Halbleitervorrichtung mit Abstrahlungsbauteilen

    公开(公告)号:DE10066441B4

    公开(公告)日:2012-10-18

    申请号:DE10066441

    申请日:2000-11-24

    Applicant: DENSO CORP

    Abstract: Eine Halbleitervorrichtung, mit: ersten und zweiten Halbleiterchips (1a, 1b); und ersten und zweiten Abstrahlungsbauteilen (3, 4), welche über ein Verbindungsbauteil (4) thermisch und elektrisch mit den ersten und zweiten Halbleiterchips in Verbindung stehen, welche zwischen ihnen liegen und eine Abstrahlungsoberfläche (10) aufweisen zur Abstrahlung von Wärme von den ersten und zweiten Halbleiterchips, wobei das erste Abstrahlungsbauteil erste und zweite vorstehende Abschnitte (2a) hat, welche in Richtung der ersten und zweiten Halbleiterchips vorstehen; erste und zweite vordere Endabschnitte der ersten und zweiten vorstehenden Abschnitte thermisch und elektrisch mit den ersten und zweiten Halbleiterchips über die Verbindungsbauteile in Verbindung stehen, die ersten und zweiten Halbleiterchips und die ersten und zweiten Abstrahlungsbauteile mit einem Kunstharz (9) eingesiegelt sind, welches einen thermischen Ausdehnungskoeffizienten hat, der annähernd gleich demjenigen der ersten und zweiten Abstrahlungsbauteile ist, und das Kunstharz (9) jeweils teilweise zwischen dem ersten Abstrahlunsbauteil und den Halbleiterchips und...

    4.
    发明专利
    未知

    公开(公告)号:DE102004043523A1

    公开(公告)日:2005-05-12

    申请号:DE102004043523

    申请日:2004-09-08

    Applicant: DENSO CORP

    Abstract: A semiconductor device includes a heat generation element; a bonding member; first and second heat radiation plates disposed on first and second sides of the heat generation element through the bonding member; a heat radiation block disposed between the first heat radiation plate and the heat generation element through the bonding member; and a resin mold. The heat radiation block has a thickness in a range between 0.5 mm and 1.5 mm. The semiconductor device has high reliability of the bonding member.

    Verfahren zur Herstellung einer Halbleitervorrichtung

    公开(公告)号:DE102004060378B4

    公开(公告)日:2014-08-28

    申请号:DE102004060378

    申请日:2004-12-15

    Applicant: DENSO CORP

    Abstract: Verfahren zur Herstellung einer Halbleitervorrichtung (S1), mit den Schritten: Bereitstellen von Halbleiterelementen (10, 11), welche an einer vorderen Hauptoberfläche und einer rückwärtigen Hauptoberfläche jeweils Elektroden aufweisen, Bereitstellen eines ersten Metallteils (20), welches an der rückwärtigen Hauptoberflächenseite der Halbleiterelemente (10, 11) angeordnet ist und als Elektrode und als Abstrahlungsteil dient, Bereitstellen eines zweiten Metallteils (30), welches an der vorderen Hauptoberflächenseite der Halbleiterelemente (10, 11) angeordnet ist und als eine Elektrode und ein Abstrahlungsteil dient, wobei die Halbleiterelemente (10, 11), das erste Metallteil (20) und das zweite Metallteil (30) eine Verbundeinheit (90) bilden, Anordnen der Verbundeinheit (90) in einer Gußform mit Einspritzöffnungen derart, dass bei einem Einspritzen von Vergußmaterial (80) in die Gußform ein dickwandiger Abschnitt um die Verbundeinheit herum und ein dünnwandiger Abschnitt innerhalb der Verbundeinheit gebildet werden, Anordnen von wenigstens einem Behinderungsabschnitt (81, 82, 83, 84, 85) in dem dickwandigen Abschnitt, um den Fluß des Vergußmaterials (80) während eines Vergußvorgangs in dem dickwandigen Abschnitt an den Fluß des Vergußmaterials (80) in dem dünnwandigen Abschnitt anzugleichen, so daß das Auftreten von eingeschlossenen Luftblasen in dem dünnwandigen Abschnitt verhindert wird, wobei der zuletzt zu füllende Teil der dickwandige Abschnitt gegenüber den Einspritzöffnungen wird, Einfüllen des Vergußmaterials (80) in die Gußform, um die Verbundeinheit (90) zu verkapseln, und Entnehmen der Halbleitervorrichtung (S1) aus der Gußform nach einem Aushärten des Vergußmaterials (80).

    10.
    发明专利
    未知

    公开(公告)号:DE102004014709A1

    公开(公告)日:2004-10-21

    申请号:DE102004014709

    申请日:2004-03-25

    Applicant: DENSO CORP

    Abstract: A power element package includes a semiconductor chip, radiating members, a mold resin member, a lead terminal for control signals, and lead terminals for large electric current. On a heat accepting surface of the radiating member, an insulating layer and a conductive layer are disposed. The lead terminal for control signals is electrically connected with a gate of the semiconductor chip through the conductive layer. An emitter of the semiconductor chip is electrically connected through a solder connection member with a non-insulating portion of the heat accepting surface.

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