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公开(公告)号：AU2021206028A1
公开(公告)日：2022-06-09
申请号：AU2021206028
申请日：2021-01-08
Applicant: ESSILOR INT
Inventor： HAMLAOUI SAMY , CALEFF FLORIAN , GUEU STÉPHANE , SUSSET ARNAUD , MURADORE FABIEN , WANG NING
IPC: G01M11/02
Abstract: This method for retrieving at least one optical parameter of an ophthalmic lens comprises: obtaining (10) an image of a first and second patterns by using an image capture device located at a first position; from that image, obtaining (12) a first set of data from at least a part of the first pattern that is seen through the lens by the image capture device and obtaining (14) a second set of data from at least a part of the second pattern that is seen directly i.e. outside the lens by the image capture device; retrieving (16) the at least one optical parameter by using the first and second sets of data and taking account of relative positions of the image capture device, the lens and the first and second patterns.
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：MX2015007045A
公开(公告)日：2015-09-28
申请号：MX2015007045
申请日：2012-12-04
Applicant: ESSILOR INT
Inventor： GUEU STÉPHANE , POPHILLAT OLIVIER
Abstract: Un soporte de gafas está adaptado para sujetar por aprieto las gafas (5) entre tres primeras partes de contacto (41-43) y tres segundas partes de contacto (61-63); las primeras partes de contacto forman una referencia de altura para posicionar las gafas mientras que las segundas partes de contacto aseguran la aplicación de las gafas contra las primeras partes de contacto mientras se adaptan a cualquier forma posible de las gafas; el soporte se adecúa para ser incorporado en un aparato de medición de reflexión; en particular, es útil para la medición de la reflexión de gafas provistas de revestimientos antirreflectantes o para calificar una protección contra los peligros de la radiación UV que es proporcionada por unas gafas a un usuario de dichas gafas.
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公开(公告)号：MX2015014867A
公开(公告)日：2016-03-09
申请号：MX2015014867
申请日：2014-04-16
Applicant: ESSILOR INT
Inventor： ALLIONE PASCAL , GUEU STÉPHANE , GUILLOUX CYRIL , JEANNIN CHRISTOPHE , QUERE LOÏC
IPC: B29D11/00
Abstract: Método implementado por medios informáticos para controlar un dispositivo de fabricación utilizado en un proceso de fabricación de una lente óptica, comprendiendo el método: - una operación para proporcionar datos de una lente óptica, durante la cual se proporcionan datos de una lente óptica, los datos de la lente óptica representan los valores nominal y efectivo de al menos un parámetro de lente óptica de una lente óptica fabricada de acuerdo con un proceso de fabricación que utiliza un dispositivo de fabricación, - una operación para proporcionar datos de fabricación durante la cual se proporcionan datos de fabricación que identifican al menos el dispositivo de fabricación utilizado para fabricar la lente óptica, - una operación para determinar diferencias durante la cual se determina la diferencia entre los valores nominal y efectivo de al menos un parámetro de lente óptica de la lente óptica, - una operación para determinar el parámetro de dispositivo de fabricación durante la cual se determina un valor recomendado de un parámetro de fabricación del dispositivo de fabricación identificado por los datos de fabricación, el valor recomendado del parámetro de fabricación es determinado basándose en la diferencia entre los valores nominal y efectivo de al menos un parámetro de lente óptica.
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公开(公告)号：MX2014010784A
公开(公告)日：2015-04-17
申请号：MX2014010784
申请日：2013-03-08
Applicant: ESSILOR INT
Inventor： GUEU STÉPHANE , LAVILLONNIERE NICOLAS , MURADORE FABIEN , LAKHOUA ASMA
Abstract: El objeto de la presente invención es un método y un sistema para medir la estructura geométrica u óptica de un componente óptico; en particular, la invención se refiere a un método para medir la estructura geométrica de un componente limitado por un primer lado (10) y un segundo lado (20), comprendiendo dicho método las operaciones de: (S1) medir una primera señal (MS1) resultante de una primera conversión de una primera señal de sonda (PS1), por al menos dicho primer lado (10); (S2) medir una segunda señal (MS2) resultante de una segunda conversión de una segunda señal de sonda (PS2), por al menos dicho segundo lado (20); (S3) determinar una tercera conversión haciendo posible convertir un primer conjunto de coordenadas (R1) asociadas con la medición de la primera señal (MS1) a un segundo conjunto de coordenadas (R2) asociado con la medición de la segunda señal (MS2); (S10) estimar dicho primer lado (10) utilizando la primera señal (MS1), cuantificando dicha primera simulación y dicho primer criterio de coste (V1) una diferencia entre la estimación (ES1) y la primera señal (MS1); y (S20) estimar dicho segundo lado (20) utilizando la segunda señal (MS2), dicha segunda simulación, dicha tercera simulación y un segundo criterio de coste (V2) que cuantifica una diferencia entre la estimación (ES2) y la segunda señal (MS2).
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公开(公告)号：MX340995B
公开(公告)日：2016-08-02
申请号：MX2015007045
申请日：2012-12-04
Applicant: ESSILOR INT (COMPAGNIE GENERALE D'OPTIQUE)
Inventor： GUEU STÉPHANE , POPHILLAT OLIVIER
Abstract: Un soporte de gafas está adaptado para sujetar por aprieto las gafas (5) entre tres primeras partes de contacto (41-43) y tres segundas partes de contacto (61-63); las primeras partes de contacto forman una referencia de altura para posicionar las gafas mientras que las segundas partes de contacto aseguran la aplicación de las gafas contra las primeras partes de contacto mientras se adaptan a cualquier forma posible de las gafas; el soporte se adecúa para ser incorporado en un aparato de medición de reflexión; en particular, es útil para la medición de la reflexión de gafas provistas de revestimientos antirreflectantes o para calificar una protección contra los peligros de la radiación UV que es proporcionada por unas gafas a un usuario de dichas gafas.
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公开(公告)号：MX338853B
公开(公告)日：2016-05-02
申请号：MX2014010784
申请日：2013-03-08
Applicant: ESSILOR INT
Inventor： GUEU STÉPHANE , LAVILLONNIERE NICOLAS , MURADORE FABIEN , LAKHOUA ASMA
Abstract: El objeto de la presente invención es un método y un sistema para medir la estructura geométrica u óptica de un componente óptico; en particular, la invención se refiere a un método para medir la estructura geométrica de un componente limitado por un primer lado (10) y un segundo lado (20), comprendiendo dicho método las operaciones de: (S1) medir una primera señal (MS1) resultante de una primera conversión de una primera señal de sonda (PS1), por al menos dicho primer lado (10); (S2) medir una segunda señal (MS2) resultante de una segunda conversión de una segunda señal de sonda (PS2), por al menos dicho segundo lado (20); (S3) determinar una tercera conversión haciendo posible convertir un primer conjunto de coordenadas (R1) asociadas con la medición de la primera señal (MS1) a un segundo conjunto de coordenadas (R2) asociado con la medición de la segunda señal (MS2); (S10) estimar dicho primer lado (10) utilizando la primera señal (MS1), cuantificando dicha primera simulación y dicho primer criterio de coste (V1) una diferencia entre la estimación (ES1) y la primera señal (MS1); y (S20) estimar dicho segundo lado (20) utilizando la segunda señal (MS2), dicha segunda simulación, dicha tercera simulación y un segundo criterio de coste (V2) que cuantifica una diferencia entre la estimación (ES2) y la segunda señal (MS2).
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