System and method for cleaning tape drive, and tape cartridge
    1.
    发明专利
    System and method for cleaning tape drive, and tape cartridge 审中-公开
    清洁带驱动系统和方法及带盒

    公开(公告)号:JP2006079816A

    公开(公告)日:2006-03-23

    申请号:JP2005262260

    申请日:2005-09-09

    CPC classification number: G11B5/41

    Abstract: PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a system, a method, and a computer program for performing verification by reading information out of the data track and servo track of a cleaner tape by a tape drive when an input/output converter of the tape drive is cleaned. SOLUTION: A positive cleaning front coat section of the cleaner tape is used in order to provide a cleaning action and also provide cleanness of a data reading element, a data writing element, and a servo head. A cleaning section with small abrasiveness can be used in order to remove not so tough dirt. In this method, cleanness of the data reading element, data writing element, and servo head is verified. In a leading section of a self-characterizing section, the cleaning section is usable. In an alternative method, a data tape section may be included for self-characterizing. COPYRIGHT: (C)2006,JPO&NCIPI

    Abstract translation: 要解决的问题:提供一种系统,方法和计算机程序,用于当通过磁带驱动器的输入/输出转换器从磁带驱动器读取清除器磁带的数据轨道和伺服轨迹时执行验证 磁带机已清洁。 解决方案:为了提供清洁动作并且还提供数据读取元件,数据写入元件和伺服头的清洁度,使用清洁器带的正的清洁前涂层部分。 可以使用具有小磨损性的清洁部分,以便去除不那么严格的污垢。 在这种方法中,验证了数据读取元件,数据写入元件和伺服头的清洁度。 在自身特征部分的前导部分,清洁部分是可用的。 在替代方法中,可以包括用于自身表征的数据磁带部分。 版权所有(C)2006,JPO&NCIPI

    TMR-Kopf-Aufbau mit isolierenden Schichten zum Vermindern von Kurzschlüssen

    公开(公告)号:DE102016100042A1

    公开(公告)日:2016-07-07

    申请号:DE102016100042

    申请日:2016-01-04

    Applicant: IBM

    Abstract: Eine Vorrichtung gemäß einer Ausführungsform enthält eine Wandler-Struktur mit: einer unteren Abschirmung, in deren oberer Oberfläche sich Ausnehmungen befinden; einer oberen Abschirmung, die über der unteren Abschirmung gebildet ist; einem Sensor, bei dem ein Stromfluss senkrecht zur Ebene erfolgt, zwischen der oberen und der unteren Abschirmung, wobei die Ausnehmungen an gegenüberliegenden Seiten des Sensors ausgebildet sind; und einer ersten isolierenden Schicht in den Ausnehmungen in der oberen Oberfläche der unteren Abschirmung. Eine Vorrichtung gemäß einer weiteren Ausführungsform enthält eine Wandler-Struktur mit: einer unteren Abschirmung; einer oberen Abschirmung, die über der unteren Abschirmung gebildet ist, wobei die obere Abschirmung in ihrer unteren Oberfläche Ausnehmungen hat; einem Sensor, bei dem ein Stromfluss senkrecht zur Ebene erfolgt, zwischen der oberen und der unteren Abschirmung, wobei die Ausnehmungen an gegenüberliegenden Seiten des Sensors positioniert sind; und einer ersten isolierenden Schicht in der unteren Oberfläche der oben Abschirmung.

    Abriebtestverfahren und -vorrichtungen

    公开(公告)号:DE102013200213A1

    公开(公告)日:2013-09-05

    申请号:DE102013200213

    申请日:2013-01-10

    Applicant: IBM

    Abstract: Ein System gemäß einer Ausführungsform weist einen Träger zum Aufnehmen eines Moduls; einen Transportmechanismus zum Führen eines Bandes über eine Bandtragefläche des Moduls; und eine Messeinheit zum Messen eines Ausmaßes Abnutzung einer Beschichtung auf einer Bandtragefläche des Moduls auf. Ein Modul gemäß einer Ausführungsform weist einen Körper mit einer Bandtragefläche, wobei der Körper ein ungefähres Bandtrageflächenprofil und Abmessungen als ein Modul von Interesse aufweist; und eine Beschichtung auf der Bandtragefläche auf. Ein Verfahren gemäß einer Ausführungsform weist Messen einer anfänglichen Dicke auf einer Bandtragefläche eines Moduls in einem Träger; Führen eines Bandes über die Bandtragefläche; und Messen einer verbleibenden Dicke der Beschichtung, in Abständen auf.

Patent Agency Ranking