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公开(公告)号：CA3109169A1
公开(公告)日：2020-04-02
申请号：CA3109169
申请日：2019-09-19
Applicant: ESSILOR INT
Inventor： LAVILLONNIERE NICOLAS , GIRAUDET GUILLAUME
Abstract: An ophthalmic device (10) is proposed for reducing dyslexia effects for a wearer (20), comprising: - a frame intended to be worn by the wearer (20), - a blinking illuminating element (14) coupled to the frame comprising at least one light source configured to emit light in front of the wearer's head so as to lighten a medium (18) observed by the wearer (20), said at least one light source being configured to be successively switched on and switched off at a predetermined frequency when the blinking illuminating element (14) is activated.
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公开(公告)号：FR2943427B1
公开(公告)日：2011-04-01
申请号：FR0951662
申请日：2009-03-17
Applicant: ESSILOR INT
Inventor： ALLIONE PASCAL , BEGON CEDRIC , LAVILLONNIERE NICOLAS , LADOUS AGNES
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公开(公告)号：AU2013229379B2
公开(公告)日：2016-11-24
申请号：AU2013229379
申请日：2013-03-08
Applicant: ESSILOR INT
Inventor： GUEU STEPHANE , LAVILLONNIERE NICOLAS , MURADORE FABIEN , LAKHOUA ASMA
Abstract: The subject of the present invention is a method and a system for measuring the geometric or optical structure of an optical component. In particular, the invention relates to a method for measuring the geometric structure of a component bounded by a first side (10) and a second side (20), said method comprising steps of: (S1) measuring a first signal (MS1) resulting from a first conversion of a first probe signal (PS1), by at least said first side (10); (S2) measuring a second signal (MS2) resulting from a second conversion of a second probe signal (PS2), by at least said second side (20); (S3) determining a third conversion making it possible to convert a first set of coordinates (R1) associated with the measurement of the first signal (MS1) to a second set of coordinates (R2) associated with the measurement of the second signal (MS2); (S10) estimating said first side (10) using the first signal (MS1), said first simulation and a first cost criterion (V1) quantifying a difference between the estimation (ES1) and the first signal (MS1); and (S20) estimating said second side (20) using the second signal (MS2), said second simulation, said third conversion and a second cost criterion (V2) quantifying a difference between the estimation (ES2) and the second signal (MS2).
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公开(公告)号：CA2972510A1
公开(公告)日：2016-07-07
申请号：CA2972510
申请日：2015-12-29
Applicant: ESSILOR INT (COMPAGNIE GENERALE D'OPTIQUE)
Inventor： BARRAU CORALIE , LAVILLONNIERE NICOLAS , VILLETTE THIERRY , ROUSSEAU BENJAMIN
IPC: G02C7/10
Abstract: Management system and method of an active device The invention relates to the field of management systems and methods of an active device and more particularly, with said active device being an active ophthalmic lens, to a management system and method which allow a total or sufficient protection by taking into account the luminous environment of the wearer while avoiding some effects relative to permanent light filtering. According to a particular embodiment of the invention, there is also provided a monitoring of the wearer's health via active, regulated and continuous control of the active device, this control being performed for instance by a health professional via a remote monitoring system.
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公开(公告)号：BRPI1014074A2
公开(公告)日：2016-04-12
申请号：BRPI1014074
申请日：2010-03-15
Applicant: ESSILOR INT
Inventor： LADOUS AGNÈS , BEGON CÉDRIC , LAVILLONNIERE NICOLAS , ALLIONE PASCAL
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：AU2013229379A1
公开(公告)日：2014-09-04
申请号：AU2013229379
申请日：2013-03-08
Applicant: ESSILOR INT
Inventor： GUEU STEPHANE , LAVILLONNIERE NICOLAS , MURADORE FABIEN , LAKHOUA ASMA
Abstract: The subject of the present invention is a method and a system for measuring the geometric or optical structure of an optical component. In particular, the invention relates to a method for measuring the geometric structure of a component bounded by a first side (10) and a second side (20), said method comprising steps of: (S1) measuring a first signal (MS1) resulting from a first conversion of a first probe signal (PS1), by at least said first side (10); (S2) measuring a second signal (MS2) resulting from a second conversion of a second probe signal (PS2), by at least said second side (20); (S3) determining a third conversion making it possible to convert a first set of coordinates (R1) associated with the measurement of the first signal (MS1) to a second set of coordinates (R2) associated with the measurement of the second signal (MS2); (S10) estimating said first side (10) using the first signal (MS1), said first simulation and a first cost criterion (V1) quantifying a difference between the estimation (ES1) and the first signal (MS1); and (S20) estimating said second side (20) using the second signal (MS2), said second simulation, said third conversion and a second cost criterion (V2) quantifying a difference between the estimation (ES2) and the second signal (MS2).
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公开(公告)号：EA019592B1
公开(公告)日：2014-04-30
申请号：EA201171134
申请日：2010-03-15
Applicant: ESSILOR INT
Inventor： ALLIONE PASCAL , BEGON CEDRIC , LAVILLONNIERE NICOLAS , LADOUS AGNES
Abstract: Способвырезаниянакладки, размещаемойнаизогнутойподложке (20), включающийпредварительныйрасчетизогнутыхотрезков (I, I, I, ...) наподложкемеждуопорнойточкой (О) ипериферийнымкраем (В) упомянутойподложки. Рассчитанныеотрезкипереносятсянаплоскуюпленку, предназначеннуюдляобразованиянакладки, затемнакладкавырезается, соединяяконцы (C, C, С,...) перенесенныхотрезков. Накладка, такимобразом, точносовмещаетсяс краемподложки. Такойспособособеннополезендляналоженияфункциональнойпленкиналинзыочков, таккакобработкалинзыпозаданномуконтурупосленаложенияпленкиналинзуиспортилабыпленку.
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公开(公告)号：MX338853B
公开(公告)日：2016-05-02
申请号：MX2014010784
申请日：2013-03-08
Applicant: ESSILOR INT
Inventor： GUEU STÉPHANE , LAVILLONNIERE NICOLAS , MURADORE FABIEN , LAKHOUA ASMA
Abstract: El objeto de la presente invención es un método y un sistema para medir la estructura geométrica u óptica de un componente óptico; en particular, la invención se refiere a un método para medir la estructura geométrica de un componente limitado por un primer lado (10) y un segundo lado (20), comprendiendo dicho método las operaciones de: (S1) medir una primera señal (MS1) resultante de una primera conversión de una primera señal de sonda (PS1), por al menos dicho primer lado (10); (S2) medir una segunda señal (MS2) resultante de una segunda conversión de una segunda señal de sonda (PS2), por al menos dicho segundo lado (20); (S3) determinar una tercera conversión haciendo posible convertir un primer conjunto de coordenadas (R1) asociadas con la medición de la primera señal (MS1) a un segundo conjunto de coordenadas (R2) asociado con la medición de la segunda señal (MS2); (S10) estimar dicho primer lado (10) utilizando la primera señal (MS1), cuantificando dicha primera simulación y dicho primer criterio de coste (V1) una diferencia entre la estimación (ES1) y la primera señal (MS1); y (S20) estimar dicho segundo lado (20) utilizando la segunda señal (MS2), dicha segunda simulación, dicha tercera simulación y un segundo criterio de coste (V2) que cuantifica una diferencia entre la estimación (ES2) y la segunda señal (MS2).
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公开(公告)号：CA2864866C
公开(公告)日：2020-07-07
申请号：CA2864866
申请日：2013-03-08
Applicant: ESSILOR INT
Inventor： GUEU STEPHANE , LAVILLONNIERE NICOLAS , MURADORE FABIEN , LAKHOUA ASMA
Abstract: La présente invention a pour objet un procédé et un système de mesure de la structure géométrique ou optique d'un composant optique. En particulier, l'invention concerne un procédé de mesure de la structure géométrique d'un composant délimité par une première face (10) et une deuxième face (20); ledit procédé comprenant les étapes de: - (S1) Mesure d'un premier signal (MS1) résultant d'une première transformation d'un premier signal sonde (PS1) par au moins ladite première face (10); - (S2) Mesure d'un deuxième signal (MS2) résultant d'une deuxième transformation d'un deuxième signal sonde (PS2) par au moins ladite deuxième face (20); - (S3) Détermination d'une troisième transformation permettant de passer d'un premier repère (R1) lié à la mesure du premier signal (MS1) à un deuxième repère (R2) lié à la mesure du deuxième signal (MS2); - (S10) Estimation de ladite première face (10) réalisée à partir du premier signal (MS1), de ladite première simulation et d'un premier critère de coût (V1) quantifiant un écart entre l'estimation (ES1) et le premier signal (MS1); - (S20) Estimation de ladite deuxième face (20) réalisée à partir du deuxième signal (MS2), de ladite deuxième simulation, de ladite troisième transformation et d'un deuxième critère de coût (V2) quantifiant un écart entre l'estimation (ES2) et le deuxième signal (MS2).
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公开(公告)号：MX2014010784A
公开(公告)日：2015-04-17
申请号：MX2014010784
申请日：2013-03-08
Applicant: ESSILOR INT
Inventor： GUEU STÉPHANE , LAVILLONNIERE NICOLAS , MURADORE FABIEN , LAKHOUA ASMA
Abstract: El objeto de la presente invención es un método y un sistema para medir la estructura geométrica u óptica de un componente óptico; en particular, la invención se refiere a un método para medir la estructura geométrica de un componente limitado por un primer lado (10) y un segundo lado (20), comprendiendo dicho método las operaciones de: (S1) medir una primera señal (MS1) resultante de una primera conversión de una primera señal de sonda (PS1), por al menos dicho primer lado (10); (S2) medir una segunda señal (MS2) resultante de una segunda conversión de una segunda señal de sonda (PS2), por al menos dicho segundo lado (20); (S3) determinar una tercera conversión haciendo posible convertir un primer conjunto de coordenadas (R1) asociadas con la medición de la primera señal (MS1) a un segundo conjunto de coordenadas (R2) asociado con la medición de la segunda señal (MS2); (S10) estimar dicho primer lado (10) utilizando la primera señal (MS1), cuantificando dicha primera simulación y dicho primer criterio de coste (V1) una diferencia entre la estimación (ES1) y la primera señal (MS1); y (S20) estimar dicho segundo lado (20) utilizando la segunda señal (MS2), dicha segunda simulación, dicha tercera simulación y un segundo criterio de coste (V2) que cuantifica una diferencia entre la estimación (ES2) y la segunda señal (MS2).
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