WERKZEUGSTEUERUNG MIT MEHRSTUFIGEM LSTM ZUR VORHERSAGE VON ON-WAFER-MESSUNGEN

    公开(公告)号:DE112020004837T5

    公开(公告)日:2022-07-07

    申请号:DE112020004837

    申请日:2020-09-09

    Applicant: IBM

    Abstract: Ein Verfahren zur Prozesssteuerung unter Verwendung von prädiktivem Long-Short-Term-Memory umfasst ein Erhalten historischer Nachprozess-Messungen, die an vorherigen Produkten des Herstellungsprozesses vorgenommen wurden; Erhalten historischer Inprozess-Messungen, die an vorherigen Werkstücken während des Herstellungsprozesses vorgenommen wurden; Trainieren eines neuronalen Netzes, um jede der historischen Nachprozess-Messungen als Reaktion auf die zugehörigen historischen Inprozess-Messungen und vorangegangene historische Nachprozess-Messungen vorherzusagen; Erhalten gegenwärtiger Inprozess-Messungen an einem gegenwärtigen Werkstück während des Herstellungsprozesses; Vorhersagen einer zukünftigen Nachprozess-Messung für das gegenwärtige Werkstück durch Bereitstellen der gegenwärtigen Inprozess-Messungen und der historischen Nachprozess-Messungen als Eingaben für das neuronale Netz; und Anpassen mindestens einer steuerbaren Variablen des Herstellungsprozesses als Reaktion auf die Vorhersage der zukünftigen Nachprozess-Messung.

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