号(T、T1)工作的处理部件(9、19)；以及按关于工序质量的信息工作的管理制造流程的部件(9、19)。捕获部件(32)本地地设置在至少一个工作站(20)，包含将传感部件(17)生成的测量信号(R)编码为编码信号的部件(33)；管理制造流程的部件(19)设在捕获部件(32)的远程位置，有与捕获部件(32)连接的无线收发部件(42)，无线收发部件(42)将捕获部件(32)生成的编码信号(T、T1)发送给管理制造流程的部件(19)。
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公开(公告)号：CN100464269C
公开(公告)日：2009-02-25
申请号：CN200510055816.5
申请日：2005-03-16
Applicant: C.R.F.阿西安尼顾问公司
CPC classification number: G05B19/41875 , B23K26/032 , B23K31/125 , G05B23/0221 , G05B2219/32186 , G05B2219/45138 , Y02P90/22
Abstract: 用于控制工业过程的质量的方法，包含：获得与该工业过程相关的一个或多个参考信号，获取指示工业过程质量的一个或多个实际信号，比较所述一个或多个参考信号与所述一个或多个实际信号，识别工业过程中的缺陷。该方法还包含：根据所述参考信号获得实部和虚部；根据所述实际信号获得实部和虚部；计算根据所述参考信号获得的所述实部和虚部之间的第一比较量；计算根据所述实际信号获得的所述实部和虚部之间的第二比较量；比较第一比较量和第二比较量，获得与缺陷的存在相关的时间位置信息。
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公开(公告)号：CN1713098A
公开(公告)日：2005-12-28
申请号：CN200510063745.3
申请日：2005-03-24
Applicant: C.R.F.阿西安尼顾问公司
Abstract: 一种控制生产过程质量的方法，包含下列步骤：获取一个或多个与生产过程相关的参考信号(xref)；获取一个或多个表示所述生产过程质量的真实信号(xreal)；将所述一个或多个参考信号(xref)与所述一个或多个真实信号(xreal)比较，确认所述生产过程中的缺陷。所述比较操作包括：比较所述参考变换信号(Xref_inv_norm)和所述真实变换信号(Xreal_inv_norm)所对应的能量(Eref、Ereal)，为选定的频率值(f_e)提取相应的时间频率分布(Tfdref、Tfdreal)；计算所述时间频率分布(Tfdref、Tfdreal)的能量(Etref、Etreal)；将所述时间频率分布(Tfdref、Tfdreal)的能量(Etref、Etreal)与临界值(max_Tfdref)比较，以确定与缺陷相关联的能量值。
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